基于辐射光谱及红外成像的等离子体探针阵列校准方法

    公开(公告)号:CN118829059A

    公开(公告)日:2024-10-22

    申请号:CN202410877286.5

    申请日:2024-07-02

    Abstract: 本发明为等离子体探针校准领域,提供基于辐射光谱及红外成像的等离子体探针阵列校准方法。测量探针阵列的表面温度,使用探针阵列测量稳定运行的霍尔推进器的羽流参数,得到此时探针阵列收集到的伏安特性曲线。再使用红外成像仪测量探针阵列的表面温度,得到探针受轰击加热的温度差。结合探针表面的二次电子发射系数,便计算出二次电流值。结合探针本身测量得到的离子电流值,对电子电流值进行修正,得到真实的伏安特性曲线,计算出准确的电子温度密度。使用光谱仪通过光谱测量此时的电子温度电子密度,与修改后的探针测量的电子温度电子密度进行对比,实现对等离子体探针阵列进行校准。用以解决探针测量结果缺乏校准,准确度难以评定的问题。

    一种等离子体侵蚀痕量产物在线监测装置及方法

    公开(公告)号:CN117420083B

    公开(公告)日:2024-04-09

    申请号:CN202311743392.6

    申请日:2023-12-19

    Abstract: 一种等离子体侵蚀痕量产物在线监测装置及方法,涉及等离子体光谱测试技术领域,解决的技术问题为“如何进行等离子体推进器工部件侵蚀痕量产物监测”,该装置包括金属屏蔽罩,以及设置于所述金属屏蔽罩内部的第一凸透镜、第一反射镜、分光棱镜、第二凸透镜、光栅以及第二反射镜,以及设置于所述金属屏蔽罩外部的光电倍增管和分析处理设备;所述金属屏蔽罩侧壁上固定有入射光狭缝和出射光狭缝,所述出射光狭缝与所述光电倍增管连接,所述光电倍增管与所述分析处理设备连接;该装置及方法设计了光谱仪设备对痕量产物谱线光强进行监测,建立痕量物质辐射谱线强度和光强信号波动关系,以获得痕量产物绝对密度,可靠性高,监测灵敏。

    霍尔推力器通道壁面在轨沉积监测方法及装置

    公开(公告)号:CN118443162A

    公开(公告)日:2024-08-06

    申请号:CN202410923850.2

    申请日:2024-07-11

    Abstract: 霍尔推力器通道壁面在轨沉积监测方法及装置,涉及航天器设备监测技术领域。为解决现有技术中存在的,现有的实时监测霍尔推力器通道壁面侵蚀的方法,只能间接监测通道壁面的侵蚀情况,无法直接观测到壁面的沉积状态的技术问题,本发明提供的技术方案为:方法包括:采集霍尔推力器通道壁面的图像信息的步骤;得到图像信息中各个预设点的温度的步骤;根据各个预设点的温度,得到霍尔推力器通道壁面的热辐射功率的步骤;采集霍尔推力器通道壁面的热传导功率的步骤;根据霍尔推力器通道壁面的热辐射功率和热传导功率,得到霍尔推力器通道壁面因沉积获得的热量的功率的步骤。可以应用于监测霍尔推力器通道壁面的沉积状态。

    一种推进器羽流离子能谱空间分布的测量装置和方法

    公开(公告)号:CN117425259B

    公开(公告)日:2024-04-23

    申请号:CN202311743457.7

    申请日:2023-12-19

    Abstract: 本发明提出了一种推进器羽流离子能谱空间分布的测量装置和方法,属于航空航天技术领域,通过在羽流中设置特殊设计的长条形滞止能量分析器(Bar‑shape retarding potential analyzer,BRPA),通过对该羽流BRPA分析器进行平移与旋转,获得该断面的扫描电压‑收集电流的投影数据,并通过滤波反投影法获得该平面每个点扫描电压‑收集电流分布。通过将长条形装置沿推力器轴向平移并重复上述过程,获得羽流中的羽流离子能谱三维空间分布;本发明相比于一般的单个滞止势探针(Retarding potential analyzer,RPA),具有空间分辨率高,测试范围广的明显优点,相比于RPA探针阵列,能够大幅简化电路和布线,且具有明显的简单快捷的优势。

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