一种基于全保偏光纤反射式双折射干涉应变传感器

    公开(公告)号:CN112710248A

    公开(公告)日:2021-04-27

    申请号:CN202011442908.X

    申请日:2020-12-08

    Abstract: 本发明提供一种基于全保偏光纤反射式双折射干涉应变传感器,传感器包括第一保偏光纤、第二保偏光纤和耦合器,第一保偏光纤旋转45°与第二保偏光纤熔接,第二保偏光纤端部涂覆有镀金层;耦合器三端分别连接起偏器、手动检偏器和第一保偏光纤端部。本发明通过错熔保偏光纤作为传感头进行应变实验,装置简单且易于制作;所发明的器件结构简单,稳定性可靠,灵敏度高;成本较低、重复性高,易于实现器件的批量加工。

    一种用于散斑干涉技术的相移原位标定方法及系统

    公开(公告)号:CN119198015A

    公开(公告)日:2024-12-27

    申请号:CN202411339040.9

    申请日:2024-09-25

    Abstract: 本公开涉及一种用于散斑干涉技术的相移原位标定方法及系统。本公开基于散斑干涉技术搭建散斑干涉系统,并且该系统通过相移技术提取相位。通过该系统采集参考散斑干涉图,改变系统中相移器的输入值,逐步引入不同的相移,采集多幅移相后的散斑干涉图。将多幅移相后的散斑干涉图和参考散斑干涉图进行减法运算,得到多幅散斑干涉条纹图。根据多幅散斑干涉图的条纹骨架之间的相对移动距离,确定各自对应的相移量。根据所述相移器的输入值与各自对应的相移量之间的关系,实现相移原位标定。

    一种液体折射率测量方法

    公开(公告)号:CN109709072B

    公开(公告)日:2022-08-16

    申请号:CN201811654139.2

    申请日:2018-12-29

    Abstract: 本发明属于光学测量系统领域,公开一种液体折射率测量方法,包括如下步骤:1)首先建立单光路双重外腔激光回馈效应的理论模型,并分析折射率在设定范围内的双重外腔回馈激光功率调谐曲线;2)搭建单光源双外腔回馈系统,再将一束激光同时入射液体表面和液体底部,并使液体外表面和液体底部的反射光沿原路返回激光谐振腔,构成单光源双外腔回馈系统;3)当入射液体表面升高时,液面高度变化和液面底部光程变化引起的自混合干涉信号叠加在激光器的光强调谐曲线上,通过解调波动曲线频率以获得待测液体的折射率。具有结构简单易调谐、精度高、测量范围大、可溯源等优点。

    一种计数式变栅距光栅位移传感器

    公开(公告)号:CN112710240A

    公开(公告)日:2021-04-27

    申请号:CN202011407808.3

    申请日:2020-12-04

    Abstract: 本发明涉及一种计数式变栅距光栅位移传感器,包括准直光学系统和Y型光纤,准直光学系统设置在传感器内,Y型光纤穿入传感器与准直光学系统一侧相对,传感器外壳内设置有导轨,滑块通过连接轴滑动设置在导轨上,滑动内侧设置有与准直光学系统另一侧相对的反射镜,传感器内部底端设置有与反射镜相对的变栅距光栅。本发明的有益效果是:提供一种计数式变栅距光栅位移传感器,本申请提高了传感器整体精度,降低了对导轨加工精度的要求,增加装置的适用性。

    一种射频标签安检机
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112633022A

    公开(公告)日:2021-04-09

    申请号:CN202011407520.6

    申请日:2020-12-04

    Abstract: 本发明涉及一种射频标签安检机,包括发射器、天线和接收器,天线位于发射器和接收器之间,天线周围分布有电磁场;发射器发射扫频信号,产生扫频信号的电路包括压控振荡集成电路、谐振电感和变容二极管。本发明的有益效果是:提供一种射频标签安检机,不仅便捷高效,还能实现防盗,有效避免商品被盗,减少损失,增加装置的适用性。

    一种物体双侧端面相对三维角位移、变形测量方法和装置

    公开(公告)号:CN118623802A

    公开(公告)日:2024-09-10

    申请号:CN202410734546.3

    申请日:2024-06-07

    Abstract: 本申请实施例公开了一种物体双侧端面相对三维角位移、变形测量方法和装置,所述方法包括:基于两个双光束照明数字散斑干涉光路,测量物体第一端面运动和变形所引起的第一离面相位图和第一面内相位图,同步测量第二端面运动和变形所引起的第二离面相位图和第二面内相位图;根据所述第一离面相位图、第一面内相位图、第二离面相位图和第二面内相位图,确定物体双侧端面的相对俯仰角、相对偏摆角、相对滚转角,以及确定双侧端面各自的变形分布。本申请提供的技术方案可以有效测量物体双侧端面的相对三维角位移及变形。

    一种表面形貌与应变测量方法和装置

    公开(公告)号:CN115265410A

    公开(公告)日:2022-11-01

    申请号:CN202210924647.8

    申请日:2022-08-03

    Abstract: 本申请实施例公开了一种形貌与应变测量方法和装置,所述方法包括:搭建二维光源移动数字剪切散斑干涉光路;根据所述二维光源移动数字剪切散斑干涉光路,同步确定被测物沿两个不同剪切方向的表面斜率以及位移梯度;根据所述不同方向的表面斜率,确定所述被测物的表面形貌;根据所述位移梯度和表面形貌,确定被测物的应变分布。本申请实施例可以有效实现在单次测量中获得沿不同剪切方向的表面斜率,并最终获得表面形貌。同时还可以得到精确的应变分布。

    一种滚转角测量方法和装置
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119468984A

    公开(公告)日:2025-02-18

    申请号:CN202410660775.5

    申请日:2024-05-27

    Abstract: 本申请公开了一种滚转角测量方法和装置。该方法包括:采用点剪切散斑干涉法测量物面滚转所引起的相位变化;根据所述相位变化确定所述物面的滚转角。本申请提供的技术方案可以测量物面滚转角误差,有效提高滚转角的测量速度,使得该方法可以适应工业现场中需要及时反馈滚转角误差的需求。

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