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公开(公告)号：CN112183580B
公开(公告)日：2021-08-10
申请号：CN202010927478.4
申请日：2020-09-07
Applicant: 哈尔滨工业大学(深圳)(哈尔滨工业大学深圳科技创新研究院)
Abstract: 一种基于动态知识路径学习的小样本分类方法，包括如下步骤：基于知识图的知识挑选阶段，通过将辅助集组成知识图，用以小样本实例在知识图中寻找适合自己的学习路径；基于类别约束的动态路径生成阶段，小样本实例选择知识图中最相关的知识点组成路径，引入路径在类别级的约束，获得类别共性，通过计算路径损失来约束路径的好坏；基于路径的知识学习与分类阶段，顺序地将最相关的知识点所携带的信息提取出来增强目标实例的特征表达，查询集实例与支撑集中每一个小样本实例的特征表达进行相似度计算，使得目标实例分到相似度最高的类别上，然后使用交叉熵损失来衡量分类损失，通过分类损失和路径损失的加权求和建立小样本分类模型。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109884056A
公开(公告)日：2019-06-14
申请号：CN201910161694.X
申请日：2019-03-04
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/84
Abstract: 一种基于优化结构探测函数的显微成像方法，涉及结构探测显微成像技术领域，为解决现有方法其不能充分提高成像分辨率，实现超分辨成像的问题，包括步骤一、将扫探测光斑光强分布与结构探测函数相乘；步骤二、将图像中的每个像素的灰度值求和；步骤三、重复步骤一和步骤二；步骤四、将步骤三中标准样品所有采样点的数值归一化；步骤五、比较获得每一像素点的灰度值误差；步骤六、将每一像素点的误差的平方平方作为基准误差，将基准误差求和作为在当前结构探测函数下的误差，将当前结构探测函数下的误差反向传递至结构探测函数部分；步骤七、迭代训练得到最优结构探测函数，从而得到超分辨图像，本方法可充分提高成像分辨率，实现超分辨成像。
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公开(公告)号：CN112183580A
公开(公告)日：2021-01-05
申请号：CN202010927478.4
申请日：2020-09-07
Applicant: 哈尔滨工业大学(深圳)
Abstract: 一种基于动态知识路径学习的小样本分类方法，包括如下步骤：基于知识图的知识挑选阶段，通过将辅助集组成知识图，用以小样本实例在知识图中寻找适合自己的学习路径；基于类别约束的动态路径生成阶段，小样本实例选择知识图中最相关的知识点组成路径，引入路径在类别级的约束，获得类别共性，通过计算路径损失来约束路径的好坏；基于路径的知识学习与分类阶段，顺序地将最相关的知识点所携带的信息提取出来增强目标实例的特征表达，查询集实例与支撑集中每一个小样本实例的特征表达进行相似度计算，使得目标实例分到相似度最高的类别上，然后使用交叉熵损失来衡量分类损失，通过分类损失和路径损失的加权求和建立小样本分类模型。
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公开(公告)号：CN109883955A
公开(公告)日：2019-06-14
申请号：CN201910162043.2
申请日：2019-03-04
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 获得结构探测显微成像系统的最优结构探测函数的装置及方法,涉及显微成像领域,为了解决现有结构探测显微成像系统中结构探测函数不是最优结构探测函数，从而成像分辨率低的问题。本发明的方法包括：步骤一、在空间光调制器的调制面上随机生成一个调制图像作为初始的结构探测函数；步骤二、获得重构的图像信息和各采样点光斑的光强分布信息；步骤三、根据重构的图像与标准样品逐点比较获得的总误差、各采样点光斑的光强分布信息调整结构探测函数，得到调整后的结构探测函数，然后更新空间光调制器的结构探测函数并返回步骤二，直至得到的结构探测函数为最优结构探测函数。适用于获得结构探测显微成像系统的最优结构探测函数。
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公开(公告)号：CN109884056B
公开(公告)日：2021-10-08
申请号：CN201910161694.X
申请日：2019-03-04
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/84
Abstract: 一种基于优化结构探测函数的显微成像方法，涉及结构探测显微成像技术领域，为解决现有方法其不能充分提高成像分辨率，实现超分辨成像的问题，包括步骤一、将扫探测光斑光强分布与结构探测函数相乘；步骤二、将图像中的每个像素的灰度值求和；步骤三、重复步骤一和步骤二；步骤四、将步骤三中标准样品所有采样点的数值归一化；步骤五、比较获得每一像素点的灰度值误差；步骤六、将每一像素点的误差的平方平方作为基准误差，将基准误差求和作为在当前结构探测函数下的误差，将当前结构探测函数下的误差反向传递至结构探测函数部分；步骤七、迭代训练得到最优结构探测函数，从而得到超分辨图像，本方法可充分提高成像分辨率，实现超分辨成像。
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公开(公告)号：CN109883955B
公开(公告)日：2021-10-08
申请号：CN201910162043.2
申请日：2019-03-04
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 获得结构探测显微成像系统的最优结构探测函数的装置及方法,涉及显微成像领域,为了解决现有结构探测显微成像系统中结构探测函数不是最优结构探测函数，从而成像分辨率低的问题。本发明的方法包括：步骤一、在空间光调制器的调制面上随机生成一个调制图像作为初始的结构探测函数；步骤二、获得重构的图像信息和各采样点光斑的光强分布信息；步骤三、根据重构的图像与标准样品逐点比较获得的总误差、各采样点光斑的光强分布信息调整结构探测函数，得到调整后的结构探测函数，然后更新空间光调制器的结构探测函数并返回步骤二，直至得到的结构探测函数为最优结构探测函数。适用于获得结构探测显微成像系统的最优结构探测函数。
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