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公开(公告)号：CN111813432A
公开(公告)日：2020-10-23
申请号：CN202010485275.4
申请日：2020-06-01
Applicant: 大唐微电子技术有限公司
Abstract: 本发明公开了一种现场可编程门阵列FPGA配置升级方法，包括：FPGA加载非易失性存储器FLASH的第一存储区所包含的自动装载逻辑数据；执行所述自动装载逻辑数据，对所述FLASH的第二存储区进行数据擦除后，获取新的应用配置数据；将所述新的应用配置数据写入所述FLASH的第二存储区。本发明还公开了一种现场可编程门阵列FPGA平台。
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公开(公告)号：CN110083814A
公开(公告)日：2019-08-02
申请号：CN201910281461.3
申请日：2019-04-09
Applicant: 大唐微电子技术有限公司
Abstract: 本申请公开了一种报表生成方法和装置、计算机可读存储介质，所述方法包括接收报表参数和报表模板，根据所述报表参数和报表模板生成数据库查询语句；根据所述报表参数建立数据库连接，执行所述数据库查询语句以提取数据库数据；对提取的数据库数据进行运算转换处理，对处理后数据选择报表展示格式并填入报表模板，以生成报表进行展示。本申请通过设置报表模板，可以根据需要选择不同的报表模板，对处理后数据选择报表展示格式并填入报表模板，可以快速地生成规范统一的报表。
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公开(公告)号：CN104503878B
公开(公告)日：2017-01-04
申请号：CN201510009323.1
申请日：2015-01-08
Applicant: 大唐微电子技术有限公司
Abstract: 本发明提供一种智能卡兼容性测试装置及方法。该智能卡兼容性测试装置，包括：机械手、旋转柱和底部装置；其中，旋转柱设置在机械手的下方；底部装置分别与旋转柱与机械手连接，用于控制机械手相对于旋转柱上下移动，并控制旋转柱以垂直于地面的中轴线为中心旋转，以使机械手和旋转柱对放置在旋转柱上的智能卡进行兼容性测试。实现了对非接触式智能卡进行自动的兼容性测试，从而提高了测试效率。
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公开(公告)号：CN104503878A
公开(公告)日：2015-04-08
申请号：CN201510009323.1
申请日：2015-01-08
Applicant: 大唐微电子技术有限公司
Abstract: 本发明提供一种智能卡兼容性测试装置及方法。该智能卡兼容性测试装置，包括：机械手、旋转柱和底部装置；其中，旋转柱设置在机械手的下方；底部装置分别与旋转柱与机械手连接，用于控制机械手相对于旋转柱上下移动，并控制旋转柱以垂直于地面的中轴线为中心旋转，以使机械手和旋转柱对放置在旋转柱上的智能卡进行兼容性测试。实现了对非接触式智能卡进行自动的兼容性测试，从而提高了测试效率。
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公开(公告)号：CN111813432B
公开(公告)日：2024-10-08
申请号：CN202010485275.4
申请日：2020-06-01
Applicant: 大唐微电子技术有限公司
Abstract: 本发明公开了一种现场可编程门阵列FPGA配置升级方法，包括：FPGA加载非易失性存储器FLASH的第一存储区所包含的自动装载逻辑数据；执行所述自动装载逻辑数据，对所述FLASH的第二存储区进行数据擦除后，获取新的应用配置数据；将所述新的应用配置数据写入所述FLASH的第二存储区。本发明还公开了一种现场可编程门阵列FPGA平台。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112800789A
公开(公告)日：2021-05-14
申请号：CN202110034869.8
申请日：2021-01-12
Applicant: 大唐微电子技术有限公司
IPC: G06K7/10
Abstract: 本申请实施例公开了一种干扰信号的检测系统和方法。所述系统包括：读写器和非接触式智能卡；其中，读写器包括依次相连的主控单元、射频模拟前端模块和感应天线模块；其中智能卡包括标签模块和智能卡线圈；其中：主控单元输出命令信息的数字信号；射频模拟前端模块将命令信息的数字信号调制成第一射频信号，并通过感应天线模块发送；标签模块从第一射频信号解调出命令信息的数字信号，并通过智能卡线圈与感应天线模块耦合发送至射频模拟前端模块；射频模拟前端模块对接收到的第二射频信号进行解调操作，得到解调结果，并将解调结果发送给主控单元；主控单元通过判断是否能够正确识别解调结果，确定读写器与智能卡之间是否存在干扰信号。
