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公开(公告)号：CN106441133A
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201610781612.8
申请日：2016-08-30
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B11/14
CPC classification number: G01B11/14
Abstract: 本发明公开了一种基于光学测微仪的轴孔配合间隙测量装置及其测量方法，实现了轴和孔在装配过程中的实时测量。装置具体为：一号基座、二号基座和三轴位移台顺次安装在实验底板上；轴套套在待测轴上，轴套通过待测轴安装支座固定安装在二号基座，使得待测轴平行于实验底板，待测轴一端朝向一号基座伸出、另一端朝向三轴位移台伸出。力传感器通过传感器安装组件安装在一号基座上，并在传感器安装组件的控制下做上下直线运动，待测轴朝向一号基座伸出部分位于力传感器的直线运动路径下方。光学测微仪安装在三轴位移台上，通过三轴位移台的调整，使得待测轴朝向三轴位移台伸出部分位于光学测微仪的测量区域中。
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公开(公告)号：CN108655693B
公开(公告)日：2019-06-14
申请号：CN201810587079.0
申请日：2018-06-06
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明公开了一种面向同轴对位装配系统的快速改变视场的装置及方法，该装置包括机械手、上短焦镜头、上下环形光源、半反半透棱镜、下短焦镜头、基体零件、微动台、工业相机、水平位移台和平动态；机械手和微动台在空间上以上下环形光源为中心呈上下布置，待装配零件和基体零件分别受到机械手和微动台的夹持，上短焦镜头及下短焦镜头分别位于待装配零件下方和基体零件上方，半反半透棱镜位于上下环形光源的中心，工业相机位于半反半透棱镜的光轴上；上短焦镜头及下短焦镜头分别位于待装配零件下方和基体零件上方，当待装配零件和基体零件尺寸较大时，上短焦镜头及下短焦镜头扩大成像视场范围，使待装配零件及基体零件能够完全成像在工业相机中。
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公开(公告)号：CN108655693A
公开(公告)日：2018-10-16
申请号：CN201810587079.0
申请日：2018-06-06
Applicant: 北京理工大学
CPC classification number: B23P19/00 , G02B27/0081
Abstract: 本发明公开了一种面向同轴对位装配系统的快速改变视场的装置及方法，该装置包括机械手、上短焦镜头、上下环形光源、半反半透棱镜、下短焦镜头、基体零件、微动台、工业相机、水平位移台和平动态；机械手和微动台在空间上以上下环形光源为中心呈上下布置，待装配零件和基体零件分别受到机械手和微动台的夹持，上短焦镜头及下短焦镜头分别位于待装配零件下方和基体零件上方，半反半透棱镜位于上下环形光源的中心，工业相机位于半反半透棱镜的光轴上；上短焦镜头及下短焦镜头分别位于待装配零件下方和基体零件上方，当待装配零件和基体零件尺寸较大时，上短焦镜头及下短焦镜头扩大成像视场范围，使待装配零件及基体零件能够完全成像在工业相机中。
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公开(公告)号：CN106441133B
公开(公告)日：2019-04-16
申请号：CN201610781612.8
申请日：2016-08-30
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B11/14
Abstract: 本发明公开了一种基于光学测微仪的轴孔配合间隙测量装置及其测量方法，实现了轴和孔在装配过程中的实时测量。装置具体为：一号基座、二号基座和三轴位移台顺次安装在实验底板上；轴套套在待测轴上，轴套通过待测轴安装支座固定安装在二号基座，使得待测轴平行于实验底板，待测轴一端朝向一号基座伸出、另一端朝向三轴位移台伸出。力传感器通过传感器安装组件安装在一号基座上，并在传感器安装组件的控制下做上下直线运动，待测轴朝向一号基座伸出部分位于力传感器的直线运动路径下方。光学测微仪安装在三轴位移台上，通过三轴位移台的调整，使得待测轴朝向三轴位移台伸出部分位于光学测微仪的测量区域中。
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