公开(公告)号：CN105242250B

公开(公告)日：2017-11-24

申请号：CN201510827887.6

申请日：2015-11-25

Applicant: 北京机电工程研究所

Inventor： 郑理 ,  吴亚齐 ,  张松靖 ,  戴全辉 ,  黄兴军

IPC: G01S7/40

Abstract: 本发明属于雷达散射截面积的测量范畴，具体涉及一种面向极低RCS目标测量的定标装置，所述的定标装置包括介质绳和金属圆柱，所述的介质绳为“Y”字型，一端连接金属圆柱，另两端固定于高处，金属圆柱上表面距离中心轴线均匀分布有圆孔，在进行极低RCS目标测量定标时，向圆孔内注射水银可调节金属圆柱水平姿态，解决了圆柱体定标时圆柱体与低散射支架的耦合问题以及介质绳悬挂金属圆柱水平姿态难以保证的难题。

公开(公告)号：CN105242250A

公开(公告)日：2016-01-13

申请号：CN201510827887.6

申请日：2015-11-25

Applicant: 北京机电工程研究所

Inventor： 郑理 ,  吴亚齐 ,  张松靖 ,  戴全辉 ,  黄兴军

IPC: G01S7/40

CPC classification number: G01S7/40

Abstract: 本发明属于雷达散射截面积的测量范畴，具体涉及一种面向极低RCS目标测量的定标装置，所述的定标装置包括介质绳和金属圆柱，所述的介质绳为“Y”字型，一端连接金属圆柱，另两端固定于高处，金属圆柱上表面距离中心轴线均匀分布有圆孔，在进行极低RCS目标测量定标时，向圆孔内注射水银可调节金属圆柱水平姿态，解决了圆柱体定标时圆柱体与低散射支架的耦合问题以及介质绳悬挂金属圆柱水平姿态难以保证的难题。

公开(公告)号：CN105242249A

公开(公告)日：2016-01-13

申请号：CN201510827762.3

申请日：2015-11-25

Applicant: 北京机电工程研究所

Inventor： 黄兴军 ,  张晓钟 ,  戴全辉 ,  郑理 ,  吴亚齐

IPC: G01S7/40

CPC classification number: G01S7/40

Abstract: 本发明属于低RCS背景微波暗室设计范畴，具体涉及一种用于RCS测试的超低背景电平的微波暗室，由屏蔽墙体、转台、馈源系统、金属反射面、支架、吸波材料组成。所述微波暗室通过使用金属屏蔽盖板对升降平台和吊装机构进行电磁屏蔽，在转台上固定了一个由泡沫材料制作的圆柱形支架，使其刚好可以穿过盖板上的圆孔。盖板可以由电机驱动自动打开和关闭。采用屏蔽翻板系统与电控屏蔽门系统、二者开合过程中无需要移除的吸波材料，且吸波材料拼接缝隙小，重复测试过程中背景一致性好，有利于提高测试精度，可广泛应用于低背景电平微波暗室建设中去。