一种基于数字条纹投影技术测量微小物体表面高度的测量系统及其方法

    公开(公告)号:CN102768020B

    公开(公告)日:2015-04-22

    申请号:CN201210276379.X

    申请日:2012-08-03

    Abstract: 本发明公开了一种基于数字条纹投影技术测量微小物体表面高度的测量系统及其方法,首先构建三维测量系统,三维测量系统包括工作平台、电视显微镜镜头、透镜组和微型投影仪,电视显微镜镜头垂直于工作平台朝下摆放,微型投影仪的镜头向下与电视显微镜头摆放在同一平面,透镜组放置在微型投影仪的镜头前,用来聚焦微型投影仪投出的正弦条纹图像,待测物体放置与工作平台上;在对对三维测量系统进行标定,获得待测物体表面的最终相位,可获得待测物体表面的高度。本发明精准的获取了待测物体表面的高度情况,具有很高的利用价值,精度高,且测量、安装方便,价格低廉,具体见图3和图4的测量结果。

    一种基于数字条纹投影技术测量微小物体表面高度的测量系统及其方法

    公开(公告)号:CN102768020A

    公开(公告)日:2012-11-07

    申请号:CN201210276379.X

    申请日:2012-08-03

    Abstract: 本发明公开了一种基于数字条纹投影技术测量微小物体表面高度的测量系统及其方法,首先构建三维测量系统,三维测量系统包括工作平台、电视显微镜镜头、透镜组和微型投影仪,电视显微镜镜头垂直于工作平台朝下摆放,微型投影仪的镜头向下与电视显微镜头摆放在同一平面,透镜组放置在微型投影仪的镜头前,用来聚焦微型投影仪投出的正弦条纹图像,待测物体放置与工作平台上;在对对三维测量系统进行标定,获得待测物体表面的最终相位,可获得待测物体表面的高度。本发明精准的获取了待测物体表面的高度情况,具有很高的利用价值,精度高,且测量、安装方便,价格低廉,具体见图3和图4的测量结果。

    基于双频三灰阶正弦光栅条纹投影的时间相位去包裹方法

    公开(公告)号:CN103759673A

    公开(公告)日:2014-04-30

    申请号:CN201410027275.4

    申请日:2014-01-21

    Abstract: 本发明提出一种基于双频三灰阶正弦光栅条纹投影的时间相位去包裹方法。本发明方法利用计算机生成两组共五幅双频率的理想正弦光栅条纹,然后采用三灰阶空间脉宽调制技术生成与理想正弦条纹对应的三灰阶正弦光栅条纹,在投影仪保持散焦的状态下将五幅三灰阶正弦光栅条纹投影到待测物体表面,求解出五幅双频条纹所包含的两组被包裹相位图,利用这些包裹相位与双频条纹波长之间的关系,解出被包裹相位对应的条纹级数,实现包裹相位的去包裹。本发明方法提高了测量精度和测量速度。

    基于双频三灰阶正弦光栅条纹投影的时间相位去包裹方法

    公开(公告)号:CN103759673B

    公开(公告)日:2016-07-06

    申请号:CN201410027275.4

    申请日:2014-01-21

    Abstract: 本发提出一种基于双频三灰阶正弦光栅条纹投影的时间相位去包裹方法。本发明方法利用计算机生成两组共五幅双频率的理想正弦光栅条纹,然后采用三灰阶空间脉宽调制技术生成与理想正弦条纹对应的三灰阶正弦光栅条纹,在投影仪保持散焦的状态下将五幅三灰阶正弦光栅条纹投影到待测物体表面,求解出五幅双频条纹所包含的两组被包裹相位图,利用这些包裹相位与双频条纹波长之间的关系,解出被包裹相位对应的条纹级数,实现包裹相位的去包裹。本发明方法提高了测量精度和测量速度。

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