公开(公告)号：CN104459518B

公开(公告)日：2017-08-25

申请号：CN201410706874.9

申请日：2014-11-27

Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 ,  北京微电子技术研究所

Inventor： 王蕊 ,  兰利东 ,  赵元富 ,  周华章 ,  陆振林 ,  舒磊 ,  刘薇 ,  李璟 ,  李楠

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明提供了一种基于SoPC芯片的功能性测试系统及其测试方法，该系统包括串行通信接口测试模块、I2C测试模块、中断处理测试模块、定时器测试模块、计数器测试模块、总线测试模块、模拟开关/ADC测试模块、GPIO测试模块、FPGA配置模块、通信模块和测试控制模块；本发明的自动化测试方法在同一个测试系统中，按照测试需求在一个测试程序中完成SoPC芯片的各个功能模块的测试，避免了传统测试方法中对同一个SoPC芯片不同功能进行测试时，针对各测试项目返回进行编译，可有效缩短测试时间，并降低测试难度和测试操作复杂度。

公开(公告)号：CN104459518A

公开(公告)日：2015-03-25

申请号：CN201410706874.9

申请日：2014-11-27

Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 ,  北京微电子技术研究所

Inventor： 王蕊 ,  兰利东 ,  赵元富 ,  周华章 ,  陆振林 ,  舒磊 ,  刘薇 ,  李璟 ,  李楠

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明提供了一种基于SoPC芯片的功能性测试系统及其测试方法，该系统包括串行通信接口测试模块、I2C测试模块、中断处理测试模块、定时器测试模块、计数器测试模块、总线测试模块、模拟开关/ADC测试模块、GPIO测试模块、FPGA配置模块、通信模块和测试控制模块；本发明的自动化测试方法在同一个测试系统中，按照测试需求在一个测试程序中完成SoPC芯片的各个功能模块的测试，避免了传统测试方法中对同一个SoPC芯片不同功能进行测试时，针对各测试项目返回进行编译，可有效缩短测试时间，并降低测试难度和测试操作复杂度。

公开(公告)号：CN103544085A

公开(公告)日：2014-01-29

申请号：CN201310439332.5

申请日：2013-09-24

Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 ,  北京微电子技术研究所

Inventor： 任永正 ,  王建永 ,  周华章 ,  荣金叶

IPC: G06F11/26

Abstract: 本发明公开了一种微处理器总线驱动能力验证方法，本发明通过提取存储器的输入电参数，根据输入电参数建立阻容网路模型，然后将阻容网络连接在处理器的数据和地址总线上，通过修改阻容网络中的电阻和电容数值，来模拟不同负载情况，测试总线信号上升沿和下降沿的时间，从而得出总线驱动能力，该方法简单，可操作性强，验证效率高。