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公开(公告)号：CN105938620A
公开(公告)日：2016-09-14
申请号：CN201610232454.0
申请日：2016-04-14
Applicant: 北京工业大学
CPC classification number: G06T7/0008 , G01N21/8851 , G01N2021/8887 , G06T2207/20084 , G06T2207/30136 , G06T2207/30152
Abstract: 一种小口径管内焊缝表面缺陷识别装置，该装置包括计算机、工业相机、转接头、工业内窥镜、移动便携式光源、内窥镜固定夹具和待测管件。工业相机与计算机相连，转接头一端与工业相机相连，另一端与工业内窥镜相连，可用于焊缝图像的采集。移动便携式光源与工业内窥镜相连，用于提供管内的照明。内窥镜固定夹具与内窥镜相连，用于内窥镜的中心定位、上下调节定位和360°旋转。完成对待测管件内部焊缝表面缺陷的识别检测。
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公开(公告)号：CN105842338B
公开(公告)日：2018-11-13
申请号：CN201610097310.9
申请日：2016-02-22
Applicant: 南京兰博瑞达检测技术有限公司 , 北京工业大学
IPC: G01N29/04
Abstract: 一种用于厚壁管全体积检测的超声内扫描成像系统及方法，本方法以厚壁管扫查器为基础，搭建厚壁管超声检测系统；分别设定激励信号、接收信号相应参数，搭载低频导波探头进行扫查获取内壁大面积缺陷的大概位置与形状，搭载表面波探头扫查后对内壁近表面缺陷的大概位置与形状进行判断；根据导波与表面波扫查结果搭载纵波直探头，分别设定激励信号、接收信号、扫查范围相关参数后进行扫查，将接收到的扫查信号存入计算机；通过观察接收到的扫查信号设置时间窗，并根据扫查范围设置成像参数，对厚壁管进行成像，对厚壁管全体积检测的结果进行直观的表示。
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公开(公告)号：CN117074536A
公开(公告)日：2023-11-17
申请号：CN202310849710.0
申请日：2023-07-12
Applicant: 北京工业大学
Abstract: 本发明公开了一种基于蒙特卡罗马氏链的混频非线性超声检测实验参数优化方法，适用于自动扫查水浸混频非线性超声检测实验，属于无损检测领域。首先确定激励参数需优化的变量及参数变化范围；利用模拟退火对检测参数的初值进行筛选；建立MATLAB与LabVIEW互通传输控制，MATLAB将进行优化的变量组合传递给LabVIEW，LabVIEW将接收信号传输到MATLAB；基于模糊优化理论，将多个混频响应检测效果评价指标的融合，建立混频效应强度评价函数；选定蒙特卡罗马氏链优化方法构建并修正优化参数；进行迭代，根据候选检测组合的接受与否，修改或保持检测参数的采样分布，使其逼近最佳检测参数对应的参数组合分布。本方法克服了实验条件对实验结果的影响，实现了混频超声检测实验多激励参数的优化。
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公开(公告)号：CN107256885A
公开(公告)日：2017-10-17
申请号：CN201710524879.3
申请日：2017-06-30
Applicant: 北京工业大学 , 全球能源互联网研究院 , 国家电网公司 , 国网河北省电力公司
IPC: H01L29/06 , H01L21/331 , H01L29/739
CPC classification number: H01L29/0649 , H01L29/66333 , H01L29/7393
Abstract: 本发明提供了一种高可靠性绝缘栅双极晶体管(IGBT)，包括N型单晶硅衬底，位于衬底上表面的P阱，P阱深度不小于P阱结深的隔离槽及槽底氧化层，相邻隔离槽之间的浮空P阱，紧靠P阱上表面的N+源区，位于N+源区下方且与隔离槽相邻的P+浅阱，位于衬底上表面的栅氧化层，位于两P阱之间的厚度大于栅氧化层的颈区氧化层，颈区氧化层上表面依次设有二氧化硅层、多晶硅层、介质层，跨越并暴露N+源区和P+浅阱并与相邻隔离槽交叠的发射极和发射极接触孔槽，位于衬底下表面的掺杂层和集电极，在常规的自对准平面型IGBT结构基础上，加入隔离槽及槽底局域氧化层结构，改善了IGBT器件的整体性能，使之成为具有抗辐射能力的高可靠性IGBT。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107256885B
公开(公告)日：2022-08-26
申请号：CN201710524879.3
申请日：2017-06-30
Applicant: 北京工业大学 , 全球能源互联网研究院 , 国家电网公司 , 国网河北省电力公司
