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公开(公告)号：CN107944073B
公开(公告)日：2021-01-08
申请号：CN201710948205.6
申请日：2017-10-12
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G06F30/392 , G06F115/06
Abstract: 本发明公开了一种用于多通道时间测量的环振集成电路，环振单元沿版图坐标系横向分上下两行排列，上一行环振单元的延迟电路位于环振单元的最下方，沿版图坐标系横轴正方向顺序级联连接，下一行环振单元的延迟电路位于环振单元的最上方，沿版图坐标系横轴负方向顺序级联连接，所有环振单元的延迟电路构成一个首尾相接的延迟链，相邻两个环振单元延迟电路之间的信号延迟时间相等，外部输入的被测信号start在环形延迟链中传输，环振单元在采样控制信号的驱动下并行采集该环振单元延迟电路输出端的状态，实现对同一信号的多通道时间测量。这种环振电路可以提高测量结果的线性度、减少测量误差和提高芯片面积利用率。
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公开(公告)号：CN109634256B
公开(公告)日：2020-08-04
申请号：CN201811436236.4
申请日：2018-11-28
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G05B23/02
Abstract: 本发明公开了一种通用CAN控制器芯片的板级验证系统，包括至少2个CAN控制器节点和1个CAN总线分析仪，CAN控制器节点之间通过CAN总线相互通信，其中一个CAN控制器节点为待测试节点，其余CAN控制器节点为基准节点，待测试节点包括加载有待验证CAN控制器芯片verilog代码的FPGA，FPGA内部包括CAN控制器模块，用于实现CAN控制器芯片的功能，待测试节点与任意一个基准节点分别作为通信链路的收端和发端，运行收发匹配的CAN控制器测试验证程序，实现节点配置与节点间通信，CAN总线分析仪通过监测CAN总线上的数据帧，验证CAN控制器芯片verilog代码的正确性。本发明灵活可控，通用性强。
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公开(公告)号：CN109634256A
公开(公告)日：2019-04-16
申请号：CN201811436236.4
申请日：2018-11-28
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G05B23/02
Abstract: 本发明公开了一种通用CAN控制器芯片的板级验证系统，包括至少2个CAN控制器节点和1个CAN总线分析仪，CAN控制器节点之间通过CAN总线相互通信，其中一个CAN控制器节点为待测试节点，其余CAN控制器节点为基准节点，待测试节点包括加载有待验证CAN控制器芯片verilog代码的FPGA，FPGA内部包括CAN控制器模块，用于实现CAN控制器芯片的功能，待测试节点与任意一个基准节点分别作为通信链路的收端和发端，运行收发匹配的CAN控制器测试验证程序，实现节点配置与节点间通信，CAN总线分析仪通过监测CAN总线上的数据帧，验证CAN控制器芯片verilog代码的正确性。本发明灵活可控，通用性强。
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公开(公告)号：CN115437893A
公开(公告)日：2022-12-06
申请号：CN202210853718.X
申请日：2022-07-11
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 本发明公开一种基于聚类分析的集成电路单粒子效应软错误仿真方法，步骤包括：应用VPI获取目标集成电路内部结构与资源信息；对获取的集成电路内部单元信息按功能相关性进行聚类，得到一定数量的簇；对每簇内单元进行以20％‑40％比例进行随机抽样，并生成故障节点列表；构建用于故障注入的集成电路单粒子效应软错误数字信号等效模型，以簇为单位对抽样单元进行故障注入，并监测故障注入是否引发芯片软错误；统计抽样单元的软错误概率；将抽样单元故障注入评估得到的软错误概率作为簇软错误概率。基于簇软错误概率实现对芯片整体软错误概率的评估与敏感区域定位。本发明实现了故障注入样本的优化，提升了仿真效率，可用于集成电路单粒子效应敏感性分析。
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公开(公告)号：CN110677021B
公开(公告)日：2021-01-08
申请号：CN201910896616.4
申请日：2019-09-23
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种抗地弹噪声的输出驱动电路，属于半导体集成电路领域。该输出驱动电路通过增加逻辑电路在输出驱动PMOS管和NMOS管的开关转换过程中引入一定的延时避免其同时导通，通过控制不同宽长比的驱动管相继开启实现静态和开关过程中电路具有不同的驱动能力。本发明中的输出驱动电路可以有效的减小地弹噪声，并具有较高的驱动能力。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109358295A
