公开(公告)号：CN1011440B

公开(公告)日：1991-01-30

申请号：CN85107357

申请日：1985-09-28

Applicant: 古河电气工业有限公司

Inventor： 田村顺一 ,  原亮一 ,  安倍文彦 ,  小相沢久

IPC: G01N23/223

CPC classification number: G01N23/083 ,  G01N23/207

Abstract: 本发明涉及非破坏性分析测定物的物质构成和组分的方法。用任意的放射线对由多种元素或物质构成的测定物进行照射，让透射测定物的透射线对准多个单晶体，取出多种具有特定能量的透射线，并能根据测定物的厚度和组成元素自由地改变取出的透射线能量，用放射线检测装置分析这些透射线，据此对测定物中各构成元素的组分进行分析，不仅分析精高度，而且确保分析操作容易，所需成本低。

公开(公告)号：CN85107357A

公开(公告)日：1986-10-15

申请号：CN85107357

申请日：1985-09-28

Applicant: 古河电气工业有限公司

Inventor： 田村顺一 ,  原亮一 ,  安倍文彦 ,  小相沢久

IPC: G01N23/02

CPC classification number: G01N23/083 ,  G01N23/207

Abstract: 本发明涉及非破坏性分析测定物的物质构成和组分的方法。用任意的放射线对由多种元素或物质构成的测定物进行照射，让透射测定物的透射线对准多个单晶体，取出多种具有特定能量的透射线，并能根据测定物的厚度和组成元素自由地改变取出的透射线能量，用放射线检测装置分析这些透射线，据此对测定物中各构成元素的组分进行分析，不仅分析精高度，而且确保分析操作容易，所需成本低。