一种用于模块测试的装置

    公开(公告)号:CN109298209A

    公开(公告)日:2019-02-01

    申请号:CN201811055559.9

    申请日:2018-09-11

    Abstract: 本发明公开一种用于模块测试的装置,包括:基座;设于所述基座上方的操作台;位于所述操作台和所述基板之间的滑动机构;设置在操作台上的对接机构。本发明提供的用于模块测试的装置,通过设置滑动机构和对接机构,能够实现两组触点与被测模块同时对位连接,从而一方面能够在单次测试试验的过程中完成两组不同类型触点的对位连接,省时省力,操作时间短;另一方面,滑动机构和对接机构在两个方向上限制被测模块的位移,从而在被测模块位移过程中更加稳定,能够适应集成度更高、体积更小的被测模块的测试,有利于小型化模块的测试试验。

    一种星载Ku波段多通道接收装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117420512A

    公开(公告)日:2024-01-19

    申请号:CN202311310894.X

    申请日:2023-10-10

    Abstract: 本发明实施例公开一种星载Ku波段多通道接收装置。在一具体实施方式中,该装置包括多路接收通道,所述接收通道包括至少一个两级变频单元、一本振信号单元、二本振信号单元、功率检波单元、电源与控制单元、功分器、合成器、耦合器;本发明具有多功能,多通道,高集成,隔离度高,可靠性优良的特点,同时通过紧凑的结构布局,有效减小了模块的体积,实现小型化。

    一种TR组件测试用的固定装置

    公开(公告)号:CN112285660A

    公开(公告)日:2021-01-29

    申请号:CN202010946000.6

    申请日:2020-09-10

    Abstract: 本发明提供一种TR组件测试用的固定装置,所述固定装置包括:散热底座,其上可放置待测TR组件;调节机构,所述调节机构包括限位组件和压紧组件;所述限位组件在所述散热底座上形成可在水平X轴方向调节尺寸的固定区域,通过所述固定区域固定所述待测TR组件;所述压紧组件可在竖直Z轴方向调节高度,并且按压在所述待测TR组件上;本发明提供的固定装置,能够实现多种TR组件尺寸规格通用,采用的散热底座与TR组件直接接触的方式,为TR组件提供了测试平台,且在测试时起到了有效的散热效果,进一步的,采用的调节机构与散热底座在水平和竖直方向上配合固定TR组件,使TR组件与散热底座能够紧密接触,满足TR组件在测试时快速散热需求。

    微组装模块的散热结构及全推组件散热结构的组装方法

    公开(公告)号:CN117096117A

    公开(公告)日:2023-11-21

    申请号:CN202311065335.7

    申请日:2023-08-23

    Abstract: 本发明提供了一种微组装模块的散热结构及全推组件散热结构的组装方法,散热结构包括盒体、无氧铜热沉板、金刚石铜载片、功放芯片,所述功放芯片贴合并固定于金刚石铜载片的上表面,所述金刚石铜载片贴合并固定于无氧铜热沉板的上表面,所述无氧铜热沉板贴合并固定于盒体的底部。本发明通过金刚石铜载片作为第一热沉材料,减小了热阻,提高了功放芯片的散热效率;进而,增加无氧铜热沉板作为第二热沉材料,扩大散热面积,将功放芯片的热量逐级传递到盒体上,提高了散热效率;本发明在功率器件选定且工作模式确定的情况下,通过优化模块散热结构,保证功率放大器工作在其安全的温度范围内。

    一种测试装置
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114428181A

    公开(公告)日:2022-05-03

    申请号:CN202111550364.3

    申请日:2021-12-17

    Inventor: 雷恒宁 高瞻 王龙

    Abstract: 本申请实施例公开一种测试装置,包括:底板;由底板的一侧部边缘向上延伸出的竖向板;竖向板上包括有与被检测件的第一被检测端电连接的第一检测端;位于底板上的移动机构;位于移动机构上的主体结构;主体结构包括用以放置被检测件的第一凹槽;第一凹槽底面具有与被检测件的第二被检测端电连接的第二检测端;底板的上表面的两相对侧边部包括台阶结构;台阶结构包括第一台阶部和第二台阶部;主体结构上包括贯通的导向孔;导向孔中具有导向杆;导向杆底端穿过导向孔至台阶结构上;导向杆位于第一台阶部时,第一被检测端与第一检测端可电连接;当导向杆位于第二台阶部时,导向杆的顶壁高于第一凹槽的底面,可将被检测件的底面与第一凹槽的底面分离。

    一种测试装置
    6.
    发明授权

    公开(公告)号:CN114428181B

    公开(公告)日:2025-05-09

    申请号:CN202111550364.3

    申请日:2021-12-17

    Inventor: 雷恒宁 高瞻 王龙

    Abstract: 本申请实施例公开一种测试装置,包括:底板;由底板的一侧部边缘向上延伸出的竖向板;竖向板上包括有与被检测件的第一被检测端电连接的第一检测端;位于底板上的移动机构;位于移动机构上的主体结构;主体结构包括用以放置被检测件的第一凹槽;第一凹槽底面具有与被检测件的第二被检测端电连接的第二检测端;底板的上表面的两相对侧边部包括台阶结构;台阶结构包括第一台阶部和第二台阶部;主体结构上包括贯通的导向孔;导向孔中具有导向杆;导向杆底端穿过导向孔至台阶结构上;导向杆位于第一台阶部时,第一被检测端与第一检测端可电连接;当导向杆位于第二台阶部时,导向杆的顶壁高于第一凹槽的底面,可将被检测件的底面与第一凹槽的底面分离。

    一种测试工装及其制作方法

    公开(公告)号:CN114221160A

    公开(公告)日:2022-03-22

    申请号:CN202111323793.7

    申请日:2021-11-10

    Inventor: 雷恒宁 熊尚威

    Abstract: 本发明提供一种测试工装及其制作方法,该测试工装包括具有容纳腔的壳体;位于容纳腔内由壳体一侧壁暴露出的输入输出连接器;以及位于容纳腔内由壳体顶壁暴露出的接插器;所述接插器被配置为用以与产品上的插接器插接固定;所述壳体包括有由壳体的顶壁表面向内凹陷形成的卡槽;所述卡槽内配置有楔形锁紧装置;所述楔形锁紧装置包括有可沿竖直方向运动的升降部,所述楔形锁紧装置被配置为通过升降部上升使得产品上的插接器与所述接插器分离。该测试工装能够避免在起拔产品过程中对产品表面造成损伤。

    一种用于模块测试的装置

    公开(公告)号:CN109298209B

    公开(公告)日:2021-02-12

    申请号:CN201811055559.9

    申请日:2018-09-11

    Abstract: 本发明公开一种用于模块测试的装置,包括:基座;设于所述基座上方的操作台;位于所述操作台和所述基板之间的滑动机构;设置在操作台上的对接机构。本发明提供的用于模块测试的装置,通过设置滑动机构和对接机构,能够实现两组触点与被测模块同时对位连接,从而一方面能够在单次测试试验的过程中完成两组不同类型触点的对位连接,省时省力,操作时间短;另一方面,滑动机构和对接机构在两个方向上限制被测模块的位移,从而在被测模块位移过程中更加稳定,能够适应集成度更高、体积更小的被测模块的测试,有利于小型化模块的测试试验。

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