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公开(公告)号：CN101236791A
公开(公告)日：2008-08-06
申请号：CN200710188649.0
申请日：2007-11-21
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: G11C29/44
CPC classification number: G11C29/808
Abstract: 所揭示的内容大致上涉及一种用于多段静态随机存取存储器的装置、电路和方法。在一实施例中，所揭示的内容涉及一存储器电路，包含：一存储器阵列，由设置成一或多列以及一或多行的多个存储器所定义，每个存储器单元与一对互补位线其中一条通信且与一字线通信；多个IO电路，每个IO电路与多个列存储器单元其中一个相连；多条冗余位线，每一条位线与一冗余位单元通信；一第一电路，用以检测该存储器电路中一损坏存储器单元；一第二电路，用以选择多条冗余位线其中之一，以从该损坏存储器单元切换至该冗余存储器单元；以及一第三电路，用以将该损坏存储器的一字线脉冲指向所选的冗余存储器单元。
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公开(公告)号：CN1822235A
公开(公告)日：2006-08-23
申请号：CN200610007826.6
申请日：2006-02-17
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
CPC classification number: G01R31/31708 , G01R31/31711
Abstract: 一种测定方法及测定系统，用于集成电路中测定嵌入式存储器宏模组的数据存取时间。单一外部测试信号输入至嵌入式存储器宏模组以致能数据输入，并获取数据输出。单一外部测试信号的脉冲宽度以递增方式增加，直到获得数据输出的闩锁。接着，可以获得数据存取时间，且其实质上等于增加后的脉冲宽度的时间间隔。本发明排除了在现有设计上任何时序偏移的问题。由于本发明只需要较少的测试电路，其实现设计较简单，且精确地测量也变得简单很多。
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公开(公告)号：CN101236791B
公开(公告)日：2011-04-06
申请号：CN200710188649.0
申请日：2007-11-21
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: G11C29/44
CPC classification number: G11C29/808
Abstract: 所揭示的内容大致上涉及一种用于多段静态随机存取存储器的装置、电路和方法。在一实施例中，所揭示的内容涉及一存储器电路，包含：一存储器阵列，由设置成一或多列以及一或多行的多个存储器所定义，每个存储器单元与一对互补位线其中一条通信且与一字线通信；多个IO电路，每个IO电路与多个列存储器单元其中一个相连；多条冗余位线，每一条位线与一冗余位单元通信；一第一电路，用以检测该存储器电路中一损坏存储器单元；一第二电路，用以选择多条冗余位线其中之一，以从该损坏存储器单元切换至该冗余存储器单元；以及一第三电路，用以将该损坏存储器的一字线脉冲指向所选的冗余存储器单元。
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公开(公告)号：CN100517515C
公开(公告)日：2009-07-22
申请号：CN200610007826.6
申请日：2006-02-17
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
CPC classification number: G01R31/31708 , G01R31/31711
Abstract: 一种测定方法及测定系统，用于集成电路中测定嵌入式存储器宏模组的数据存取时间。单一外部测试信号输入至嵌入式存储器宏模组以致能数据输入，并获取数据输出。单一外部测试信号的脉冲宽度以递增方式增加，直到获得数据输出的闩锁。接着，可以获得数据存取时间，且其实质上等于增加后的脉冲宽度的时间间隔。本发明排除了在现有设计上任何时序偏移的问题。由于本发明只需要较少的测试电路，其实现设计较简单，且精确地测量也变得简单很多。
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