一种干涉线光谱共焦测量结构
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119509382A

    公开(公告)日:2025-02-25

    申请号:CN202411623052.4

    申请日:2024-11-14

    Abstract: 本发明提供了一种干涉线光谱共焦测量结构,包括线光源、分光棱镜、色散棱镜、色散物镜、光谱解调模块,所述线光源用于产生条形窄光源,所述分光棱镜为偏振不敏感棱镜,将条形光源等分到两个互相垂直光路,条形光随后被所述色散棱镜进行轴外色散,并被所述色散物镜进行轴向色散,最终形成垂直于水平的照射面,两个光路的照明面互相干涉增强,并再次沿着对称的光路返回并进入所述的光谱解调系统,光谱解调系统由所述色散棱镜及色散物镜组成,可实现高度与位置的高度线性,同时,该装置可对探测信号宽度进行高度压缩,可同时提高装置的测量精度和重复性。

    一种基于滑动窗口的拉曼光谱基线分段多项式拟合方法

    公开(公告)号:CN118245732A

    公开(公告)日:2024-06-25

    申请号:CN202410346450.X

    申请日:2024-03-26

    Abstract: 本发明涉及一种基于滑动窗口的拉曼光谱基线分段多项式拟合方法,属于光谱分析技术领域;本发明利用初步多项式拟合获取相较于基线变化剧烈的典型拉曼谱峰,以滑动窗口端点与各典型拉曼谱峰峰值位置距离为依据,实现滑动窗口自适应宽度选取,将原始光谱从左向右分为小段依次进行基线拟合,有效避免了经典多项式拟合方法中容易出现的过拟合、欠拟合现象,提升了拉曼谱线提取的准确性,同时减小了基线拟合所需迭代次数与拟合多项式阶数,大幅提高了基线拟合速度;本发明可广泛应用于各类化工样品与生物样品的拉曼光谱背景基线自动化校正。

    基于数学成像理论和生成对抗网络的显微图像超分辨方法

    公开(公告)号:CN114897693A

    公开(公告)日:2022-08-12

    申请号:CN202210494049.1

    申请日:2022-05-01

    Abstract: 本发明涉及一种基于数学成像理论和生成对抗网络的显微图像超分辨方法,属于图像处理和计算机视觉领域;基于宽场显微镜和共焦显微镜两者的成像模型,本发明提出了一种利用数学理论和改进的超分辨率生成对抗网络预测高分辨率显微图像方法,利用精确推导的点扩散函数仿真生成高、低分辨率图像对作为网络训练所需的数据集,无需图像配准。在网络设计部分,结合U‑Net和残差网络,提出一种改进型生成对抗网络,重新定义了网络中的生成器和判别器。其中生成器采用4层卷积网络和跳跃连接结构组成的16个残差模块结构采集图像细节,判别器通过加深CNN层和融合特征映射进行优化,解决判别器难以判断生成的预测图像是否真实的问题。

    基于两阶段检测网络的显示面板微缺陷检测方法

    公开(公告)号:CN113657539A

    公开(公告)日:2021-11-16

    申请号:CN202110979004.9

    申请日:2021-08-25

    Abstract: 本发明涉及显示面板缺陷检测技术领域,其公开了一种基于两阶段检测网络的显示面板微缺陷检测方法,所述检测方法包括以下步骤:(1)使用加权特征融合网络和GA‑RPN方法改进网络结构;(2)使用Mosaic数据增强方法扩充数据集,以提高模型对少样本和小缺陷的处理能力,将数据增强后的训练集输入基于加权特征融合Faster R‑CNN网络进行训练,继而得到针对面板缺陷数据集的模型参数;(3)将有缺陷面板图像输入基于加权特征融合的Faster R‑CNN网络模型,进行模型评估与测试。本发明通过加权特征融合方法,有效增强了深层特征和浅层特征的联系,并通过可学习权重参数提升模型对不同背景的适应能力,使用GA‑RPN方法在减少锚框数目的同时有效提升了缺陷检测准确率。

