一种薄膜介质击穿光谱测量装置及方法

    公开(公告)号:CN118275830A

    公开(公告)日:2024-07-02

    申请号:CN202410247903.3

    申请日:2024-03-05

    Abstract: 本发明公开了一种薄膜介质击穿光谱测量装置及方法,属于高压绝缘及光电测量领域,包括:加压模块、光收集模块、光谱仪及光电转换器件;所述加压模块用于给待测样品加压,以使薄膜介质发生击穿并产生击穿电弧;其中,所述待测样品为单面蒸镀金属电极的薄膜介质,所述薄膜介质的厚度为微米级;所述光收集模块用于从垂直于击穿点方向收集击穿电弧产生的光,并聚焦后折射到所述光谱仪的狭缝上;所述光谱仪用于将聚焦后的光进行分光,然后经过所述光电转换器件转换为用于测量击穿电弧的光谱。本发明能够实现微米级薄膜介质在微秒级放电过程的电弧光谱测量。

    超导电缆回温过程的介损及电容监测方法

    公开(公告)号:CN114814376B

    公开(公告)日:2024-10-18

    申请号:CN202210314925.8

    申请日:2022-03-28

    Abstract: 本发明涉及一种超导电缆回温过程的介损及电容监测方法,包括以下步骤:超导电缆退出电网运行,制冷系统停止运行,并实时控制内部压力;超导电缆依靠与外部环境之间的换热,恢复至常温,在这一过程中对超导电缆进行工频50Hz下的电容及介损测试,以得到超导电缆电容值和介损tanδ的变化数据;根据超导电缆电容值和介损tanδ的变化数据,分析得到超导电缆回温过程中内部状态变化信息。与现有技术相比,本发明针对超导电缆的回温过程,通过开展工频50Hz下的电容及介损测试,能够真实反映超导电缆在回温中的内部状态变化,确保超导电缆能够在回温过程中实现温度的平稳过渡,有效防止由于温度剧烈变化造成电缆损坏。

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