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公开(公告)号：CN103871478B
公开(公告)日：2018-08-10
申请号：CN201310665285.6
申请日：2013-12-10
Applicant: 德州仪器公司
IPC: G11C29/12
CPC classification number: G11C29/12 , G01R31/318519 , G01R31/318555 , G11C17/00 , G11C29/16 , G11C29/36 , G11C2029/0401
Abstract: 本申请案涉及一种嵌入式存储器测试系统。本发明涉及一种用于测试嵌入式存储器的可编程内建自测试pBIST系统，其中将需要不同测试条件的多个存储器并入于SOC中。存储测试设置数据的pBIST只读存储器经组织以消除针对类似嵌入式存储器的测试设置数据的多个实例。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103871479B
公开(公告)日：2018-08-28
申请号：CN201310689957.7
申请日：2013-12-09
Applicant: 德州仪器公司
IPC: G11C29/12
CPC classification number: G11C29/16 , G11C11/41 , G11C2029/0401
Abstract: 本申请案涉及一种嵌入式存储器测试系统。本发明涉及一种用于测试嵌入式存储器的可编程内建自测试pBIST系统，其中将所述受测试存储器并入于不与pBIST模块集成的多个子芯片中。在分布式数据记录架构中执行测试数据比较以使分布式数据记录器与所述pBIST之间的互连件的数目最小化。
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公开(公告)号：CN103871479A
公开(公告)日：2014-06-18
申请号：CN201310689957.7
申请日：2013-12-09
Applicant: 德州仪器公司
IPC: G11C29/12
CPC classification number: G11C29/16 , G11C11/41 , G11C2029/0401
Abstract: 本申请案涉及一种嵌入式存储器测试系统。本发明涉及一种用于测试嵌入式存储器的可编程内建自测试pBIST系统，其中将所述受测试存储器并入于不与pBIST模块集成的多个子芯片中。在分布式数据记录架构中执行测试数据比较以使分布式数据记录器与所述pBIST之间的互连件的数目最小化。
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公开(公告)号：CN103871478A
公开(公告)日：2014-06-18
申请号：CN201310665285.6
申请日：2013-12-10
Applicant: 德州仪器公司
IPC: G11C29/12
CPC classification number: G11C29/12 , G01R31/318519 , G01R31/318555 , G11C17/00 , G11C29/16 , G11C29/36 , G11C2029/0401
Abstract: 本发明涉及一种嵌入式存储器测试系统。本发明涉及一种用于测试嵌入式存储器的可编程内建自测试pBIST系统，其中将需要不同测试条件的多个存储器并入于SOC中。存储测试设置数据的pBIST只读存储器经组织以消除针对类似嵌入式存储器的测试设置数据的多个实例。
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公开(公告)号：CN103871477A
公开(公告)日：2014-06-18
申请号：CN201310665284.1
申请日：2013-12-10
Applicant: 德州仪器公司
IPC: G11C29/12
CPC classification number: G06F11/27 , G11C29/16 , G11C29/32 , G11C2029/0401
Abstract: 本申请案涉及一种嵌入式存储器测试系统。本发明涉及一种用于测试嵌入式存储器的可编程内建自测试pBIST系统，其中将所述受测试存储器并入于不与pBIST模块集成的多个子芯片中。将分布式数据记录器并入到每一子芯片中，所述分布式数据记录器经由串行及经压缩并行数据路径与所述pBIST通信。
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公开(公告)号：CN103871476A
公开(公告)日：2014-06-18
申请号：CN201310659144.3
申请日：2013-12-09
Applicant: 德州仪器公司
IPC: G11C29/12
CPC classification number: G11C29/12 , G11C5/147 , G11C29/12005 , G11C29/16 , G11C2029/0401
Abstract: 本发明涉及一种嵌入式存储器测试系统。本发明涉及一种用于测试嵌入式存储器的可编程内建自测试pBIST系统，其中所述存储器可在不同于所述pBIST的电压域的电压域下操作。使用多个缓冲寄存器及同步寄存器来避免由桥接所述各种电压域所需的电压移位器所引入的时间延迟而导致的亚稳条件。
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