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公开(公告)号：CN106441133A
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201610781612.8
申请日：2016-08-30
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B11/14
CPC classification number: G01B11/14
Abstract: 本发明公开了一种基于光学测微仪的轴孔配合间隙测量装置及其测量方法，实现了轴和孔在装配过程中的实时测量。装置具体为：一号基座、二号基座和三轴位移台顺次安装在实验底板上；轴套套在待测轴上，轴套通过待测轴安装支座固定安装在二号基座，使得待测轴平行于实验底板，待测轴一端朝向一号基座伸出、另一端朝向三轴位移台伸出。力传感器通过传感器安装组件安装在一号基座上，并在传感器安装组件的控制下做上下直线运动，待测轴朝向一号基座伸出部分位于力传感器的直线运动路径下方。光学测微仪安装在三轴位移台上，通过三轴位移台的调整，使得待测轴朝向三轴位移台伸出部分位于光学测微仪的测量区域中。
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公开(公告)号：CN108655693B
公开(公告)日：2019-06-14
申请号：CN201810587079.0
申请日：2018-06-06
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明公开了一种面向同轴对位装配系统的快速改变视场的装置及方法，该装置包括机械手、上短焦镜头、上下环形光源、半反半透棱镜、下短焦镜头、基体零件、微动台、工业相机、水平位移台和平动态；机械手和微动台在空间上以上下环形光源为中心呈上下布置，待装配零件和基体零件分别受到机械手和微动台的夹持，上短焦镜头及下短焦镜头分别位于待装配零件下方和基体零件上方，半反半透棱镜位于上下环形光源的中心，工业相机位于半反半透棱镜的光轴上；上短焦镜头及下短焦镜头分别位于待装配零件下方和基体零件上方，当待装配零件和基体零件尺寸较大时，上短焦镜头及下短焦镜头扩大成像视场范围，使待装配零件及基体零件能够完全成像在工业相机中。
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公开(公告)号：CN106441196B
公开(公告)日：2018-11-09
申请号：CN201610779938.7
申请日：2016-08-30
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B21/16
Abstract: 本发明公开了一种基于摩擦力的轴孔配合间隙测量装置及方法，方案如下：支撑架由一个固定板及其两侧平行安装的两个支撑板组成，支撑板一端固定在固定板侧边、另一端设有垂直于支撑板的安装面。其中直线位移台和两个升降台从右往左顺次安装在实验台面包板上，两个升降台平行；支撑架的固定板安装在直线位移台上、支撑板平行于直线位移台的直线位移方向，支撑架上的安装面位于两个升降台之间；推板平行于安装面设置，且推板右侧与安装面之间安装有压力传感器，推板中心开设中心通孔；两个导向轴支座平行、且分别固定在两个升降台上，待测轴穿过推板的中心通孔、两端分别固定于两个导向轴支座；轴套套接在待测轴上，且轴套位于推板左侧。
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公开(公告)号：CN108655693A
公开(公告)日：2018-10-16
申请号：CN201810587079.0
申请日：2018-06-06
Applicant: 北京理工大学
CPC classification number: B23P19/00 , G02B27/0081
Abstract: 本发明公开了一种面向同轴对位装配系统的快速改变视场的装置及方法，该装置包括机械手、上短焦镜头、上下环形光源、半反半透棱镜、下短焦镜头、基体零件、微动台、工业相机、水平位移台和平动态；机械手和微动台在空间上以上下环形光源为中心呈上下布置，待装配零件和基体零件分别受到机械手和微动台的夹持，上短焦镜头及下短焦镜头分别位于待装配零件下方和基体零件上方，半反半透棱镜位于上下环形光源的中心，工业相机位于半反半透棱镜的光轴上；上短焦镜头及下短焦镜头分别位于待装配零件下方和基体零件上方，当待装配零件和基体零件尺寸较大时，上短焦镜头及下短焦镜头扩大成像视场范围，使待装配零件及基体零件能够完全成像在工业相机中。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106442158A
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201610797969.5
申请日：2016-08-31
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01N3/14
CPC classification number: G01N3/14 , G01N2203/0033 , G01N2203/0071
