放射线检测装置和放射线成像系统

    公开(公告)号:CN102299161B

    公开(公告)日:2014-05-07

    申请号:CN201110166963.5

    申请日:2011-06-21

    Abstract: 本发明涉及放射线检测装置和放射线成像系统,该放射线检测装置包括半导体基板,每一半导体基板具有第一表面和与第一表面相对的第二表面,光电转换部被形成在第一表面上;闪烁体层,被放置在所述多个半导体基板的第一表面之上,用于将放射线转换为光;以及弹性部件,放置在基体和该第二表面之间,用于支撑该半导体基板的第二表面,从而所述半导体基板的第一表面彼此平齐。当作为单体测量所述弹性部件时,立方体被检查物在被在垂直于第一表面的方向上压缩时在平行于第一表面的方向上的拉伸量小于被检查物在被在平行于第一表面的方向上压缩时在垂直于第一表面的方向上的拉伸量。

    放射线检测装置和放射线成像系统

    公开(公告)号:CN102299161A

    公开(公告)日:2011-12-28

    申请号:CN201110166963.5

    申请日:2011-06-21

    Abstract: 本发明涉及放射线检测装置和放射线成像系统,该放射线检测装置包括半导体基板,每一半导体基板具有第一表面和与第一表面相对的第二表面,光电转换部被形成在第一表面上;闪烁体层,被放置在所述多个半导体基板的第一表面之上,用于将放射线转换为光;以及弹性部件,放置在基体和该第二表面之间,用于支撑该半导体基板的第二表面,从而所述半导体基板的第一表面彼此平齐。当作为单体测量所述弹性部件时,立方体被检查物在被在垂直于第一表面的方向上压缩时在平行于第一表面的方向上的拉伸量小于被检查物在被在平行于第一表面的方向上压缩时在垂直于第一表面的方向上的拉伸量。

    电子源和图像显示装置
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101673652A

    公开(公告)日:2010-03-17

    申请号:CN200910170504.7

    申请日:2009-09-04

    CPC classification number: H01J1/316 H01J31/127 H01J2201/3165 H01J2329/0489

    Abstract: 本申请公开了电子源和图像显示装置。根据本发明的电子源具有多个电子发射器件,其中,电子发射器件中的每一个具有一对电极和设置在所述的一对电极之间以与所述的一对电极电连接的、具有各自电子发射部分的多个导电膜,该电子源包括短路抑制膜,该短路抑制膜位于所述的多个导电膜之间并被设置在电子发射器件上以与所述的一对电极电连接,并且主要包含钨(W)和氮化锗,其中,在短路抑制膜中,钨原子的数量与钨和锗原子的数量的比为0.24或更大,短路抑制膜的表面电阻率不小于1×10 10 Ω/□且不大于1×10 13 Ω/□。

Patent Agency Ranking