Invention Grant
CN1011440B 用放射线分析测定物组份的方法
失效 - 权利终止
- Patent Title: 用放射线分析测定物组份的方法
- Patent Title (English): METHOD OF ANALYSING AND INVESTIGATING COMPONENTS OF MATERIALS BY RADIOACTIVE RAY
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Application No.: CN85107357Application Date: 1985-09-28
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Publication No.: CN1011440BPublication Date: 1991-01-30
- Inventor: 田村顺一 , 原亮一 , 安倍文彦 , 小相沢久
- Applicant: 古河电气工业有限公司
- Applicant Address: 日本国东京都千代田区丸内二丁目6番1号
- Assignee: 古河电气工业有限公司
- Current Assignee: 古河电气工业有限公司
- Current Assignee Address: 日本国东京都千代田区丸内二丁目6番1号
- Agency: 上海专利事务所
- Agent 王树俦
- Priority: 59-214580 1984.10.13 JP
- Main IPC: G01N23/223
- IPC: G01N23/223
Abstract:
本发明涉及非破坏性分析测定物的物质构成和组分的方法。用任意的放射线对由多种元素或物质构成的测定物进行照射，让透射测定物的透射线对准多个单晶体，取出多种具有特定能量的透射线，并能根据测定物的厚度和组成元素自由地改变取出的透射线能量，用放射线检测装置分析这些透射线，据此对测定物中各构成元素的组分进行分析，不仅分析精高度，而且确保分析操作容易，所需成本低。
Public/Granted literature
- CN85107357A 用放射线分析测定物组分的方法 Public/Granted day:1986-10-15
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