一种ZrS3/ZrO异质结顶栅场效应晶体管及其制备方法

    公开(公告)号:CN116487264A

    公开(公告)日:2023-07-25

    申请号:CN202310405533.7

    申请日:2023-04-17

    Applicant: 南昌大学

    Abstract: 本发明属于二维材料晶体管器件领域,公开了一种ZrS3/ZrO异质结顶栅场效应晶体管及其制备方法。本发明通过直接氧化法,结合电子束刻蚀和真空镀膜技术制得ZrS3/ZrO异质结顶栅场效应晶体管。该制备方法操作简单,成本低、耗时短,只通过一次样品转移即制备出了ZrS3/ZrO异质结且可实现大量异质结同时制备;与常规的异质结制备方法不同,本发明首次提出通过热氧化处理沟道材料表层以获得介电层,且无需考虑介电材料与沟道材料的晶格匹配和结合性问题,制得的ZrS3/ZrO异质结顶栅场效应晶体管。

    一种基于六方氮化硼阻变存储器及制备方法

    公开(公告)号:CN116322292A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202310537245.7

    申请日:2023-05-14

    Applicant: 南昌大学

    Abstract: 一种基于六方氮化硼阻变存储器及制备方法。阻变存储器自下而上依次为衬底、底电极、阻变层和顶电极;阻变层材料为h‑BN薄膜;通过机械剥离法制得六方氮化硼薄膜,并通过聚焦离子束局部调控引入缺陷作为阻变介质层,制备基于六方氮化硼的阻变存储器。本发明采用h‑BN作为阻变层介质,成功实现了h‑BN作为阻变层的阻变响应;器件具有SET电压和RESET电压低的特点;采用聚焦离子束对h‑BN表面加工,引入缺陷,实现了聚焦离子束对二维材料的局部加工;并且通过可控引入缺陷,降低了Au/h‑BN/Ag 阻变存储器的SET电压;并具有制备方法操作简单,耗时短的特点。

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