公开(公告)号：CN101629989B

公开(公告)日：2011-11-02

申请号：CN200810116656.4

申请日：2008-07-15

Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司

Inventor： 艾伟伟 ,  欧阳秋笙 ,  吴彩峰

IPC: G01R31/28 ,  G01R31/00 ,  G06K7/00

Abstract: 本发明针对智能卡在生产、制造和应用过程中，因应用环境不稳定导致产品性能劣化或功能失效的现象提出了一种测试智能卡可靠性的方法。本方法的测试流程包括：(1)生成测试卡；(2)通过读卡设备，在测试卡电源管脚施加稳定直流电压偏置测量电流ICC1；然后由干扰电路对测试卡电源管脚输入干扰信号，测量电流ICC2，如果ICC2超过正常电流值ICC1的5倍，则中止测试，判断测试失败；如果ICC2在正常电流值ICC1的5倍以内，则继续后面的检验步骤；(3)干扰测试完成后，检验测试卡的性能和功能，如果测试卡的性能劣化或功能失效，则测试结果判定为样品未通过测试；如果测试卡性能和功能正常，则测试结果判定为样品通过测试。

公开(公告)号：CN101629989A

公开(公告)日：2010-01-20

申请号：CN200810116656.4

申请日：2008-07-15

Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司

Inventor： 艾伟伟 ,  欧阳秋笙 ,  吴彩峰

IPC: G01R31/28 ,  G01R31/00 ,  G06K7/00

Abstract: 本发明针对智能卡在生产、制造和应用过程中，因应用环境不稳定导致产品性能劣化或功能失效的现象提出了一种测试智能卡可靠性的方法。本方法的测试流程包括：(1)生成测试卡；(2)通过读卡设备，在测试卡电源管脚施加稳定直流电压偏置测量电流ICC1；然后由干扰电路对测试卡电源管脚输入干扰信号，测量电流ICC2，如果ICC2超过正常电流值ICC1的5倍，则中止测试，判断测试失败；如果ICC2在正常电流值ICC1的5倍以内，则继续后面的检验步骤；(3)干扰测试完成后，检验测试卡的性能和功能，如果测试卡的性能劣化或功能失效，则测试结果判定为样品未通过测试；如果测试卡性能和功能正常，则测试结果判定为样品通过测试。