具有窄带的标记物
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102574405A

    公开(公告)日:2012-07-11

    申请号:CN201080046471.6

    申请日:2010-10-12

    CPC classification number: B41M3/14 B41M1/26 B41M3/144 B41M5/0041 G07D7/12

    Abstract: 本发明涉及一种标记物品的方法,其中使待标记物品与至少一种标记物接触,并且与所述物品接触的所述至少一种标记物的吸收光谱具有半高宽值为<1500cm-1且位于电磁谱的UV和/或可见和/或IR波长范围内的至少一个窄带。所述标记物选自有机染料、无机生色团或颜料。所述待标记物品包含纸、金属、玻璃、陶瓷材料或塑料。本发明进一步涉及一种检测物品上标记的方法,其包括以下步骤:标记所述物品,用包括与所述至少一种标记物的至少一个窄带至少部分重叠的波长范围的电磁辐射照射所述物品,任选地使所述至少一个窄带的位置进行改变,和测定包括与所述至少一种标记物的至少一个窄带至少部分重叠的波长范围的所述物品吸收。

    测定介质中化合物的同一性或不同性和浓度的方法

    公开(公告)号:CN101351688A

    公开(公告)日:2009-01-21

    申请号:CN200680050005.9

    申请日:2006-12-27

    Abstract: 本发明涉及一种检测至少一种含在介质(312)中的化合物V的方法。所述方法包括用于测定V是否含在介质(312)中的检验步骤(420)。所述方法另外包括测定至少一种化合物V的浓度c的分析步骤(424)。检验步骤包括如下子步骤:(a1)介质(312)曝露于可变波长λ的第一种分析辐射(316)下,其中波长λ假定为至少两个不同值;(a2)相应于第一种分析辐射(316),借助由介质(312)吸收和/或发射和/或反射和/或散射的辐射(324、326)产生至少一种谱响应函数A(λ);(a3)通过至少一种谱响应函数A(λ)与至少一种模式函数R(λ+δλ)比较形成至少一种谱关联函数K(δλ),其中至少一种模式函数R(λ)表示含化合物V的介质(312)的谱测量函数,δλ表示坐标位移;(a4)在模式识别步骤(418)中检查至少一种谱关联函数K(δλ),并且做出关于至少一种化合物V是否含在介质(312)中的结论;分析步骤(424)包括如下子步骤:(b1)介质(312)曝露于具有至少一种激发波长λEX的至少一种第二种分析辐射(318)下;(b2)与波长λEX的第二种分析辐射(318)响应,借助介质(312)吸收和/或发射和/或反射和/或散射的响应波长λEX的辐射(326)产生至少一种谱分析函数B(λEX,λRES)并由此导出浓度c。

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