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公开(公告)号：CN118443162A
公开(公告)日：2024-08-06
申请号：CN202410923850.2
申请日：2024-07-11
Applicant: 北京东方计量测试研究所 , 哈尔滨工业大学
Abstract: 霍尔推力器通道壁面在轨沉积监测方法及装置，涉及航天器设备监测技术领域。为解决现有技术中存在的，现有的实时监测霍尔推力器通道壁面侵蚀的方法，只能间接监测通道壁面的侵蚀情况，无法直接观测到壁面的沉积状态的技术问题，本发明提供的技术方案为：方法包括：采集霍尔推力器通道壁面的图像信息的步骤；得到图像信息中各个预设点的温度的步骤；根据各个预设点的温度，得到霍尔推力器通道壁面的热辐射功率的步骤；采集霍尔推力器通道壁面的热传导功率的步骤；根据霍尔推力器通道壁面的热辐射功率和热传导功率，得到霍尔推力器通道壁面因沉积获得的热量的功率的步骤。可以应用于监测霍尔推力器通道壁面的沉积状态。
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公开(公告)号：CN117420120B
公开(公告)日：2024-04-09
申请号：CN202311743366.3
申请日：2023-12-19
Applicant: 哈尔滨工业大学 , 北京东方计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种等离子体化学反应中间产物的脉冲光电探针监测装置，涉及等离子体诊断技术领域，解决了现有等离子体光学诊断方法信噪比低、无法检测不发光物质、设备昂贵、灵敏性差的问题。本发明包括放电圆环、支撑装置、绝缘管、导电线和光纤，光纤表面设置有导电涂层，导电涂层与外部设备连接；光纤外部套装有绝缘管；光纤头部的导电涂层上开设有光学窗口，另一端和外部设备连接；光纤上对应光学窗口的位置处设置有放电圆环；放电圆环与地线连接。本发明通过通过控制放电结构内的电子参数，对探针头部位置的物质进行不同程度激发，当中间产物被激发为可荧光激发态后，发光被光学窗口采集并传输至光谱仪，实现对多种不发光中间产物进行探测。
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公开(公告)号：CN117425260B
公开(公告)日：2024-04-19
申请号：CN202311743460.9
申请日：2023-12-19
Applicant: 哈尔滨工业大学 , 北京东方计量测试研究所
Abstract: 本发明提出了等离子体推进器羽流激发态离子速度分布的光谱监测方法；属于光谱诊断测试技术领域，首先，将根光纤通过升降光学支架沿轴向排列，以测量等离子体推进器羽流区数据；再将光纤连接光谱仪测量氙离子的一价态谱线，反演还原出光纤其各自位置的氙原子谱线强度；根据反演出的光纤的氙原子谱线强度；计算得出羽流中激发态离子速度分布情况；本发明利用光谱测量可以直观准确的反应等离子体推进器羽流区域内的实际离子速度分布函数，准确测量离子速度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118443162B
公开(公告)日：2024-09-03
申请号：CN202410923850.2
申请日：2024-07-11
Applicant: 北京东方计量测试研究所 , 哈尔滨工业大学
Abstract: 霍尔推力器通道壁面在轨沉积监测方法及装置，涉及航天器设备监测技术领域。为解决现有技术中存在的，现有的实时监测霍尔推力器通道壁面侵蚀的方法，只能间接监测通道壁面的侵蚀情况，无法直接观测到壁面的沉积状态的技术问题，本发明提供的技术方案为：方法包括：采集霍尔推力器通道壁面的图像信息的步骤；得到图像信息中各个预设点的温度的步骤；根据各个预设点的温度，得到霍尔推力器通道壁面的热辐射功率的步骤；采集霍尔推力器通道壁面的热传导功率的步骤；根据霍尔推力器通道壁面的热辐射功率和热传导功率，得到霍尔推力器通道壁面因沉积获得的热量的功率的步骤。可以应用于监测霍尔推力器通道壁面的沉积状态。
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公开(公告)号：CN117425260A
公开(公告)日：2024-01-19
申请号：CN202311743460.9
申请日：2023-12-19
Applicant: 哈尔滨工业大学 , 北京东方计量测试研究所
Abstract: 本发明提出了等离子体推进器羽流激发态离子速度分布的光谱监测方法；属于光谱诊断测试技术领域，首先，将根光纤通过升降光学支架沿轴向排列，以测量等离子体推进器羽流区数据；再将光纤连接光谱仪测量氙离子的一价态谱线，反演还原出光纤其各自位置的氙原子谱线强度；根据反演出的光纤的氙原子谱线强度；计算得出羽流中激发态离子速度分布情况；本发明利用光谱测量可以直观准确的反应等离子体推进器羽流区域内的实际离子速度分布函数，准确测量离子速度。
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公开(公告)号：CN117420120A
公开(公告)日：2024-01-19
申请号：CN202311743366.3
申请日：2023-12-19
Applicant: 哈尔滨工业大学 , 北京东方计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种等离子体化学反应中间产物的脉冲光电探针监测装置，涉及等离子体诊断技术领域，解决了现有等离子体光学诊断方法信噪比低、无法检测不发光物质、设备昂贵、灵敏性差的问题。本发明包括放电圆环、支撑装置、绝缘管、导电线和光纤，光纤表面设置有导电涂层，导电涂层与外部设备连接；光纤外部套装有绝缘管；光纤头部的导电涂层上开设有光学窗口，另一端和外部设备连接；光纤上对应光学窗口的位置处设置有放电圆环；放电圆环与地线连接。本发明通过通过控制放电结构内的电子参数，对探针头部位置的物质进行不同程度激发，当中间产物被激发为可荧光激发态后，发光被光学窗口采集并传输至光谱仪，实现对多种不发光中间产物进行探测。
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公开(公告)号：CN117826727A
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN202410003321.0
申请日：2024-01-02
Applicant: 北京东方计量测试研究所 , 北京卫星制造厂有限公司
IPC: G05B19/418
Abstract: 本发明涉及基于边缘计算的表面处理设备自主健康管理系统，包括关联同步采集模块、特征值提取模块、设备健康状态算法模块和故障预警及紧急制动模块。本发明通过多关联参数的采集、特征值提取、健康状态算法，同时采用本地边缘计算，提高设备故障问题分析的准确性，实时性与可靠性。
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公开(公告)号：CN116448280A
公开(公告)日：2023-07-18
申请号：CN202310271434.4
申请日：2023-03-20
Applicant: 北京东方计量测试研究所 , 中国空气动力研究与发展中心设备设计与测试技术研究所
IPC: G01K15/00
Abstract: 本发明涉及一种恒温腔，包括：外部保护层(9)、中间隔热层(10)、内部恒温层(15)、压力控制管(7)和波纹管(8)，外部保护层(9)和中间隔热层(10)采用上下两段式封闭结构，外部保护层(9)为双层结构；内部恒温层(15)设置于中间隔热层(10)内的底部，中间隔热层(10)设置于外部保护层(9)内；压力控制管(7)设置于外部保护层(9)的上部；波纹管依次连接压力控制管、中间隔热层和内部恒温层；外部保护层的双层结构内、外部保护层和中间隔热层之间以及中间隔热层和内部恒温层之间均抽为真空，工作时内部恒温层内注入氦气。该恒温腔可以减小内外热辐射和上下温度梯度，抑制温度波动，提升温度均匀性。
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