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公开(公告)号：CN109188254A
公开(公告)日：2019-01-11
申请号：CN201811259034.7
申请日：2018-10-26
Applicant: 中电科仪器仪表有限公司 , 中国电子科技集团公司第四十一研究所
CPC classification number: G01R31/2851 , G01R35/005
Abstract: 本公开提供了一种用于微波半导体集成电路电气特性测量的校准装置，包括主控单元、微波半导体器件多参数测试设备、校准通道路由单元、功率校准模块、标准信号发生模块和矢量网络分析仪校准模块；其中所述主控单元被配置为通过外部程控与供电功能，接收来自微波半导体器件多参数测试设备的校准配置信息和程控命令；和通过校准通道路由单元为测试端口分别构建相应的输出信号功率校准通道、信号接收特性校准通道和散射参数测试特性校准通道；所述功率校准模块、标准信号发生模块和矢量网络分析仪校准模块被配置为通过单次连接方式进行相应参数特性测试的自动校准。
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公开(公告)号：CN110412496A
公开(公告)日：2019-11-05
申请号：CN201910688561.8
申请日：2019-07-29
Applicant: 中电科仪器仪表有限公司 , 中国电子科技集团公司第四十一研究所
Abstract: 本公开提供了一种集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检电路及方法，包括通道矩阵、信号分析模块和多个测试端口，通道矩阵与多个测试端口适配互联，用于选定测试端口构建相应的自检通道；信号分析模块与通道矩阵通信连接，用于根据通道矩阵构建的自检通道对信号发生与激励类功能电路进行关键特性正常性的自检；由经自检合格的信号发生与激励类的功能电路对所配置的信号接收与分析类功能电路进行关键特性正常性的测试核查；本公开无需再使用外部标准测试仪器设备就可以协同完成多路收发通道的测试功能核查，自检方法简便、经济，测试及应用效率较高，且可在支持测试规模的基础上适配不同配置仪器状态的现场快速自检核查，通用性较强。
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公开(公告)号：CN109188254B
公开(公告)日：2020-11-03
申请号：CN201811259034.7
申请日：2018-10-26
Applicant: 中电科仪器仪表有限公司 , 中国电子科技集团公司第四十一研究所
Abstract: 本公开提供了一种用于微波半导体集成电路电气特性测量的校准装置，包括主控单元、微波半导体器件多参数测试设备、校准通道路由单元、功率校准模块、标准信号发生模块和矢量网络分析仪校准模块；其中所述主控单元被配置为通过外部程控与供电功能，接收来自微波半导体器件多参数测试设备的校准配置信息和程控命令；和通过校准通道路由单元为测试端口分别构建相应的输出信号功率校准通道、信号接收特性校准通道和散射参数测试特性校准通道；所述功率校准模块、标准信号发生模块和矢量网络分析仪校准模块被配置为通过单次连接方式进行相应参数特性测试的自动校准。
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公开(公告)号：CN109490737A
公开(公告)日：2019-03-19
申请号：CN201811261293.3
申请日：2018-10-26
Applicant: 中电科仪器仪表有限公司 , 中国电子科技集团公司第四十一研究所
IPC: G01R31/26 , G01R31/265 , G01R23/18
Abstract: 本公开提供了一种微波半导体器件频率扩展多参数自动测试通用方法及装置，包括一主控单元、若干测试仪器和一测试功能电路；所述主控单元被配置为通过测控总线与各测试仪器和测试功能电路相连；所述测试仪器包括信号发生器、信号/频谱分析仪和矢量网络分析仪，所述测试仪器被配置为接收主控单元命令，并发送相应测试信号至测试功能电路；所述测试功能电路被配置为根据主控单元命令对测试信号进行处理；和以波导形式单次连接被测微波半导体器件，与相应测试仪器协同完成被测微波半导体器件的频率扩展多参数自动测试。
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公开(公告)号：CN111707975B
公开(公告)日：2022-09-02
申请号：CN202010587398.9
申请日：2020-06-24
Applicant: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
IPC: G01R33/032
Abstract: 本公开提出了一种适用于氦光泵磁力仪的射频信号发生系统及方法，系统包括依次连接的初始激励信号发生模块、多通道相参信号发生及调理模块、选通模块以及功率合成输出模块，选通模块用于控制多通道相参信号发生及调理模块每一个通道输出端的接通和断开，功率合成输出模块用于接收选通的通道信号，合成符合磁力仪的氦原子气室及其匹配电路工作要求的射频激励信号。将相参信号发生模块设置为多通道，能够实现其中部分通道相参信号的调整，不影响不进行调整的通道信号，能够提供适应输出射频激励信号功率状态改变而不间断连续激励，最大限度地满足各种原子激光泵浦技术的磁力仪的激励信号提供，实现磁力仪的高稳定性、高测量灵敏度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111683426B
