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公开(公告)号:CN115597626A
公开(公告)日:2023-01-13
申请号:CN202211190304.X
申请日:2022-09-28
Applicant: 哈尔滨工业大学(CN)
Abstract: 用于辨识半球谐振子质量缺陷的测量系统及测量方法,解决现有通过测量谐振子球壳振动来辨识质量缺陷前3次谐波的幅值和方位不易实现的问题,属于陀螺测量技术领域。本发明的半球谐振子位于位姿调整机构上,多普勒激光测振仪对准球壳的唇沿,通过多维微调机构调整四分区压电陶瓷,使顶针按压至支撑杆顶端,激励系统将谐振子激励至二阶谐振状态,多普勒激光测振仪测量球壳的振动信号给振子控制器,振子控制器控制激励系统发出激励信号的幅值和相位,保证半球谐振子的振幅稳定,此时读取四分区压电陶瓷管测量的振动信号;位姿调整机构按照设定的角度间隔旋转,获得多个位置支撑杆的振幅信息,辨识出质量缺陷的前三次谐波的幅值和方位。
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公开(公告)号:CN115200611B
公开(公告)日:2025-05-02
申请号:CN202210900339.1
申请日:2022-07-28
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01C25/00
Abstract: 一种半球谐振子批量测试系统及测试方法,它属于惯性技术领域。本发明解决了现有测试方法的测试精度和测试效率低的问题。本发明将待测的半球谐振子依次通过谐振子夹具固定在旋转平台的上表面上,通过转台控制器控制真空转台旋转,真空转台带动旋转平台旋转使待测半球谐振子旋转至待测位置后,打开激光测振仪后调整激光的焦距,使焦点位于半球谐振子的唇沿位置;启动压电激振器来激励待测半球谐振子,利用激光测振仪获取待测半球谐振子的振动信号;对获得的振动信号进行处理,得到待测半球谐振子的谐振频率、品质因数、频率裂解以及固有刚性轴方位参数;直至旋转平台上的全部待测半球谐振子完成测试。本发明方法可以应用于半球谐振子测试。
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公开(公告)号:CN115540903A
公开(公告)日:2022-12-30
申请号:CN202211115379.1
申请日:2022-09-14
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01C25/00 , G01C19/5691
Abstract: 一种半球谐振陀螺阻尼和刚度不均匀的修调方法及系统,具体涉及一种基于检测回路并联电阻修调全角模式的半球谐振陀螺的半球谐振子阻尼和刚度不均匀的方法及系统,为解决全角模式的半球谐振陀螺阻尼和刚度不均匀引起驻波方位角在圆周方向呈周期性变化,导致所述陀螺测试精度低、性能急剧下降的问题,它包括对半球谐振陀螺金属化镀膜;设置半球谐振子的大刚度轴和小阻尼轴的夹角小于45°;将平板电极与调节电阻连接,调节电阻的另一端接地;将半球谐振子设置为二阶四波腹振型谐振状态;解调和辨识半球谐振子的振动信号,得到阻尼不均匀误差和刚度偏差,再修调调节电阻的阻值,利用调节电阻的阻值调节半球谐振子的阻尼和刚度不均匀误差。
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公开(公告)号:CN115597626B
公开(公告)日:2025-05-02
申请号:CN202211190304.X
申请日:2022-09-28
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 用于辨识半球谐振子质量缺陷的测量系统及测量方法,解决现有通过测量谐振子球壳振动来辨识质量缺陷前3次谐波的幅值和方位不易实现的问题,属于陀螺测量技术领域。本发明的半球谐振子位于位姿调整机构上,多普勒激光测振仪对准球壳的唇沿,通过多维微调机构调整四分区压电陶瓷,使顶针按压至支撑杆顶端,激励系统将谐振子激励至二阶谐振状态,多普勒激光测振仪测量球壳的振动信号给振子控制器,振子控制器控制激励系统发出激励信号的幅值和相位,保证半球谐振子的振幅稳定,此时读取四分区压电陶瓷管测量的振动信号;位姿调整机构按照设定的角度间隔旋转,获得多个位置支撑杆的振幅信息,辨识出质量缺陷的前三次谐波的幅值和方位。
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公开(公告)号:CN115200611A
公开(公告)日:2022-10-18
申请号:CN202210900339.1
申请日:2022-07-28
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01C25/00
Abstract: 一种半球谐振子批量测试系统及测试方法,它属于惯性技术领域。本发明解决了现有测试方法的测试精度和测试效率低的问题。本发明将待测的半球谐振子依次通过谐振子夹具固定在旋转平台的上表面上,通过转台控制器控制真空转台旋转,真空转台带动旋转平台旋转使待测半球谐振子旋转至待测位置后,打开激光测振仪后调整激光的焦距,使焦点位于半球谐振子的唇沿位置;启动压电激振器来激励待测半球谐振子,利用激光测振仪获取待测半球谐振子的振动信号;对获得的振动信号进行处理,得到待测半球谐振子的谐振频率、品质因数、频率裂解以及固有刚性轴方位参数;直至旋转平台上的全部待测半球谐振子完成测试。本发明方法可以应用于半球谐振子测试。
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