公开(公告)号：CN103218503B

公开(公告)日：2016-04-20

申请号：CN201310177917.4

申请日：2013-05-14

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 杨文英 ,  周学 ,  周志凯 ,  陈默 ,  周文博 ,  翟国富

IPC: G06F17/50

Abstract: 基于蒙特卡洛模拟的接触器释放时间合格率预测方法，属于接触器检测技术领域。本发明解决了现有接触器设计过程中对释放时间参数进行检验的方法存在的需要加工制作样品导致设计和测试成本高和设计周期长的问题。本发明根据接触器设计文件确定对释放时间有影响的三种参数设计值及上下限、采用独立同分布的中心极限定理利用MATLAB产生N组参数组合；然后根据该N组参数组合获得N组释放时间特性参数；进而获得释放时间参数的分布特性；最后根据该分布特性和接触器的释放时间设计参数利用Simpson法则获得接触器释放时间合格率。本发明适用于在接触器的设计环节对接触器释放时间的合格率进行预测分析，进而为接触器的设计者提供修正设计参数的依据。

公开(公告)号：CN103258096B

公开(公告)日：2016-02-03

申请号：CN201310177728.7

申请日：2013-05-14

Applicant: 哈尔滨工业大学 ,  贵州振华群英电器有限公司

Inventor： 杨文英 ,  徐乐 ,  周志凯 ,  邹帆 ,  赵瑞平 ,  翟国富

IPC: G06F17/50

Abstract: 基于蒙特卡洛模拟的接触器回跳时间合格率预测方法，属于接触器检测技术领域。本发明解决了现有接触器设计过程中对回跳时间参数进行检验的方法存在的需要加工制作样品导致设计和测试成本高和设计周期长的问题。本发明根据接触器设计文件确定对回跳时间有影响的三种参数设计值及上下限、采用独立同分布的中心极限定理利用MATLAB产生N组参数组合；然后根据该N组参数组合获得N组回跳时间特性参数；进而获得回跳时间参数的分布特性；最后根据该分布特性和接触器的回跳时间设计参数利用Simpson法则获得接触器回跳时间合格率。本发明适用于在接触器的设计环节对接触器回跳时间的合格率进行预测分析，进而为接触器的设计者提供修正设计参数的依据。

公开(公告)号：CN103294853B

公开(公告)日：2016-02-17

申请号：CN201310177920.6

申请日：2013-05-14

Applicant: 哈尔滨工业大学 ,  贵州振华群英电器有限公司

Inventor： 杨文英 ,  周学 ,  周志凯 ,  彭飞 ,  冯小林 ,  翟国富

IPC: G06F17/50

Abstract: 基于蒙特卡洛模拟的接触器吸合时间合格率预测方法，属于接触器检测技术领域。本发明解决了现有接触器设计过程中对吸合时间参数进行检验的方法存在的需要加工制作样品导致设计和测试成本高和设计周期长的问题。本发明根据接触器设计文件确定对吸合时间有影响的三种参数设计值及上下限、采用独立同分布的中心极限定理利用MATLAB产生N组参数组合；然后根据该N组参数组合获得N组吸合时间特性参数；进而获得吸合时间参数的分布特性；最后根据该分布特性和接触器的吸合时间设计参数利用Simpson法则获得接触器吸合时间合格率。本发明适用于在接触器的设计环节对接触器吸合时间的合格率进行预测分析，进而为接触器的设计者提供修正设计参数的依据。

公开(公告)号：CN103235866B

公开(公告)日：2015-12-02

申请号：CN201310177919.3

申请日：2013-05-14

Applicant: 哈尔滨工业大学 ,  贵州振华群英电器有限公司

Inventor： 杨文英 ,  徐乐 ,  周志凯 ,  邹帆 ,  彭体康 ,  翟国富

IPC: G06F17/50

Abstract: 基于蒙特卡洛模拟的接触器吸合电压合格率预测方法，属于接触器检测技术领域。本发明解决了现有接触器设计过程中对吸合电压参数进行检验的方法存在的需要加工制作样品导致设计和测试成本高和设计周期长的问题。本发明根据接触器设计文件确定对吸合电压有影响的三种参数设计值及上下限、采用独立同分布的中心极限定理利用MATLAB产生N组参数组合；然后根据该N组参数组合获得N组吸合电压特性参数；进而获得吸合电压参数的分布特性；最后根据该分布特性和接触器的吸合电压设计参数利用Simpson法则获得接触器吸合电压合格率。本发明适用于在接触器的设计环节对接触器吸合电压的合格率进行预测分析，进而为接触器的设计者提供修正设计参数的依据。

公开(公告)号：CN103246776A

公开(公告)日：2013-08-14

申请号：CN201310177544.0

申请日：2013-05-14

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 杨文英 ,  翟伟廷 ,  周志凯 ,  刘鹏 ,  冯小林 ,  梁慧敏

IPC: G06F17/50

Abstract: 基于蒙特卡洛模拟的接触器触头分断速度合格率预测方法，属于接触器检测技术领域。本发明解决了现有接触器设计过程中对分断速度参数进行检验的方法存在的需要加工制作样品导致设计和测试成本高和设计周期长的问题。本发明根据接触器设计文件确定对分断速度有影响的三种参数设计值及上下限、采用独立同分布的中心极限定理利用MATLAB产生N组参数组合；然后根据该N组参数组合获得N组分断速度特性参数；进而获得分断速度参数的分布特性；最后根据该分布特性和接触器的分断速度设计参数利用Simpson法则获得接触器分断速度合格率。本发明适用于在接触器的设计环节对接触器触头分断速度的合格率进行预测分析，进而为接触器的设计者提供修正设计参数的依据。