IPC: H01L29/06 , H01L21/331 , H01L29/739
Abstract: 本发明提供了一种高可靠性绝缘栅双极晶体管(IGBT)，包括N型单晶硅衬底，位于衬底上表面的P阱，P阱深度不小于P阱结深的隔离槽及槽底氧化层，相邻隔离槽之间的浮空P阱，紧靠P阱上表面的N+源区，位于N+源区下方且与隔离槽相邻的P+浅阱，位于衬底上表面的栅氧化层，位于两P阱之间的厚度大于栅氧化层的颈区氧化层，颈区氧化层上表面依次设有二氧化硅层、多晶硅层、介质层，跨越并暴露N+源区和P+浅阱并与相邻隔离槽交叠的发射极和发射极接触孔槽，位于衬底下表面的掺杂层和集电极，在常规的自对准平面型IGBT结构基础上，加入隔离槽及槽底局域氧化层结构，改善了IGBT器件的整体性能，使之成为具有抗辐射能力的高可靠性IGBT。
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公开(公告)号：CN105938620B
公开(公告)日：2018-12-25
申请号：CN201610232454.0
申请日：2016-04-14
Applicant: 北京工业大学
Abstract: 一种小口径管内焊缝表面缺陷识别装置，该装置包括计算机、工业相机、转接头、工业内窥镜、移动便携式光源、内窥镜固定夹具和待测管件。工业相机与计算机相连，转接头一端与工业相机相连，另一端与工业内窥镜相连，可用于焊缝图像的采集。移动便携式光源与工业内窥镜相连，用于提供管内的照明。内窥镜固定夹具与内窥镜相连，用于内窥镜的中心定位、上下调节定位和360°旋转。完成对待测管件内部焊缝表面缺陷的识别检测。
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公开(公告)号：CN106802323A
公开(公告)日：2017-06-06
申请号：CN201710057626.X
申请日：2017-01-22
Applicant: 北京工业大学
CPC classification number: G01N29/221 , G01N29/041 , G01N29/043 , G01N29/069 , G01N29/36 , G01N29/449 , G01N2291/023 , G01N2291/0289
Abstract: 本发明公开了一种基于全矩阵数据的超声全聚焦成像系统，本系统以超声全聚焦成像系统为基础，搭建检测系统；分别设定激励信号、接收信号相应参数，根据成像区域设置激励、接收信号参数；根据想要成像的类型设置激励延时参数；搭载传感器阵列进行全矩阵数据的采集，根据全矩阵数据设置成像的参数对检测区域进行全聚焦成像，对检测的结果进行直观的表示。
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公开(公告)号：CN105842338A
公开(公告)日：2016-08-10
申请号：CN201610097310.9
申请日：2016-02-22
Applicant: 南京兰博瑞达检测技术有限公司 , 北京工业大学
IPC: G01N29/04
CPC classification number: G01N29/04 , G01N2291/023 , G01N2291/0421 , G01N2291/0423 , G01N2291/051
Abstract: 一种用于厚壁管全体积检测的超声内扫描成像系统及方法，本方法以厚壁管扫查器为基础，搭建厚壁管超声检测系统；分别设定激励信号、接收信号相应参数，搭载低频导波探头进行扫查获取内壁大面积缺陷的大概位置与形状，搭载表面波探头扫查后对内壁近表面缺陷的大概位置与形状进行判断；根据导波与表面波扫查结果搭载纵波直探头，分别设定激励信号、接收信号、扫查范围相关参数后进行扫查，将接收到的扫查信号存入计算机；通过观察接收到的扫查信号设置时间窗，并根据扫查范围设置成像参数，对厚壁管进行成像，对厚壁管全体积检测的结果进行直观的表示。
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公开(公告)号：CN205643251U
公开(公告)日：2016-10-12
申请号：CN201620134119.2
申请日：2016-02-22
Applicant: 南京兰博瑞达检测技术有限公司 , 北京工业大学
IPC: G01N29/04
Abstract: 一种用于厚壁管全体积检测的超声内扫描成像系统，本系统以厚壁管扫查器为基础，搭建厚壁管超声检测系统；分别设定激励信号、接收信号相应参数，搭载低频导波探头进行扫查获取内壁大面积缺陷的大概位置与形状，搭载表面波探头扫查后对内壁近表面缺陷的大概位置与形状进行判断；根据导波与表面波扫查结果搭载纵波直探头，分别设定激励信号、接收信号、扫查范围相关参数后进行扫查，将接收到的扫查信号存入计算机；通过观察接收到的扫查信号设置时间窗，并根据扫查范围设置成像参数，对厚壁管进行成像，对厚壁管全体积检测的结果进行直观的表示。
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