一种相控阵电子装备外场标校方法

    公开(公告)号:CN113504518B

    公开(公告)日:2023-06-20

    申请号:CN202110771274.0

    申请日:2021-07-08

    IPC分类号: G01S7/40

    摘要: 本发明公开了一种相控阵电子装备外场标校方法,通过保持相控阵电子装备不动,采用一个可移动、可伸缩的标校升降塔车承载信号源;通过塔车左右移位来满足相控阵天线方位上的最大扫描角波束指向测试,通过塔车的高度伸缩来适应相控阵天线垂直方向上的最大扫描角波束指向测试;本发明在其天线波束不同的空间位置处设置信息源,通过信号源的实际位置信息,即真值和实测角间的差别,来进行误差统计和分析,求出角度测量误差均值,然后对相控阵电子装备进行空间波束指向角误差叠代补偿,消除其系统误差,从而使其满足系统测量精度要求;本发明不但解决了相控阵电子装备标校难的问题,且经济、有效和快速。

    一种相控阵电子装备外场标校方法

    公开(公告)号:CN113504518A

    公开(公告)日:2021-10-15

    申请号:CN202110771274.0

    申请日:2021-07-08

    IPC分类号: G01S7/40

    摘要: 本发明公开了一种相控阵电子装备外场标校方法,通过保持相控阵电子装备不动,采用一个可移动、可伸缩的标校升降塔车承载信号源;通过塔车左右移位来满足相控阵天线方位上的最大扫描角波束指向测试,通过塔车的高度伸缩来适应相控阵天线垂直方向上的最大扫描角波束指向测试;本发明在其天线波束不同的空间位置处设置信息源,通过信号源的实际位置信息,即真值和实测角间的差别,来进行误差统计和分析,求出角度测量误差均值,然后对相控阵电子装备进行空间波束指向角误差叠代补偿,消除其系统误差,从而使其满足系统测量精度要求;本发明不但解决了相控阵电子装备标校难的问题,且经济、有效和快速。

    反射装置、反射组合装置及测量盲区的设备基座安装方法

    公开(公告)号:CN114910058A

    公开(公告)日:2022-08-16

    申请号:CN202210556607.2

    申请日:2022-05-19

    IPC分类号: G01C15/00 B63B73/20 B63B73/60

    摘要: 本申请提供一种反射装置、反射组合装置及测量盲区的设备基座安装方法。反射装置的磁吸座下表面用于吸附在设备基座表面。立柱的第一端与磁吸座上表面固连,立柱延伸方向与磁吸座上表面垂直。承载座下侧与立柱第二端可旋转连接,承载座旋转平面与立柱延伸方向垂直。激光反射靶可旋转安装在承载座上,激光反射靶旋转平面与承载座旋转平面垂直。锁定装置用于锁定承载座使其相对于立柱的位置固定,且用于锁定激光反射靶使其相对于承载座的位置固定。在磁吸座吸附在处于测量盲区的设备基座表面时,立柱长度满足使激光反射靶处于测量盲区以外。本申请的技术方案能够测量盲区的设备基座的坐标等效转换为位于测量视野内的激光反射靶的坐标。

    基于交互式滤波的无人机航向估计方法、系统及电子设备

    公开(公告)号:CN113566821A

    公开(公告)日:2021-10-29

    申请号:CN202110721430.2

    申请日:2021-06-28

    IPC分类号: G01C21/20

    摘要: 本发明提供一种基于交互式滤波的无人机航向估计方法、系统及电子设备,所述方法包括:获取所述无人机预设运动模型的参数,并得到所述预设运动模型之间的转换概率;依据所述转换概率得到各所述预设运动模型交互后的状态估计与估计协方差,并通过预设函数得到同一时刻各所述预设运动模型的占比;基于所述状态估计与所述估计协方差以及所述占比得到目标交互式滤波模型,进而得到所述无人机的航向估计。本发明的基于交互式滤波的无人机航向估计方法、系统及电子设备,可以在高精度跟踪无人机机动的同时保证无人机机动时的航向跟踪精度;此外利用本申请提出的方法可以有效降低无人机数据计算负担,提高数据处理能力。

    一种简易快速的卡尔曼滤波方法

    公开(公告)号:CN111865268B

    公开(公告)日:2022-10-25

    申请号:CN202010659485.0

    申请日:2020-07-10

    IPC分类号: H03H17/02

    摘要: 本发明公开一种简易快速的卡尔曼滤波方法,针对不同种类的目标设置对应的状态转移过程噪声方差Q和传感器观测噪声方差R,根据卡尔曼滤波的递推公式,利用转移矩阵,观测矩阵,过程噪声方差,观测噪声方差计算得到增益,通过分析滤波器稳定后发生丢点时不同的丢点数以及Q/R的值对增益的影响得到相应的比值,利用该比值对增益进行修正,最后在不同数据率的情况下分别记录滤波稳定前的所有增益以及滤波稳定后的增益以及不同丢点数情况下经过修正的增益,构建针对不同种类对象的滤波器。解决了传统方法在多目标高数据率跟踪中由于计算机的运算速度限制而影响系统的实时性和由于丢点后卡尔曼增益的变化会降低滤波精度以及可能造成跟踪目标丢批的问题。