公开(公告)号：CN103246776B

公开(公告)日：2016-04-20

申请号：CN201310177544.0

申请日：2013-05-14

Applicant: 哈尔滨工业大学 ,  贵州振华群英电器有限公司

Inventor： 杨文英 ,  翟伟廷 ,  周志凯 ,  刘鹏 ,  冯小林 ,  梁慧敏

IPC: G06F17/50

Abstract: 基于蒙特卡洛模拟的接触器触头分断速度合格率预测方法，属于接触器检测技术领域。本发明解决了现有接触器设计过程中对分断速度参数进行检验的方法存在的需要加工制作样品导致设计和测试成本高和设计周期长的问题。本发明根据接触器设计文件确定对分断速度有影响的三种参数设计值及上下限、采用独立同分布的中心极限定理利用MATLAB产生N组参数组合；然后根据该N组参数组合获得N组分断速度特性参数；进而获得分断速度参数的分布特性；最后根据该分布特性和接触器的分断速度设计参数利用Simpson法则获得接触器分断速度合格率。本发明适用于在接触器的设计环节对接触器触头分断速度的合格率进行预测分析，进而为接触器的设计者提供修正设计参数的依据。

公开(公告)号：CN103294853A

公开(公告)日：2013-09-11

申请号：CN201310177920.6

申请日：2013-05-14

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 杨文英 ,  周学 ,  周志凯 ,  彭飞 ,  冯小林 ,  翟国富

IPC: G06F17/50

Abstract: 基于蒙特卡洛模拟的接触器吸合时间合格率预测方法，属于接触器检测技术领域。本发明解决了现有接触器设计过程中对吸合时间参数进行检验的方法存在的需要加工制作样品导致设计和测试成本高和设计周期长的问题。本发明根据接触器设计文件确定对吸合时间有影响的三种参数设计值及上下限、采用独立同分布的中心极限定理利用MATLAB产生N组参数组合；然后根据该N组参数组合获得N组吸合时间特性参数；进而获得吸合时间参数的分布特性；最后根据该分布特性和接触器的吸合时间设计参数利用Simpson法则获得接触器吸合时间合格率。本发明适用于在接触器的设计环节对接触器吸合时间的合格率进行预测分析，进而为接触器的设计者提供修正设计参数的依据。

公开(公告)号：CN103235866A

公开(公告)日：2013-08-07

申请号：CN201310177919.3

申请日：2013-05-14

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 杨文英 ,  徐乐 ,  周志凯 ,  邹帆 ,  彭体康 ,  翟国富

IPC: G06F17/50

Abstract: 基于蒙特卡洛模拟的接触器吸合电压合格率预测方法，属于接触器检测技术领域。本发明解决了现有接触器设计过程中对吸合电压参数进行检验的方法存在的需要加工制作样品导致设计和测试成本高和设计周期长的问题。本发明根据接触器设计文件确定对吸合电压有影响的三种参数设计值及上下限、采用独立同分布的中心极限定理利用MATLAB产生N组参数组合；然后根据该N组参数组合获得N组吸合电压特性参数；进而获得吸合电压参数的分布特性；最后根据该分布特性和接触器的吸合电压设计参数利用Simpson法则获得接触器吸合电压合格率。本发明适用于在接触器的设计环节对接触器吸合电压的合格率进行预测分析，进而为接触器的设计者提供修正设计参数的依据。

公开(公告)号：CN103235865A

公开(公告)日：2013-08-07

申请号：CN201310177693.7

申请日：2013-05-14

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 翟国富 ,  肖斌 ,  周志凯 ,  陈默 ,  杜英玮 ,  梁慧敏

IPC: G06F17/50

Abstract: 基于蒙特卡洛模拟的接触器的动触头闭合速度合格率预测方法，属于接触器检测技术领域。本发明解决了现有接触器设计过程中对闭合速度参数进行检验的方法存在的需要加工制作样品导致设计和测试成本高和设计周期长的问题。本发明根据接触器设计文件确定对闭合速度有影响的三种参数设计值及上下限、采用独立同分布的中心极限定理利用MATLAB产生N组参数组合；然后根据该N组参数组合获得N组闭合速度特性参数；进而获得闭合速度参数的分布特性；最后根据该分布特性和闭合速度设计参数利用Simpson法则获得闭合速度合格率。本发明适用于在接触器的设计环节对接触器的闭合速度的合格率进行预测分析，进而为接触器的设计者提供修正设计参数的依据。

公开(公告)号：CN103226642A

公开(公告)日：2013-07-31

申请号：CN201310177619.5

申请日：2013-05-14

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 梁慧敏 ,  周志凯 ,  彭飞 ,  李哲 ,  马晋川 ,  翟国富

IPC: G06F17/50

Abstract: 基于蒙特卡洛模拟的接触器触头接触压力合格率预测方法，属于接触器检测技术领域。本发明解决了现有接触器设计过程中对接触压力参数进行检验的方法存在的需要加工制作样品导致设计和测试成本高和设计周期长的问题。本发明根据接触器设计文件确定对接触压力有影响的三种参数设计值及上下限、采用独立同分布的中心极限定理利用MATLAB产生N组参数组合；然后根据该N组参数组合获得N组接触压力特性参数；进而获得接触压力参数的分布特性；最后根据该分布特性和接触器的触头接触压力设计参数利用Simpson法则获得接触器接触压力合格率。本发明适用于在接触器的设计环节对接触器接触压力的合格率进行预测分析，进而为接触器的设计者提供修正设计参数的依据。