光学元件阵列和包括该阵列的固态成像装置

    公开(公告)号:CN104252013B

    公开(公告)日:2016-05-25

    申请号:CN201410299663.8

    申请日:2014-06-27

    Abstract: 本申请公开了光学元件阵列和包括该阵列的固态成像装置。一种光学元件阵列,包括沿第一方向和第二方向布置的多个光学元件。第一光学元件被包括在距光学元件阵列的中心第一距离的位置处。第一光学元件在第一位置处具有第一宽度、第一高度和第一曲率半径以及在第二位置处具有第二宽度、第二高度和第二曲率半径。第一宽度宽于第二宽度,第一高度高于第二高度,并且第一曲率半径小于第二曲率半径。第一位置和第二位置是沿单个方向取得的。

    光学元件阵列和包括该阵列的固态成像装置

    公开(公告)号:CN105319622B

    公开(公告)日:2018-06-12

    申请号:CN201510796237.X

    申请日:2014-06-27

    Abstract: 本申请公开了光学元件阵列和包括该阵列的固态成像装置。一种光学元件阵列,包括沿第一方向和第二方向布置的多个光学元件。第一光学元件被包括在距光学元件阵列的中心第一距离的位置处。第一光学元件在第一位置处具有第一宽度、第一高度和第一曲率半径以及在第二位置处具有第二宽度、第二高度和第二曲率半径。第一宽度宽于第二宽度,第一高度高于第二高度,并且第一曲率半径小于第二曲率半径。第一位置和第二位置是沿单个方向取得的。

    检测器和检测系统
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118472085A

    公开(公告)日:2024-08-09

    申请号:CN202410160053.3

    申请日:2024-02-05

    Abstract: 本发明涉及检测器和检测系统。检测器包括基板和形成在基板的主表面上方的绝缘膜。基板包括转换元件部分和部署在主表面的凹陷部分中的绝缘体区域。转换元件部分包括形成在主表面上并且具有第一导电类型的第一半导体区域、形成在主表面上并且具有第二导电类型的第二半导体区域、以及形成在第一半导体区域和第二半导体区域下方并且具有第一导电类型的第三半导体区域。在对于主表面的平面图中,绝缘体区域在至少一个方向上位于第一半导体区域与第二半导体区域之间。

    光学元件阵列和包括该阵列的固态成像装置

    公开(公告)号:CN105319622A

    公开(公告)日:2016-02-10

    申请号:CN201510796237.X

    申请日:2014-06-27

    Abstract: 本申请公开了光学元件阵列和包括该阵列的固态成像装置。一种光学元件阵列,包括沿第一方向和第二方向布置的多个光学元件。第一光学元件被包括在距光学元件阵列的中心第一距离的位置处。第一光学元件在第一位置处具有第一宽度、第一高度和第一曲率半径以及在第二位置处具有第二宽度、第二高度和第二曲率半径。第一宽度宽于第二宽度,第一高度高于第二高度,并且第一曲率半径小于第二曲率半径。第一位置和第二位置是沿单个方向取得的。

    光学元件阵列和包括该阵列的固态成像装置

    公开(公告)号:CN104252013A

    公开(公告)日:2014-12-31

    申请号:CN201410299663.8

    申请日:2014-06-27

    Abstract: 本申请公开了光学元件阵列和包括该阵列的固态成像装置。一种光学元件阵列,包括沿第一方向和第二方向布置的多个光学元件。第一光学元件被包括在距光学元件阵列的中心第一距离的位置处。第一光学元件在第一位置处具有第一宽度、第一高度和第一曲率半径以及在第二位置处具有第二宽度、第二高度和第二曲率半径。第一宽度宽于第二宽度,第一高度高于第二高度,并且第一曲率半径小于第二曲率半径。第一位置和第二位置是沿单个方向取得的。

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