一种金刚石微粉溢流循环分级方法

    公开(公告)号:CN105498944A

    公开(公告)日:2016-04-20

    申请号:CN201510853665.1

    申请日:2015-11-27

    IPC分类号: B03B5/66

    CPC分类号: B03B5/66

    摘要: 本发明公开了一种金刚石微粉溢流循环分级方法,属于金刚石生产技术领域。解决了现有技术生产效率低、粒径分布大、杂质含量高的缺陷,其步骤包括(1)恒压供水系统:设定溢流水压和流量恒压供水;(2)溢流分级系统:金刚石微粉溢流分级;(3)沉淀储水系统:沉淀分级得所需要粒径的金刚石微粉。本发明方法生产效率高,人为因素干扰少,所生产的金刚石微粉粒度分布集中,颗粒均匀,杂质少。

    半导体用高纯碳化硅微粉的提纯方法

    公开(公告)号:CN105948055B

    公开(公告)日:2017-12-22

    申请号:CN201610370116.3

    申请日:2016-05-30

    IPC分类号: C01B32/956

    摘要: 本发明公开了一种半导体用高纯碳化硅微粉的提纯方法,属于碳化硅微粉生产技术领域。解决了现有技术生产的碳化硅微粉杂质含量较高,提纯难度大的问题。其包括以下步骤:(1)调浆:将研磨好的碳化硅微粉投入搅拌桶内,加去离子水调节料浆浓度;(2)酸洗:加入质量分数为98%的硫酸;(3)加温搅拌:将料浆加热至40‑80℃,并搅拌陈腐;(4)加混合酸:在陈腐好的料浆中加入混合酸;(5)加温搅拌:将加入混合酸后的料浆加热至50‑80℃,搅拌、陈腐;(6)冲洗:将陈腐后的物料打入压滤机内用去离子水冲洗至pH值为5‑6.5,即得产品。本发明方法适合提纯半导体用高纯碳化硅微粉。

    一种碳化硅微粉的回收方法

    公开(公告)号:CN106335902A

    公开(公告)日:2017-01-18

    申请号:CN201610717361.7

    申请日:2016-08-24

    IPC分类号: C01B32/956

    CPC分类号: C01P2006/40 C01P2006/80

    摘要: 本发明公开了一种碳化硅微粉的回收方法,属于碳化硅生产技术领域。解决了现有技术污染大、产能小,产品含量低,细分含量高的问题。其包括以下步骤:将回收料进行煅烧;将煅烧后原料与水混合拌浆,进入旋流器旋流;将旋流后料浆充分搅拌后,打入酸泡桶,加硫酸浸泡后利用真空过滤机进行脱酸;将脱酸后料浆调浆后充分搅拌,加入氢氧化钠进行碱洗除杂,然后利用真空过滤机进行脱碱,得碱洗后浆料;将碱洗后浆料用泵打入水分投料桶,搅拌充分后打入锥形分级溢流桶,进行水力分级,获得分号后产品;对分号后产品按型号分别脱水、烘干;把烘干后产品投入混料机进行混料,粒度均匀后分别过筛即可。本发明可用于碳化硅微粉的回收。

    线切割刃料中碳化硅微粉大颗粒的检查方法

    公开(公告)号:CN105004642A

    公开(公告)日:2015-10-28

    申请号:CN201510344987.3

    申请日:2015-06-19

    IPC分类号: G01N15/02

    摘要: 本发明是一种线切割刃料中碳化硅微粉大颗粒的检查方法,包含如下操作步骤:a.现场取样,取样标准参照GB/T4676-2003;b.水筛筛分:对筛上余料进行收集,筛上余料盛放在陶瓷坩埚内;其中,水筛时使用去离子水或软化水;c.筛余烘干灼烧:对坩埚内的筛余进行烘干;将烘干后的筛余物料在高温下灼烧;d.筛余粒度检测:灼烧后的筛余用库尔特进行检查。本发明线切割刃料中碳化硅微粉大颗粒的检查方法,该方法成本低,通用性强,能够在各企业内迅速普及使用,并以此为基础起到指导生产、提高品质、进而满足超越客户要求。

