基材的厚度控制
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104768883B

    公开(公告)日:2018-01-16

    申请号:CN201380058100.3

    申请日:2013-10-31

    CPC classification number: C03B17/064 C03B17/067 C03C23/0025

    Abstract: 对基材(例如玻璃基材)的至少一个预选定部分的厚度进行控制。将激光束导向处于粘性状态的基材的至少一个预选定部分,从而使得温度增加并使得所述处于粘性状态的基材的至少一个预选定部分的粘度降低至足以使得玻璃基材的至少一个预选定部分获得所需的厚度。可以在激光束产生后将其导向反射表面,激光束从该反射表面反射到所述处于粘性状态的基材的至少一个预选定部分。基材可以包括通过例如下拉玻璃成形过程生产的玻璃带,可以将激光束导向玻璃带的多个预选定部分上。

    测量玻璃板中缺陷的装置
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101652625A

    公开(公告)日:2010-02-17

    申请号:CN200880010234.7

    申请日:2008-02-07

    CPC classification number: G01B11/2441 G01B11/306

    Abstract: 一种在生产环境中、以大部分测量装置运动最少的方式测量大型、非平坦、镜面薄板的形貌结构的方法。使用安装了万向架的反射元件操控短相干长度的探针束,使得该探针束基本垂直于基板的局部表面。将该探针束和参考束组合,使用产生的干涉图案来表征该局部表面上的缺陷。

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