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公开(公告)号:CN119043519A
公开(公告)日:2024-11-29
申请号:CN202411171337.9
申请日:2024-08-23
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G01K11/3206 , G01K1/143 , H01L21/67 , B81C99/00
Abstract: 本发明涉及半导体晶圆监测和温度测量技术领域,特别涉及一种植入式光纤布拉格光栅晶圆温度测量装置,包括:至少一个光纤光栅温度传感器,以无应力方式封装至目标基板晶圆中,用于根据目标基板晶圆的温度变化测量反射光波长信号;至少一个光纤光栅解调仪,至少一个光纤解调仪与光纤光栅温度传感器相连,用于接收并解调反射光波长信号,以获得温度变化信息;处理器,处理器与至少一个光纤光栅解调仪连接,用于根据温度变化信息重构目标基板晶圆的表面温度场分布情况。由此,解决了现有的晶圆原位温度测量装置每个传感器均需要单独引线,但引线会引起额外热容,造成晶圆温度分布局部不均匀,影响温度测量得准确性、且成本高等问题。