开关元件
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107180864B

    公开(公告)日:2020-07-14

    申请号:CN201710138580.4

    申请日:2017-03-09

    Abstract: 本发明涉及一种开关元件,并提供一种能够抑制第一金属层产生裂纹的情况,并能够确保开关元件的耐压,且能够降低开关元件导通时的电阻的技术。设置有在半导体基板的上表面上以网眼状延伸的沟槽(栅电极),半导体基板的上表面被层间绝缘膜覆盖。在元件范围内的层间绝缘膜上,于各个单元区的上部设置有接触孔,在围绕范围内,于各个单元区内上表面整体被层间绝缘膜覆盖。第一金属层对层间绝缘膜进行覆盖,并且在接触孔的上部具有凹部。绝缘保护膜对围绕范围内的第一金属层的外周侧的部分进行覆盖。第二金属层在绝缘保护膜的开口内对第一金属层进行覆盖。在围绕范围内设置有延伸至各个沟槽的下侧并与体区导通的第二导电型区域。

    开关元件
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107180864A

    公开(公告)日:2017-09-19

    申请号:CN201710138580.4

    申请日:2017-03-09

    Abstract: 本发明涉及一种开关元件,并提供一种能够抑制第一金属层产生裂纹的情况,并能够确保开关元件的耐压,且能够降低开关元件导通时的电阻的技术。设置有在半导体基板的上表面上以网眼状延伸的沟槽(栅电极),半导体基板的上表面被层间绝缘膜覆盖。在元件范围内的层间绝缘膜上,于各个单元区的上部设置有接触孔,在围绕范围内,于各个单元区内上表面整体被层间绝缘膜覆盖。第一金属层对层间绝缘膜进行覆盖,并且在接触孔的上部具有凹部。绝缘保护膜对围绕范围内的第一金属层的外周侧的部分进行覆盖。第二金属层在绝缘保护膜的开口内对第一金属层进行覆盖。在围绕范围内设置有延伸至各个沟槽的下侧并与体区导通的第二导电型区域。

    半导体装置及其制造方法

    公开(公告)号:CN108346700B

    公开(公告)日:2021-10-12

    申请号:CN201810067250.5

    申请日:2018-01-23

    Abstract: 本发明提供一种半导体装置,其能够抑制表面电极的裂纹并且减轻半导体基板的应力。该半导体装置具有:半导体基板;覆盖所述半导体基板的表面的表面电极;覆盖所述表面电极的表面的一部分的绝缘保护膜;以及对横跨从所述绝缘保护膜的表面至所述表面电极的表面的范围进行覆盖的焊接用金属膜。所述表面电极具有:配置在所述半导体基板上的第一金属膜;与所述第一金属膜的表面接触且具有比所述第一金属膜更高的拉伸强度的第二金属膜;以及第三金属膜,其与所述第二金属膜的表面接触,具有与所述第二金属膜相比较低而与所述第一金属膜相比较高的拉伸强度。

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