Abstract: 本发明公开了一种精密平面胶粘结构的微蠕变测试装置，测试试件由上下两个零件通过平面胶粘的形式胶粘而成，胶层厚度为设定胶层厚度，其中上部的零件左右两侧设置卡台，下部的零件左右两侧设置卡口；框架为上端开口的矩形框架；测试试件通过卡台卡接固定在所述框架的上端开口处，所述胶粘平面与水平面平行；配重块通过卡口卡接在所述测试试件上；转接板安装于框架底部上表面，非接触式位移传感器安装于转接板侧面，所述胶粘平面位于所述非接触式位移传感器的测量范围之内。本发明能够测量平面胶粘结构的蠕变位移与时间之间的变化关系，并且能够实现制作的试件能够保证胶层厚度是确定值。
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公开(公告)号：CN106370153A
公开(公告)日：2017-02-01
申请号：CN201610781577.X
申请日：2016-08-30
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明公开了一种金属零件间接触形变及接触应力测量装置与方法，测量不透光且有一定厚度的金属零件间的接触形变及接触应力。压板的下表面上具有与试件接触面上的接触区域相匹配的接触凸台；试件上表面为接触面，接触面上的非接触区域处粘贴应变计；液压缸固定在框架底面上；压板、粘贴应变计的试件、力传感器以及方向调节部件，按照由下至上的顺序放置在液压缸上；其中压板下表面与试件的接触面匹配贴合，压板上表面与框架上端内表面贴合；应变计通过应变计连接线连接至应变仪；手动液压杆连接至液压缸；三坐标测量仪测头通过框架上的腰型通孔、压板上的圆形通孔接触试件的接触面；方向调节部件用于调节液压缸力的输出方向使其垂直向上输出。
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公开(公告)号：CN106441133B
公开(公告)日：2019-04-16
申请号：CN201610781612.8
申请日：2016-08-30
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B11/14
Abstract: 本发明公开了一种基于光学测微仪的轴孔配合间隙测量装置及其测量方法，实现了轴和孔在装配过程中的实时测量。装置具体为：一号基座、二号基座和三轴位移台顺次安装在实验底板上；轴套套在待测轴上，轴套通过待测轴安装支座固定安装在二号基座，使得待测轴平行于实验底板，待测轴一端朝向一号基座伸出、另一端朝向三轴位移台伸出。力传感器通过传感器安装组件安装在一号基座上，并在传感器安装组件的控制下做上下直线运动，待测轴朝向一号基座伸出部分位于力传感器的直线运动路径下方。光学测微仪安装在三轴位移台上，通过三轴位移台的调整，使得待测轴朝向三轴位移台伸出部分位于光学测微仪的测量区域中。
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公开(公告)号：CN106370153B
公开(公告)日：2018-11-13
申请号：CN201610781577.X
申请日：2016-08-30
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明公开了一种金属零件间接触形变及接触应力测量装置与方法，测量不透光且有一定厚度的金属零件间的接触形变及接触应力。压板的下表面上具有与试件接触面上的接触区域相匹配的接触凸台；试件上表面为接触面，接触面上的非接触区域处粘贴应变计；液压缸固定在框架底面上；压板、粘贴应变计的试件、力传感器以及方向调节部件，按照由下至上的顺序放置在液压缸上；其中压板下表面与试件的接触面匹配贴合，压板上表面与框架上端内表面贴合；应变计通过应变计连接线连接至应变仪；手动液压杆连接至液压缸；三坐标测量仪测头通过框架上的腰型通孔、压板上的圆形通孔接触试件的接触面；方向调节部件用于调节液压缸力的输出方向使其垂直向上输出。
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公开(公告)号：CN106441196A
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201610779938.7
申请日：2016-08-30
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B21/16
CPC classification number: G01B21/16
Abstract: 本发明公开了一种基于摩擦力的轴孔配合间隙测量装置及方法，方案如下：支撑架由一个固定板及其两侧平行安装的两个支撑板组成，支撑板一端固定在固定板侧边、另一端设有垂直于支撑板的安装面。其中直线位移台和两个升降台从右往左顺次安装在实验台面包板上，两个升降台平行；支撑架的固定板安装在直线位移台上、支撑板平行于直线位移台的直线位移方向，支撑架上的安装面位于两个升降台之间；推板平行于安装面设置，且推板右侧与安装面之间安装有压力传感器，推板中心开设中心通孔；两个导向轴支座平行、且分别固定在两个升降台上，待测轴穿过推板的中心通孔、两端分别固定于两个导向轴支座；轴套套接在待测轴上，且轴套位于推板左侧。
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