一种对高压绝缘子等值盐密测量的方法

    公开(公告)号:CN103278540B

    公开(公告)日:2016-08-17

    申请号:CN201310148893.X

    申请日:2013-04-25

    Abstract: 本发明提供了一种对高压绝缘子等值盐密测量的方法,包括:将待测的高压绝缘子表面均匀分区,在每个区域任意选取一处作为测量点;消除测量点处的憎水性;在消除憎水性后的测量点处喷一层水膜;测量测量点处的局部表面电导率;根据多个所述测量点处的局部表面电导率,得到平均局部表面电导率;根据所述平均局部表面电导率得到绝缘子的等值盐密值。本发明提供的方法,实现了在不破坏绝缘子污层结构的条件下,对具有强憎水性表面的绝缘子等值盐密进行测量,使得研究人员能够对相同的测试点进行长期的等值盐密测量,便于总结污秽积累的规律;并且该测量方法避免了其他方法在运输过程中带来的误差,提高了测量的准确性。

    一种对高压绝缘子等值盐密测量的方法

    公开(公告)号:CN103278540A

    公开(公告)日:2013-09-04

    申请号:CN201310148893.X

    申请日:2013-04-25

    Abstract: 本发明提供了一种对高压绝缘子等值盐密测量的方法,包括:将待测的高压绝缘子表面均匀分区,在每个区域任意选取一处作为测量点;消除测量点处的憎水性;在消除憎水性后的测量点处喷一层水膜;测量测量点处的局部表面电导率;根据多个所述测量点处的局部表面电导率,得到平均局部表面电导率;根据所述平均局部表面电导率得到绝缘子的等值盐密值。本发明提供的方法,实现了在不破坏绝缘子污层结构的条件下,对具有强憎水性表面的绝缘子等值盐密进行测量,使得研究人员能够对相同的测试点进行长期的等值盐密测量,便于总结污秽积累的规律;并且该测量方法避免了其他方法在运输过程中带来的误差,提高了测量的准确性。

    绝缘子金属附件腐蚀电荷量预测方法

    公开(公告)号:CN106886651B

    公开(公告)日:2020-07-31

    申请号:CN201710127276.X

    申请日:2017-03-06

    Abstract: 本发明公开了一种绝缘子金属附件腐蚀电荷量预测方法,从在线监测系统中获取数据,对获取的数据进行缺失值处理,得到连续数据;把金属附件腐蚀电荷量和特征量从连续数据中提取出来;运用神经网络算法对金属附件腐蚀电荷量和特征量进行处理;运用时间序列分析法对金属附件腐蚀电荷量进行处理;将神经网络短时金属附件腐蚀电荷量预测的结果与时间序列短时金属附件腐蚀电荷量预测的结果对比,得到短时金属附件腐蚀电荷量预测的结果;最后根据短时金属附件腐蚀电荷量预测的结果对绝缘子的运行状态进行评估,根据年均金属附件腐蚀电荷量预测的结果,对绝缘子的金属附件保护装置进行设计,解决绝缘子保护装置寿命减少和浪费材料的问题。

    一种瓷绝缘子内部缺陷的检测装置、方法及系统

    公开(公告)号:CN108680602A

    公开(公告)日:2018-10-19

    申请号:CN201810481646.4

    申请日:2018-05-18

    CPC classification number: G01N25/72

    Abstract: 本申请公开了一种瓷绝缘子内部缺陷的检测装置、方法及系统,利用光脉冲热激励加载装置向被待测瓷绝缘子施加光脉冲热激励作用,利用红外热像采集装置采集待测瓷绝缘子表面的红外热图序列,并由数据处理器将采集到的红外热图序列经拟合、压缩、重建等预处理,并根据预处理得到的原始红外热图序列提供的缺陷信息,与特征数据库中的数据进行分析比对,得到瓷绝缘子的缺陷类别及定量计算结果。本申请通过光脉冲热激励作用在瓷绝缘子的表面,利用被测瓷绝缘子表面动态温度场的变化来判断缺陷类型及对缺陷信息进行分析,具有测量快速、单次测量面积大、测量结果直观、非接触等特点,并可对瓷绝缘子内部缺陷相关信息进行准确、全面且深入的处理和分析。

    绝缘子表面污秽程度测量方法、装置及系统

    公开(公告)号:CN108693195B

    公开(公告)日:2020-11-27

    申请号:CN201810482720.4

    申请日:2018-05-18

    Abstract: 本申请提供一种绝缘子表面污秽程度测量方法、装置及系统,通过红外热像法利用绝缘子表面污秽积累分布的不均匀性造成的热物理性质差异带来的相应表面区域的温度变化差异来判断绝缘子表面污秽程度以及分布情况,能够实现对绝缘子表面污秽的在线监测,有利于实现对绝缘子绝缘状况的实时监测,进而在危害出现之前采取必要的措施,此外,目前实验室内进行污闪得一系列研究皆为在绝缘子表面涂污均匀人工污秽,所得试验结果与实际运行绝缘子数据差异较大,根据红外热像测量方法得到的绝缘子表面污秽分布情况指导实验室人工污秽试验,能够在人工污秽于自然污秽之间建立联系,得到能够适用于实际运行绝缘子上污闪规律的数据。

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