一种瓷绝缘子内部缺陷的检测装置、方法及系统

    公开(公告)号:CN108680602A

    公开(公告)日:2018-10-19

    申请号:CN201810481646.4

    申请日:2018-05-18

    IPC分类号: G01N25/72

    CPC分类号: G01N25/72

    摘要: 本申请公开了一种瓷绝缘子内部缺陷的检测装置、方法及系统,利用光脉冲热激励加载装置向被待测瓷绝缘子施加光脉冲热激励作用,利用红外热像采集装置采集待测瓷绝缘子表面的红外热图序列,并由数据处理器将采集到的红外热图序列经拟合、压缩、重建等预处理,并根据预处理得到的原始红外热图序列提供的缺陷信息,与特征数据库中的数据进行分析比对,得到瓷绝缘子的缺陷类别及定量计算结果。本申请通过光脉冲热激励作用在瓷绝缘子的表面,利用被测瓷绝缘子表面动态温度场的变化来判断缺陷类型及对缺陷信息进行分析,具有测量快速、单次测量面积大、测量结果直观、非接触等特点,并可对瓷绝缘子内部缺陷相关信息进行准确、全面且深入的处理和分析。

    一种瓷绝缘子内部缺陷的检测装置

    公开(公告)号:CN208443772U

    公开(公告)日:2019-01-29

    申请号:CN201820746054.6

    申请日:2018-05-18

    IPC分类号: G01N25/72

    摘要: 本申请公开了一种瓷绝缘子内部缺陷的检测装置,利用光脉冲热激励加载装置向被待测瓷绝缘子施加光脉冲热激励作用,利用红外热像采集装置采集待测瓷绝缘子表面的红外热图序列,并由数据处理器将采集到的红外热图序列经拟合、压缩、重建等预处理,并根据预处理得到的原始红外热图序列提供的缺陷信息,与特征数据库中的数据进行分析比对,得到瓷绝缘子的缺陷类别及定量计算结果。本申请通过光脉冲热激励作用在瓷绝缘子的表面,利用被测瓷绝缘子表面动态温度场的变化来判断缺陷类型及对缺陷信息进行分析,具有测量快速、单次测量面积大、测量结果直观、非接触等特点,并可对瓷绝缘子内部缺陷相关信息进行准确、全面且深入的处理和分析。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    一种变电站绝缘子缺陷在线检测方法及装置

    公开(公告)号:CN110827278A

    公开(公告)日:2020-02-21

    申请号:CN201911183433.4

    申请日:2019-11-27

    摘要: 本申请涉及电力设备无损检测技术领域,具体而言,涉及一种变电站绝缘子缺陷在线检测方法及装置。本申请提供一种变电站绝缘子缺陷在线检测方法,包括:采集绝缘子的第一红外热图序列;将其中的绝缘子区域框出裁减归一化、灰度化得到低背景噪声尺寸小的灰度化红外热图序列;将灰度化红外热图序列进行离散傅里叶变换,得到相位图序列、幅值图序列;将相位图序列进行高斯核滤波降采样得到低噪声相位图序列;使用神经网络模型分割出相位图序列的绝缘子部分,投票机制计算缺陷疑似区域和无缺陷区域的差值,若差值≥20,绝缘子存在缺陷,红外热图序列、相位图序列和幅值图序列存入数据库;若差值≤20正常,检测装置移动至下一检测点重复执行上述步骤。

    一种变电站绝缘子缺陷在线检测方法及装置

    公开(公告)号:CN110827278B

    公开(公告)日:2023-01-20

    申请号:CN201911183433.4

    申请日:2019-11-27

    摘要: 本申请涉及电力设备无损检测技术领域,具体而言,涉及一种变电站绝缘子缺陷在线检测方法及装置。本申请提供一种变电站绝缘子缺陷在线检测方法,包括:采集绝缘子的第一红外热图序列;将其中的绝缘子区域框出裁减归一化、灰度化得到低背景噪声尺寸小的灰度化红外热图序列;将灰度化红外热图序列进行离散傅里叶变换,得到相位图序列、幅值图序列;将相位图序列进行高斯核滤波降采样得到低噪声相位图序列;使用神经网络模型分割出相位图序列的绝缘子部分,投票机制计算缺陷疑似区域和无缺陷区域的差值,若差值≥20,绝缘子存在缺陷,红外热图序列、相位图序列和幅值图序列存入数据库;若差值≤20正常,检测装置移动至下一检测点重复执行上述步骤。

    一种复合绝缘子内部粘接缺陷的检测方法和系统

    公开(公告)号:CN110849884A

    公开(公告)日:2020-02-28

    申请号:CN201911119177.2

    申请日:2019-11-15

    摘要: 本发明公开了一种复合绝缘子内部粘接缺陷的检测方法和系统,通过激光阵列设备、热激励光源设备、成像设备获取被检测复合绝缘子的可见光图像、第一散斑图像和第二散斑图像,通过数据处理设备对第一散斑图像和第二散斑图像进行运算处理,得到干涉条纹图和相位图,再进行高斯滤波处理,绘制边缘图像与可见光图像融合,得到融合图像,识别复合绝缘子内部缺陷。本发明实现对复合绝缘子内部粘接缺陷快速、精确、无接触、直观的检测,对复合绝缘子内部微小的粘接缺陷也具有良好的检测效果,实现高效精准地检测复合绝缘子内部粘接缺陷的目的,本发明操作简单,成像直观,受检测人员的操作主观因素的影响较小,能有效保障检测的客观性和科学性。

    缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法

    公开(公告)号:CN110031511A

    公开(公告)日:2019-07-19

    申请号:CN201910317402.7

    申请日:2019-04-19

    IPC分类号: G01N25/72

    摘要: 一种缺陷检测装置,用于检测复合绝缘子金具压接处的缺陷,所述缺陷检测装置包括一固定装置、一电磁激励源、一红外热像采集仪、一电磁屏蔽罩及一放置台,所述固定装置具有一空腔,所述电磁激励源及红外热像采集仪固定在所述空腔内,所述放置台置于所述空腔内,所述固定装置的外部设置所述电磁屏蔽罩,所述电磁激励源用于发射电磁激励信号于所述复合绝缘子金具压接处,所述红外热像采集仪用于采集所述金具压接处的红外热图信息。本发明还提供一种复合绝缘子金具压接处的缺陷检测系统及缺陷检测方法。