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公开(公告)号：CN102830300B
公开(公告)日：2015-06-17
申请号：CN201210277254.9
申请日：2012-08-06
Applicant: 大唐微电子技术有限公司
Inventor： 熊伟
Abstract: 本发明披露了实现非接触式智能卡芯片的测试系统及方法，其中方法包括：主控单元向射频模拟前端模块输出命令信息的数字信号；射频模拟前端模块将输入的命令信息的数字信号调制到射频信号中，并传输给匹配网络电路模块；匹配网络电路模块根据射频信号对射频模拟前端模块和待测模块进行阻抗匹配后，将射频信号发送给待测模块；待测模块从接收到的射频信号中还原出所述命令信息的数字信号。本发明只需在射频模拟前端与待测模块之间进行阻抗匹配，这样能使得射频部分面积减小并简化了系统，并且可对外部强磁场环境的干扰较好地进行抑制，从而提升了测试工装的整体性能。
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公开(公告)号：CN102830300A
公开(公告)日：2012-12-19
申请号：CN201210277254.9
申请日：2012-08-06
Applicant: 大唐微电子技术有限公司
Inventor： 熊伟
Abstract: 本发明披露了实现非接触式智能卡芯片的测试系统及方法，其中方法包括：主控单元向射频模拟前端模块输出命令信息的数字信号；射频模拟前端模块将输入的命令信息的数字信号调制到射频信号中，并传输给匹配网络电路模块；匹配网络电路模块根据射频信号对射频模拟前端模块和待测模块进行阻抗匹配后，将射频信号发送给待测模块；待测模块从接收到的射频信号中还原出所述命令信息的数字信号。本发明只需在射频模拟前端与待测模块之间进行阻抗匹配，这样能使得射频部分面积减小并简化了系统，并且可对外部强磁场环境的干扰较好地进行抑制，从而提升了测试工装的整体性能。
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公开(公告)号：CN112800789B
公开(公告)日：2024-07-12
申请号：CN202110034869.8
申请日：2021-01-12
Applicant: 大唐微电子技术有限公司
IPC: G06K7/10
Abstract: 本申请实施例公开了一种干扰信号的检测系统和方法。所述系统包括：读写器和非接触式智能卡；其中，读写器包括依次相连的主控单元、射频模拟前端模块和感应天线模块；其中智能卡包括标签模块和智能卡线圈；其中：主控单元输出命令信息的数字信号；射频模拟前端模块将命令信息的数字信号调制成第一射频信号，并通过感应天线模块发送；标签模块从第一射频信号解调出命令信息的数字信号，并通过智能卡线圈与感应天线模块耦合发送至射频模拟前端模块；射频模拟前端模块对接收到的第二射频信号进行解调操作，得到解调结果，并将解调结果发送给主控单元；主控单元通过判断是否能够正确识别解调结果，确定读写器与智能卡之间是否存在干扰信号。
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公开(公告)号：CN203025317U
公开(公告)日：2013-06-26
申请号：CN201220460047.2
申请日：2012-09-10
Applicant: 大唐微电子技术有限公司
Inventor： 熊伟
IPC: G01R31/28
Abstract: 一种非接触智能卡芯片的测试装置，涉及非接触式智能卡芯片测试领域，解决了现有技术对测试仪的硬件资源有较高要求，测试系统成本较高的问题。所述测试装置包括数字逻辑控制单元、信号调理单元和射频单元，数字逻辑控制单元对计算机传送的功能指令进行解析获得测试向量参数和命令信息，并对所述命令信息进行编码，并发送至信号调理单元；信号调理单元根据测试向量参数产生两路电压信号；并根据命令信息对两路电压信号进行调制为射频单元提供供电电压，射频单元向待测芯片发送加载信号Vpp，并接收待测芯片返回数据并进行解调，将解调后的数据发送至数字逻辑控制单元。本实用新型可以不依靠测试仪满足测试的需求，极大降低了整个测试系统的成本。
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