    基于编码孔径和空间光调制器的物体相位恢复方法

    公开(公告)号:CN109410153B

    公开(公告)日:2021-11-16

    申请号:CN201811497956.1

    申请日:2018-12-07

    Inventor: 刘俭 李勇 王伟波

    Abstract: 一种基于编码孔径和空间光调制器的物体相位恢复方法,属于相位恢复成像领域。本发明解决了传统相位恢复算法物体需小于探测面的问题。本发明首先在样品和探测器之间依次放置一个编码孔径和一个空间光调制器;然后利用准直部分相干光照明样品,通过编码孔径和空间光调制器被探测器接收;再次,调制空间光调制器改变光场的光程以调制传播到探测器平面的距离差,产生不同的频谱被探测器接收;最后通过相位恢复算法和压缩传感算法恢复样品的复振幅。本发明可以一次恢复相当于探测面大小的样品并且不需要扫描。

    双目共焦立体视觉扫描振镜位置误差矫正装置和方法

    公开(公告)号:CN109596064B

    公开(公告)日:2020-06-05

    申请号:CN201811497904.4

    申请日:2018-12-07

    Abstract: 本发明双目共焦立体视觉扫描振镜位置误差矫正方法属于光学共焦显微技术领域和光学精密测量领域。针对扫描振镜在测量过程中出现的位置误差给测量信号带来随机误差的问题,本发明公开了一种双目共焦立体视觉扫描振镜位置误差矫正方法,通过设计两路探测光路分别对标准样品与待测样品同时进行共焦扫描测量,样品经过一次形变后,再次对两样品进行测量,通过将两次对标准样品的测量信号相减便可以得到扫描振镜带来的误差信号,将两次对标准样品的测量信号进行亚像素匹配便可以得到每一点的位置偏差,利用该位置偏差信号对二维扫描振镜位置误差进行补偿。

    一种集光器的侧向集光系统

    公开(公告)号:CN110244440A

    公开(公告)日:2019-09-17

    申请号:CN201910390035.3

    申请日:2019-05-10

    Abstract: 本发明公开了一种集光器的侧向集光系统,集光器包括透镜阵列板、集光孔阵列板、导光槽、侧向集光系统和出光管;透镜阵列板安装于导光槽的顶端,集光孔阵列板和侧向集光系统均设置于导光槽内,并且所述集光孔阵列板位于所述侧向集光系统的首端,侧向集光系统将导光槽分为采光区和集光区,出光管与集光区相连通;侧向集光系统包括:挡板一、挡板二、导光管和反光体,导光管一端与挡板一连接,另一端与挡板二相连接;反光体设置于挡板二远离挡板一的一侧。本发明不仅结构简单,使用方便,而且提高了太阳光的利用率,并且保证了光照的均匀度。

    基于空间光调制器的汇聚透镜single-shot叠层相位恢复技术

    公开(公告)号:CN109782432A

    公开(公告)日:2019-05-21

    申请号:CN201910044668.9

    申请日:2019-01-17

    Abstract: 一种基于空间光调制器的汇聚透镜single-shot叠层相位恢复技术,属于相位恢复成像领域。本发明解决了传统叠层相位恢复技术需要扫描物体的问题。本发明首先在样品之前放置一个空间光调制器;然后给空间光调制器一个针孔阵列并利用准直相干光照明,光透过空间光调制器上的针孔阵列后经过物镜汇集照射在物体上,被探测器接收;最后通过相位恢复算法恢复样品的复振幅。本发明可以无需机械扫描实现叠层相位恢复。

    基于扭曲光栅和编码孔径的物体相位恢复方法

    公开(公告)号:CN109596069A

    公开(公告)日:2019-04-09

    申请号:CN201811496732.9

    申请日:2018-12-07

    Inventor: 刘俭 李勇 王伟波

    Abstract: 一种基于扭曲光栅和编码孔径的物体相位恢复方法,属于相位恢复成像领域。本发明解决了传统相位恢复算法物体需小于探测面的问题。本发明首先在样品和探测器之间依次放置一个编码孔径和一个扭曲光栅;然后利用准直部分相干光照明样品,通过编码孔径和扭曲光栅被探测器接受;最后通过相位恢复算法和压缩传感算法恢复样品的复振幅。本发明可以一次恢复相当于探测面大小的样品并且不需要扫描。

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