-
公开(公告)号：CN101629989B
公开(公告)日：2011-11-02
申请号：CN200810116656.4
申请日：2008-07-15
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Abstract: 本发明针对智能卡在生产、制造和应用过程中，因应用环境不稳定导致产品性能劣化或功能失效的现象提出了一种测试智能卡可靠性的方法。本方法的测试流程包括：(1)生成测试卡；(2)通过读卡设备，在测试卡电源管脚施加稳定直流电压偏置测量电流ICC1；然后由干扰电路对测试卡电源管脚输入干扰信号，测量电流ICC2，如果ICC2超过正常电流值ICC1的5倍，则中止测试，判断测试失败；如果ICC2在正常电流值ICC1的5倍以内，则继续后面的检验步骤；(3)干扰测试完成后，检验测试卡的性能和功能，如果测试卡的性能劣化或功能失效，则测试结果判定为样品未通过测试；如果测试卡性能和功能正常，则测试结果判定为样品通过测试。
-
公开(公告)号：CN101629989A
公开(公告)日：2010-01-20
申请号：CN200810116656.4
申请日：2008-07-15
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Abstract: 本发明针对智能卡在生产、制造和应用过程中，因应用环境不稳定导致产品性能劣化或功能失效的现象提出了一种测试智能卡可靠性的方法。本方法的测试流程包括：(1)生成测试卡；(2)通过读卡设备，在测试卡电源管脚施加稳定直流电压偏置测量电流ICC1；然后由干扰电路对测试卡电源管脚输入干扰信号，测量电流ICC2，如果ICC2超过正常电流值ICC1的5倍，则中止测试，判断测试失败；如果ICC2在正常电流值ICC1的5倍以内，则继续后面的检验步骤；(3)干扰测试完成后，检验测试卡的性能和功能，如果测试卡的性能劣化或功能失效，则测试结果判定为样品未通过测试；如果测试卡性能和功能正常，则测试结果判定为样品通过测试。
-
公开(公告)号：CN101364802A
公开(公告)日：2009-02-11
申请号：CN200710119977.5
申请日：2007-08-06
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Abstract: 本发明提供一种测试设备中的毛刺生成方法，该方法支持生成可编程宽度、可编程幅度的毛刺。该电路原理包括：一个逻辑毛刺加入电路10和毛刺控制逻辑电路40，在毛刺控制逻辑电路40的控制下，逻辑毛刺加入电路10用以在一个稳定的信号上叠加一个可控的逻辑上的毛刺信号；一个逻辑电平变换电路20，用以将带有逻辑毛刺的信号电平变换为后级模拟毛刺生成电路30能接受的信号电平；一个模拟毛刺生成电路30，在毛刺控制逻辑电路40的控制下，将电路20变换后的带有毛刺的逻辑信号转换为模拟毛刺信号。本发明的最大特点是，最后形成毛刺的电路部分采用电子器件的开关特性来实现，保证了毛刺变化沿的陡峭性；同时，毛刺脉冲宽度和电压幅度的调节分成不同的电路阶段来实现。本发明适用于测试领域中评估待测试器件对毛刺的抗干扰性能，特别是在极窄毛刺条件下的测试评估。
-
-
Search Results
3
records
(took 0.029 seconds)
