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公开(公告)号:CN118899363A
公开(公告)日:2024-11-05
申请号:CN202410845987.0
申请日:2024-06-27
申请人: 宁波大学 , 北京铭镓半导体有限公司
IPC分类号: H01L31/18 , H01L31/032 , H01L31/0352 , H01L31/0224 , H01L31/0236 , H01L31/102 , H01L27/144 , B33Y10/00 , B33Y30/00 , B33Y80/00 , H01L21/67
摘要: 本发明公开了一种全角度光电探测器的制备方法、装置及全角度光电探测器。方法包括:在SiO2基板上旋涂光刻胶;采用飞秒激光双光子3D打印技术在光刻胶SiO2板上制造出圆柱体阵列;采用干法刻蚀机对光刻胶阵列SiO2板进行图形转移,将光刻胶上的图形转移到SiO2基板上;去除图形化光刻胶阵列SiO2板中的光刻胶,并进行薄膜沉积;使用飞秒激光双光子3D打印技术在带有薄膜的图形化阵列SiO2板上制作电极掩膜;对第一图形化电极阵列SiO2板进行金属银沉积,形成带有金属银薄膜的第二图形化电极阵列SiO2板;对第二图形化电极阵列SiO2板进行杂质去除,生成图形化器件阵列的全角度光电探测器。