公开(公告)号：CN117092684A

公开(公告)日：2023-11-21

申请号：CN202310545410.3

申请日：2023-05-15

Applicant: 佳能株式会社

Inventor： 大泽和嵩 ,  渡边高典 ,  山口智奈

IPC: G01T1/24 ,  G01T1/29 ,  H01L27/146

Abstract: 本发明涉及放射线检测器和放射线成像系统。一种放射线检测器包括：像素阵列，其中像素以矩阵形状排列，每个像素具有被配置为将放射线转换为电荷的放射线检测元件和被配置为放大来自放射线检测元件的信号并输出经放大的信号的放大晶体管；以及针对每个像素列提供的信号布线，其中信号布线在平面视图中不与布置有放大晶体管的有源层重叠。

公开(公告)号：CN118472085A

公开(公告)日：2024-08-09

申请号：CN202410160053.3

申请日：2024-02-05

Applicant: 佳能株式会社

Inventor： 和田全平 ,  渡边高典 ,  大泽和嵩

IPC: H01L31/102 ,  H01L31/0352 ,  H01L27/146

Abstract: 本发明涉及检测器和检测系统。检测器包括基板和形成在基板的主表面上方的绝缘膜。基板包括转换元件部分和部署在主表面的凹陷部分中的绝缘体区域。转换元件部分包括形成在主表面上并且具有第一导电类型的第一半导体区域、形成在主表面上并且具有第二导电类型的第二半导体区域、以及形成在第一半导体区域和第二半导体区域下方并且具有第一导电类型的第三半导体区域。在对于主表面的平面图中，绝缘体区域在至少一个方向上位于第一半导体区域与第二半导体区域之间。

公开(公告)号：CN117092683A

公开(公告)日：2023-11-21

申请号：CN202310541425.2

申请日：2023-05-15

Applicant: 佳能株式会社

Inventor： 大泽和嵩 ,  渡边高典 ,  山口智奈

IPC: G01T1/24 ,  G01T1/29 ,  H01L27/146

Abstract: 本发明涉及放射线检测器和放射线成像系统。一种放射线检测器包括：像素阵列，其中像素以矩阵形状排列，每个像素具有被配置为将放射线转换为电荷的放射线检测元件和被配置为放大来自放射线检测元件的信号并输出经放大的信号的放大晶体管；以及针对每个像素列提供的信号布线，其中，设有被形成为在平面视图中包围放射线检测元件的像素隔离结构，并且放大晶体管在平面视图中被布置在由像素隔离结构限定的区域内部。