    一种检测碳化硅中氧含量的方法

    公开(公告)号:CN106290809A

    公开(公告)日:2017-01-04

    申请号:CN201610717325.0

    申请日:2016-08-24

    IPC分类号: G01N33/38 G01N1/28 G01N1/34

    摘要: 本发明公开了一种检测碳化硅中氧含量的方法,属于碳化硅陶瓷生产领域。其包括以下步骤:将碳化硅微粉试样过筛后干燥;以镍丝为助熔剂,在混合酸中浸洗;测定干燥后碳化硅微粉试样的比表面积;选取镍囊作为碳化硅微粉试样的包裹体;分析镍丝和镍囊的氧含量作为背景值扣除;选取钢铁生产用粒状钢铁含氧标准样品,建立标准样品工作曲线;将镍囊压扁密实后利用氧氮分析仪分析2-5次;根据标准样品工作曲线,将钢铁含氧标准样品与压扁密实后的镍囊分析2-5次;称取碳化硅微粉试样加入镍囊中,采用压样机压样后利用氧氮分析仪分析2-5次,确保结果平行性后,将平均值记录为碳化硅微粉试样的含氧量。本发明方法可用于检测碳化硅含氧量。

    半导体用高纯碳化硅微粉的提纯方法

    公开(公告)号:CN105948055A

    公开(公告)日:2016-09-21

    申请号:CN201610370116.3

    申请日:2016-05-30

    IPC分类号: C01B31/36

    CPC分类号: C01P2006/80

    摘要: 本发明公开了一种半导体用高纯碳化硅微粉的提纯方法,属于碳化硅微粉生产技术领域。解决了现有技术生产的碳化硅微粉杂质含量较高,提纯难度大的问题。其包括以下步骤:(1)调浆:将研磨好的碳化硅微粉投入搅拌桶内,加去离子水调节料浆浓度;(2)酸洗:加入质量分数为98%的硫酸;(3)加温搅拌:将料浆加热至40‑80℃,并搅拌陈腐;(4)加混合酸:在陈腐好的料浆中加入混合酸;(5)加温搅拌:将加入混合酸后的料浆加热至50‑80℃,搅拌、陈腐;(6)冲洗:将陈腐后的物料打入压滤机内用去离子水冲洗至pH值为5‑6.5,即得产品。本发明方法适合提纯半导体用高纯碳化硅微粉。

    陶瓷级碳化硅微粉的制备方法

    公开(公告)号:CN104925811A

    公开(公告)日:2015-09-23

    申请号:CN201510345843.X

    申请日:2015-06-19

    摘要: 本发明涉及一种陶瓷级碳化硅微粉的制备方法,超细磨前利用浮选分离游离碳,采用脉动高梯度强磁选机除去铁矿物,加烧碱处理除去单质硅和游离硅,细磨后用混合酸进一步降低铁含量,得到杂质含量合格的产品。本发明制备方法简单,操作方便,提高陶瓷级碳化硅微粉中SIC的含量,提高干式气流粉碎袋收尘产品的附加值,陶瓷级碳化硅微粉的制备方法提高陶瓷级碳化硅的烧结质量,安全环保。

    一种金刚石微粉的生产方法

    公开(公告)号:CN105271218A

    公开(公告)日:2016-01-27

    申请号:CN201510710309.4

    申请日:2015-10-28

    IPC分类号: C01B31/06

    摘要: 本发明公开了一种金刚石微粉的生产方法,属于金刚石磨料生产领域。解决了现有金刚石微粉杂质含量高,强度低的问题,其包括以下步骤:破碎,整形,提纯,粗分级,精分级,离心干燥得成品。本发明提供了一种含量高、粒度集中、粒型规则的金刚石微粉的生产方法,提高了金刚石微粉品质,满足了精密器件的加工用料要求。