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公开(公告)号：CN109188254B
公开(公告)日：2020-11-03
申请号：CN201811259034.7
申请日：2018-10-26
Applicant: 中电科仪器仪表有限公司 , 中国电子科技集团公司第四十一研究所
Abstract: 本公开提供了一种用于微波半导体集成电路电气特性测量的校准装置，包括主控单元、微波半导体器件多参数测试设备、校准通道路由单元、功率校准模块、标准信号发生模块和矢量网络分析仪校准模块；其中所述主控单元被配置为通过外部程控与供电功能，接收来自微波半导体器件多参数测试设备的校准配置信息和程控命令；和通过校准通道路由单元为测试端口分别构建相应的输出信号功率校准通道、信号接收特性校准通道和散射参数测试特性校准通道；所述功率校准模块、标准信号发生模块和矢量网络分析仪校准模块被配置为通过单次连接方式进行相应参数特性测试的自动校准。
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公开(公告)号：CN109188254A
公开(公告)日：2019-01-11
申请号：CN201811259034.7
申请日：2018-10-26
Applicant: 中电科仪器仪表有限公司 , 中国电子科技集团公司第四十一研究所
CPC classification number: G01R31/2851 , G01R35/005
Abstract: 本公开提供了一种用于微波半导体集成电路电气特性测量的校准装置，包括主控单元、微波半导体器件多参数测试设备、校准通道路由单元、功率校准模块、标准信号发生模块和矢量网络分析仪校准模块；其中所述主控单元被配置为通过外部程控与供电功能，接收来自微波半导体器件多参数测试设备的校准配置信息和程控命令；和通过校准通道路由单元为测试端口分别构建相应的输出信号功率校准通道、信号接收特性校准通道和散射参数测试特性校准通道；所述功率校准模块、标准信号发生模块和矢量网络分析仪校准模块被配置为通过单次连接方式进行相应参数特性测试的自动校准。
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公开(公告)号：CN109490737A
公开(公告)日：2019-03-19
申请号：CN201811261293.3
申请日：2018-10-26
Applicant: 中电科仪器仪表有限公司 , 中国电子科技集团公司第四十一研究所
IPC: G01R31/26 , G01R31/265 , G01R23/18
Abstract: 本公开提供了一种微波半导体器件频率扩展多参数自动测试通用方法及装置，包括一主控单元、若干测试仪器和一测试功能电路；所述主控单元被配置为通过测控总线与各测试仪器和测试功能电路相连；所述测试仪器包括信号发生器、信号/频谱分析仪和矢量网络分析仪，所述测试仪器被配置为接收主控单元命令，并发送相应测试信号至测试功能电路；所述测试功能电路被配置为根据主控单元命令对测试信号进行处理；和以波导形式单次连接被测微波半导体器件，与相应测试仪器协同完成被测微波半导体器件的频率扩展多参数自动测试。
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公开(公告)号：CN109030986A
公开(公告)日：2018-12-18
申请号：CN201810615011.9
申请日：2018-06-14
Applicant: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
IPC: G01R31/00
CPC classification number: G01R31/00
Abstract: 本发明公开了一种基于触发功能的T/R组件移相精度测试方法及系统，包括：状态控制器在接收到移相开始指令后对T/R组件连续输出N态移相指令，并在每一态移相指令生效后向矢量网络分析仪“外触发输入”端口输出测量同步信号触发扫描，实时监听矢量网络分析仪“外触发就绪”端口测量完成信号，将本次矢量网络分析仪测量完成信号作为下一态移相指令开始信号。本发明有益效果：本发明工控机程控读取矢量网络分析仪测试数据的次数由64次变为1次，提高了测试效率。
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公开(公告)号：CN107526031A
公开(公告)日：2017-12-29
申请号：CN201710727186.4
申请日：2017-08-23
Applicant: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
IPC: G01R31/327
CPC classification number: G01R31/3277
