一种基于棋盘格中心点提取的投影光路标定方法

    公开(公告)号:CN115359123A

    公开(公告)日:2022-11-18

    申请号:CN202210777388.0

    申请日:2022-06-30

    Abstract: 本发明公开了一种基于棋盘格中心点提取的投影光路标定方法,首先计算棋盘格中心点的物理世界坐标。并根据提取得到的棋盘格角点坐标计算棋盘格中心点的像素坐标。再根据中心点像素坐标对应的相位值映射至投影仪的靶面像素坐标。最后根据求得的棋盘格中心点物理坐标与对应的位置上的投影仪靶面像素坐标进行标定投影光路。本方法首先计算棋盘格中心点对应的投影仪靶面像素坐标,再利用靶面像素坐标与棋盘格中心点物理坐标标定投影光路。相较于传统椭圆标定板标定投影仪而言降低计算的复杂度,同时使结果不受透视变换的影响更为精准。

    一种基于相位逆变区域分割的三维测量补偿方法

    公开(公告)号:CN115359174A

    公开(公告)日:2022-11-18

    申请号:CN202210777052.4

    申请日:2022-06-30

    Abstract: 本发明公开了一种基于相位逆变区域分割的三维测量补偿方法。先对正常的展开相位图按照投影方向进行求导,根据求导的正负结果分割与正常投影范围相反的相位逆变区域;然后通过连通域提取,将面积小于阈值的联通区域归入相位逆变区域,将所有区域合并得到相位逆变区域,提取相位逆变区域边界;再分别对图像相位逆变区域与相位正常区域采用偏折术与正常方法进行三维重建;最后将相位逆变区域与正常区域重建的三维结果进行结合获取完整三维形貌。本方法首先对相位逆变区域进行分割提取,然后对相位逆变区域采用偏折术进行三维重建,对重建结果进行补偿,使重建结果更加完整。

    基于过曝光连通域强度自适应分布的高动态三维测量方法

    公开(公告)号:CN116310101A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202310201805.1

    申请日:2023-03-06

    Abstract: 本发明公开了一种基于过曝光连通域投影强度自适应分布的高动态三维测量方法,生成最大输入灰度图和正弦条纹图,投影到被测物体表面并同步采集;根据阈值从采集到的最大输入灰度图中识别出过曝光区域,提取过曝光区域的边界并跟踪;结合预先标定获得的参数和采集到的正弦条纹对物体进行初步三维重建;将边界的坐标映射到投影仪像素坐标系并跟踪,自动连接形成闭合边界;由闭合边界生成二值掩码,降低闭合边界内的最大输入灰度级重新生成最大输入灰度图和正弦条纹;再次投影最大输入灰度图和正弦条纹到物体上并采集,直至采集到的最大输入灰度图无过曝光区域,利用相应的正弦条纹重建出物体完整的三维。本发明可以实现对高动态范围物体的三维测量。

    一种基于高光边界三维重映射的自适应投影方法

    公开(公告)号:CN115359175A

    公开(公告)日:2022-11-18

    申请号:CN202210777096.7

    申请日:2022-06-30

    Abstract: 本发明公开了一种基于高光边界三维重映射的自适应投影方法。首先基于相移亮度统计图提取出单个或多个过曝连通区域,提取该区域的边界外未过曝的像素群坐标并基于标定参数重构出边界相应的三维坐标;然后基于投影光路模型将三维坐标逆向映射至DMD靶面得到闭环连通域;利用二维图像对高光闭环连通域进行筛选得到最外圈高亮度范围的边界,通过高光边界提取与三维逆向映射的自适应逐级降低投影光强缩小高光范围,最终完全消除过曝光范围。该方法首先利用高光边缘像素映射至DMD靶面像素,通过逐级降低投影光以消除全部高光区域。避免了传统多曝光方法过程中不同三维点云的复杂拼接过程,在提高重构速率的同时降低了计算的复杂度。

    一种基于三目系统下的倾斜条纹编码三维测量方法

    公开(公告)号:CN115355847A

    公开(公告)日:2022-11-18

    申请号:CN202210777053.9

    申请日:2022-06-30

    Abstract: 本发明公开了一种基于三目系统下的倾斜条纹编码三维测量方法。首先基于线性成像模型计算相位面到光轴坐标的距离,通过矢量叠加原理得到相位面内过光心的矢量表达式;将其与相位线矢量叉乘得到相位面法向量;进而基于相位值确立相位面的平面方程;然后根据三维坐标点位于相位面的关系确立新的约束方程;最后结合针孔相机成像模型的两个约束方程计算得到物体的三维坐标。本发明首先基于线性抽象模型推导三维坐标与相位面的约束方程,再通过针孔相机成像模型的约束条件求解三维坐标。对于三目系统中相机视角与中心投影光路和基线方向不相同的情况下使系统测量的精度大幅提升。

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