公开(公告)日：2019-02-19
申请号：CN201811102946.3
申请日：2018-09-20
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G01R31/40
Abstract: 本发明公开了一种应用于DC-DC的电源故障指示电路，包括基准电路、DC-DC反馈网络、故障比较器电路，其中：DC-DC反馈网络，接收DC-DC的输出电压，并通过电阻分压得到传感电压Vsense，将反馈电压Vsense发送至故障比较电压；基准电路，生成基准电压，并将基准电压分压得到四个比较电压信号发送给故障比较电路；故障比较电路，将反馈电压Vsense值分别与第一比较电压信号、第二比较电压信号、第三比较电压信号、第四比较电压信号进行比较，反馈电压Vsense在上升过程中低于第二比较电压或高于第四比较电压，或者是在下降过程中低于第一比较电压或高于第三比较电压，输出“有效”故障标志信号。本发明能有效地监测DC-DC压降型开关电源的输出电压变化。
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公开(公告)号：CN119651488A
公开(公告)日：2025-03-18
申请号：CN202411153072.X
申请日：2024-08-21
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种高精度欠压保护电路，包括配置电路和比较电路，配置电路用于捕捉芯片输入与输出电压差值的变化情况，通过设置补偿电流来控制欠压阈值；比较电路用于检测并放大芯片输入与输出电压差值。欠压保护电路通过检测输入电压与输出电压差值，与设置的欠压阈值作比较实现对电路的控制功能，在输入电压与输出电压在正常范围波动时，欠压保护电路输出为低电平；当输入电压与输出电压的差值大于欠压阈值时，认为发生负载过载或输出短接地故障，欠压保护电路输出为高电平，控制电路关断，解决了模拟集成电路在使用的过程中由于欠压造成的电路损坏问题。
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公开(公告)号：CN109358295B
公开(公告)日：2021-06-08
申请号：CN201811102946.3
申请日：2018-09-20
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G01R31/40
Abstract: 本发明公开了一种应用于DC‑DC的电源故障指示电路，包括基准电路、DC‑DC反馈网络、故障比较器电路，其中：DC‑DC反馈网络，接收DC‑DC的输出电压，并通过电阻分压得到传感电压Vsense，将反馈电压Vsense发送至故障比较电压；基准电路，生成基准电压，并将基准电压分压得到四个比较电压信号发送给故障比较电路；故障比较电路，将反馈电压Vsense值分别与第一比较电压信号、第二比较电压信号、第三比较电压信号、第四比较电压信号进行比较，反馈电压Vsense在上升过程中低于第二比较电压或高于第四比较电压，或者是在下降过程中低于第一比较电压或高于第三比较电压，输出“有效”故障标志信号。本发明能有效地监测DC‑DC压降型开关电源的输出电压变化。
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公开(公告)号：CN107944073A
公开(公告)日：2018-04-20
申请号：CN201710948205.6
申请日：2017-10-12
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种用于多通道时间测量的环振集成电路，环振单元沿版图坐标系横向分上下两行排列，上一行环振单元的延迟电路位于环振单元的最下方，沿版图坐标系横轴正方向顺序级联连接，下一行环振单元的延迟电路位于环振单元的最上方，沿版图坐标系横轴负方向顺序级联连接，所有环振单元的延迟电路构成一个首尾相接的延迟链，相邻两个环振单元延迟电路之间的信号延迟时间相等，外部输入的被测信号start在环形延迟链中传输，环振单元在采样控制信号的驱动下并行采集该环振单元延迟电路输出端的状态，实现对同一信号的多通道时间测量。这种环振电路可以提高测量结果的线性度、减少测量误差和提高芯片面积利用率。
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公开(公告)号：CN119253533A
公开(公告)日：2025-01-03
申请号：CN202411153070.0
申请日：2024-08-21
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司
IPC: H02H5/04
Abstract: 本发明公开了一种低功耗过温保护电路，包括正温度系数电压产生电路和比较器电路。正温度系数电压产生电路部分用于产生与工作环境温度成正比的电压，比较器电路部分用于检测前级电路产生的电压，当电路温度升高，电压超过设定值，比较器电路输出低电平，后级电路关断，实现过温保护功能，当电路温度重新降低，比较器电路输出恢复正常，后级电路正常工作。本发明结构简单，成本低廉，可广泛应用于总线收发器、驱动器、控制器、保护IC等模拟集成电路。
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