公开(公告)日：2022-04-12
申请号：CN202010586960.6
申请日：2020-06-24
Applicant: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
Abstract: 本发明公开了一种射频激励信号功率调制电路、方法及装置，包括一级调制单元通过低噪放电路与控制单元连接构成一级回路，二级调制单元通过功率放大电路与控制单元连接构成二级回路，三级调制单元与控制单元连接构成三级回路；射频信号发生单元生成初始射频激励信号，控制单元根据预设输出功率控制信号对初始射频激励信号依次通过一级回路、二级回路和三级回路进行功率调制；且经每级回路输出的功率均与预设输出功率控制信号进行比较，并根据比较结果进入下一级回路的功率调制。采用基于多级回路的功率调制，产生多个不同频点的射频激励信号用于使原子受激处于动态平衡状态，实现无极放电原子灯的高稳定度的激光输出频率。
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公开(公告)号：CN110412496B
公开(公告)日：2021-05-07
申请号：CN201910688561.8
申请日：2019-07-29
Applicant: 中电科思仪科技股份有限公司 , 中国电子科技集团公司第四十一研究所
Abstract: 本公开提供了一种集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检电路及方法，包括通道矩阵、信号分析模块和多个测试端口，通道矩阵与多个测试端口适配互联，用于选定测试端口构建相应的自检通道；信号分析模块与通道矩阵通信连接，用于根据通道矩阵构建的自检通道对信号发生与激励类功能电路进行关键特性正常性的自检；由经自检合格的信号发生与激励类的功能电路对所配置的信号接收与分析类功能电路进行关键特性正常性的测试核查；本公开无需再使用外部标准测试仪器设备就可以协同完成多路收发通道的测试功能核查，自检方法简便、经济，测试及应用效率较高，且可在支持测试规模的基础上适配不同配置仪器状态的现场快速自检核查，通用性较强。
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公开(公告)号：CN108089113A
公开(公告)日：2018-05-29
申请号：CN201711209986.3
申请日：2017-11-28
Applicant: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明公开了一种非接触式功率半导体芯片热态电磁学显微装置及方法，属于微波毫米波测试领域，包括减震台、X-Y位移及旋转台、Z位移控制单元、显微探针、匹配网络、第一微波探针、第二微波探针、直流电源、直流探针、四端口矢量网络分析仪以及外置电脑。本发明分辨率高可达到ns级；显微参数为介电常数、损耗角正切及掺杂水平，显微参数对芯片设计更可用；可进行点阵测试，测试效率高；加电方便，可进行微波输入输出，同时进行S参数、驻波比、增益等微波参数测试，放大器正常工作，为热态测试。
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公开(公告)号：CN107576867A
公开(公告)日：2018-01-12
申请号：CN201710727144.0
申请日：2017-08-23
Applicant: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明公开了一种适用于本地主动式时钟工作模式器件综合测试的共时基装置及方法，具体涉及微波测试技术领域。该适用于本地主动式时钟工作模式器件综合测试的共时基装置，包括功分器，功分器的输出端连有异频时钟共时基闭环控制环路和测频模块，异频时钟共时基闭环控制环路的输出端连接滤波器，测频模块和异频时钟共时基闭环控制环路通过数据总线连接主控单元，主控单元通过数据总线连接接口电路，接口电路通过标准程控总线连接上位机。其解决了对只有本地时钟输出端口的器件而言，由于其本地时钟与自身技术特性紧密相关，往往存在与常用测试仪器外部参考时钟(通常为10MHz)之间由于频率差异而无法实现共时基的不足。
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公开(公告)号：CN106053945A
公开(公告)日：2016-10-26
申请号：CN201610520360.3
申请日：2016-07-05
Applicant: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
IPC: G01R27/16
CPC classification number: G01R27/16
Abstract: 本发明公开了一种短时S函数史密斯圆图分析装置及方法，属于测试领域，本发明将网络分析仪中的固态史密斯圆图分析分解为相关电距离的瞬态史密斯圆图，用以分析电缆、连接器、夹具等器部件连阻抗的连续性变化，可以便捷、直观、准确的进行连续阻抗测试，快速直观的给出连续阻抗变换，并补偿了常规方法的测试误差。
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