    传输带宽失配时FPGA片间数据的传输方法

    公开(公告)号:CN114416633A

    公开(公告)日:2022-04-29

    申请号:CN202210025486.9

    申请日:2022-01-11

    IPC分类号: G06F15/17 G06F13/42

    摘要: 本发明公开了一种传输带宽失配时FPGA片间数据的传输方法,确定AD数据所需传输速率;根据高速收发器的线传输速率及编码方式,得到实际传输速率;求取用户端口采样时钟频率;确定传输线数目;确定传输线数目和AD数据位宽的最小公倍数,求取整数P和Q;计算参数A、B和C;将A·Q次采样得到的AD数据组帧后经过N通道的高速收发器的发送端分B·P次发送出去;每发完A·Q次采样得到的AD数据,后续的AD数据序号加1;每一个通道从同一个序号处开始准备接收AD数据,当接收完A·P个高速收发器的用户端口时钟数据,重新组帧得到A·Q次采样得到的AD数据。本发明,采用K码的形式提高整体传输的稳定性,但是传输AD数据会不间断进行数据传输。

    一种简易快速的卡尔曼滤波方法

    公开(公告)号:CN111865268A

    公开(公告)日:2020-10-30

    申请号:CN202010659485.0

    申请日:2020-07-10

    IPC分类号: H03H17/02

    摘要: 本发明公开一种简易快速的卡尔曼滤波方法,针对不同种类的目标设置对应的状态转移过程噪声方差Q和传感器观测噪声方差R,根据卡尔曼滤波的递推公式,利用转移矩阵,观测矩阵,过程噪声方差,观测噪声方差计算得到增益,通过分析滤波器稳定后发生丢点时不同的丢点数以及Q/R的值对增益的影响得到相应的比值,利用该比值对增益进行修正,最后在不同数据率的情况下分别记录滤波稳定前的所有增益以及滤波稳定后的增益以及不同丢点数情况下经过修正的增益,构建针对不同种类对象的滤波器。解决了传统方法在多目标高数据率跟踪中由于计算机的运算速度限制而影响系统的实时性和由于丢点后卡尔曼增益的变化会降低滤波精度以及可能造成跟踪目标丢批的问题。

    一种机柜基座定位测量工装的定位方法

    公开(公告)号:CN114279293B

    公开(公告)日:2024-04-12

    申请号:CN202210004377.9

    申请日:2022-01-05

    IPC分类号: G01B5/00 G01N21/84 G01N21/88

    摘要: 本发明提供一种机柜基座的定位测量工装及定位方法,该定位测量工装包括相互平行设置的第一支撑架、第二支撑架及定位测量机构,定位测量机构包括滑动套筒、标尺及测量平面等部件。该定位测量工装用于放置在底部基座的上表面,以使测量平面作为基准来确定背部基座的位置。标尺用于标定测量平面的顶部与底板的下表面之间的竖直距离,以确定背部基座的安装高度;定位测量机构用于标定测量平面与立板的水平距离,以确定背部基座与底部基座的水平间隔。通过该定位测量工装,先确定底部基座与定位测量工装的相对位置关系,再以定位测量工装上的测量平面为基准,确定背部基座的位置及尺寸,从而使得最终背部基座的尺寸及定位更加准确。

    一种天线罩的密封方法
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116526140A

    公开(公告)日:2023-08-01

    申请号:CN202310511919.6

    申请日:2023-05-08

    IPC分类号: H01Q1/42 H01Q1/12 H01Q1/34

    摘要: 本发明提供一种天线罩的密封方法,用于密封天线罩与天线罩基座之间的接缝,该密封方法包括:S1、对天线罩的施胶面、天线罩基座的施胶面及天线罩与天线罩基座之间接缝处进行杂质清洗;S2、将底涂液均匀地涂抹在天线罩的施胶面上和天线罩基座的施胶面上;S3、将准备好的密封胶均匀密实地刮入接缝内以填充施胶区,确保胶体表面光滑平整、无断头,且胶体内部密实无缺口;S4、使密封胶固化,完成天线罩的密封;本发明在进行天线罩安装时,对天线罩与天线罩基座的接缝处进行密封,以避免雨水从天线罩与天线罩基座的接缝处渗漏进天线罩内,提高天线罩根部的密封性能,保证天线的工作可靠性。

    一种大型非通视基座以及其平面度的检测方法

    公开(公告)号:CN116045890A

    公开(公告)日:2023-05-02

    申请号:CN202310143245.9

    申请日:2023-02-20

    IPC分类号: G01B21/30 G01C9/00 G01C1/00

    摘要: 本发明提供一种大型非通视基座以及其平面度的检测方法,包括如下步骤:在基座面上绕着通视障碍物周向选取至少三个用于架设平面测量仪器的预定架设点位,分别在预定架设点位上架设平面测量仪器;通过平面测量仪器测量沿着背离障碍物方向测量该平面测量仪器视界内的基座面上反射靶高度值;其中,相邻两个架设点位上平面测量仪器视界在基座面上有重叠区域;选取重叠区域最高点和最低点的真实高度,根据相邻预定架设点位的高度,得出相邻预定架设点位的测量系统高度差,分析得出该基座面的平面度。本发明还提供一种大型非通视基座的检测方法,方便现场基座的实施、误差反馈及调整,满足了非通视高基座的快速测量、实施监控及检验的要求。