显微成像系统
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105388605A

    公开(公告)日:2016-03-09

    申请号:CN201510523662.1

    申请日:2015-08-24

    Abstract: 本发明涉及一种用于对试样进行宽场显微成像的显微成像系统。这种显微成像系统包括:具有物镜的光路;关于试样布置在物镜后面的镜筒透镜系统;传输系统,其具有物镜侧的部件和像侧的部件。物镜侧的部件具有至少一个第一物镜侧的透镜组件和与所述第一物镜侧的透镜组件隔开间隔的第二物镜侧的透镜组件。像侧的部件还包括至少一个第一像侧的透镜组件和与所述第一像侧的透镜组件隔开间隔的第二像侧的透镜组件。传输系统将物镜的出瞳成像到物镜侧的部件与像侧的部件之间的光瞳平面中。同时,传输系统将试样的像从中间像平面成像到像平面中。成像系统还包括光学适配元件,所述光学适配元件布置在物镜侧的部件与像侧的部件之间的光瞳平面中。

    显微镜和用于自动对焦的方法
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118688948A

    公开(公告)日:2024-09-24

    申请号:CN202410290214.0

    申请日:2024-03-14

    Abstract: 本发明涉及显微镜和用于自动对焦的方法。根据用于自动对焦到沿着显微镜光路成像的显微观察的样品(01)上的方法,产生用于自动对焦的、具有局部结构的测量光(06)。将测量光(06)耦入到显微镜光路中,由此测量光照射到样品(01)上并被样品反射。将被样品反射的测量光(09)从显微镜光路耦出并划分成多个子光路(14),这些子光路经过不同长度的光程,以便成像反射的测量光(09),由此获得配属于显微镜光路上的不同对焦位置的多个测量图像。至少选出测量图像中的最接近测量光(6)的局部结构的理想图像的那个测量图像。依赖于与所选出的测量图像相配属的对焦位置调整出在显微镜光路上的要被用于样品的显微成像的对焦位置。

    显微成像系统
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105388605B

    公开(公告)日:2020-11-03

    申请号:CN201510523662.1

    申请日:2015-08-24

    Abstract: 本发明涉及一种用于对试样进行宽场显微成像的显微成像系统。这种显微成像系统包括:具有物镜的光路;关于试样布置在物镜后面的镜筒透镜系统;传输系统,其具有物镜侧的部件和像侧的部件。物镜侧的部件具有至少一个第一物镜侧的透镜组件和与所述第一物镜侧的透镜组件隔开间隔的第二物镜侧的透镜组件。像侧的部件还包括至少一个第一像侧的透镜组件和与所述第一像侧的透镜组件隔开间隔的第二像侧的透镜组件。传输系统将物镜的出瞳成像到物镜侧的部件与像侧的部件之间的光瞳平面中。同时,传输系统将试样的像从中间像平面成像到像平面中。成像系统还包括光学适配元件,所述光学适配元件布置在物镜侧的部件与像侧的部件之间的光瞳平面中。

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