Abstract: 本发明公开了一种基于工作时序控制的微波机械开关测试系统及方法，具体涉及测试技术领域。该系统包括矢量网络分析仪、开关网络、被测开关、第一AC/DC电源模块、第二AC/DC电源模块和PXI机箱，PXI机箱内设有第一高速数字I/O模块和第二高速数字I/O模块；矢量网络分析仪的端口1与开关网络的端口C之间通过电缆a连接，矢量网络分析仪的端口2与被测开关的端口C之间通过电缆b连接，开关网络与被测开关的端口1、端口2、端口3、端口4、端口5和端口6之间分别通过电缆c、电缆d、电缆e、电缆f、电缆g和电缆h连接，开关网络与第一AC/DC电源模块、第一高速数字I/O模块之间通过电缆i连接，被测开关与第二AC/DC电源模块、第二高速数字I/O模块之间通过电缆j连接。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103983955B
公开(公告)日：2017-05-17
申请号：CN201410214386.6
申请日：2014-05-15
Applicant: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
Abstract: 本发明提出了一种收发组件测试中电源监控方法，主线程启动之后，首先控制电源模块的上电顺序，上电成功后开启测试线程和电源监控线程；然后，测试线程完成收发组件的各项功能测试，电源监控线程监测电源输出电压和电流，测试线程和监控线程之间设置线程锁和全局标识变量；主线程结束过程中，正常情况下将先结束测试线程，完成测试数据保存操作后对收发组件顺序断电；反之，则先按顺序关闭电源，再进行测试数据保存操作。本发明的收发组件测试中电源监控方法，达到测试过程中保护被测收发组件的目的，同时以多线程的运行方式实现电源监控保护线程和收发组件测试线程的交互，从而实现测试的有序性和合理性。
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公开(公告)号：CN109001663A
公开(公告)日：2018-12-14
申请号：CN201810615681.0
申请日：2018-06-14
Applicant: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明公开了一种高频衰减可调矩阵插入损耗的校准系统及方法，包括：四端口矢量网络分析仪和衰减可调矩阵；四端口矢量网络分析仪包括依次设置的第一端口、第二端口、第三端口和第四端口；每个端口都配置有测量接收机输入输出信号，源输入输出信号和参考接收机输入输出信号组成的三组跳线。本发明有益效果：实现了多通道并行校准，在通道数量较多和衰减范围较大时，校准速度整体显著提高。利用4端口矢量网络分析仪的8通道接收机并行实现8个通道的快速校准的思路，较之采用传统的双端口矢量网络分析仪的方法，效率明显提高。
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公开(公告)号：CN104932299B
公开(公告)日：2018-10-12
申请号：CN201510213684.8
申请日：2015-04-23
Applicant: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
Abstract: 本发明提出了一种T/R组件测试中电源保护装置，前级电源的输出作为后级电源上电的控制信号；正电源1所需的控制信号采用限幅积分放大电路产生，控制信号来源于负电源；正电源2所需的控制信号采用比例放大电路产生，控制信号来源于负电源和正电源1，不但实现了按照负电源、正电源1、正电源2的顺序进行输出，而且在异常时实现断电顺序的有序调理。本发明的T/R组件测试中电源保护装置，采用硬件方式实现，实时性更强，且不依赖于外界的控制，可以根据电源工作情况自动处理。
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公开(公告)号：CN104808184A
公开(公告)日：2015-07-29
申请号：CN201510210247.0
申请日：2015-04-23
Applicant: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
IPC: G01S7/40
CPC classification number: G01S7/40
Abstract: 本发明提出了一种多T/R组件测试中分级式开关网络装置，采用分级式结构，第一级开关网络内部进行测试仪器资源的分配，形成N组独立使用的测试仪器资源；第二级开关网络为T/R组件测试所需的测试通道组合，通过增加或者更换第二级开关网络实现测试规模增加或测试对象改变。本发明在测试规模扩展的过程中，第一级开关网络将作为整个开关网络的公共部分保持不变，这样测试规模扩展的过程中就充分利用了已有的测试资源，有助于满足柔性、快速和低成本的扩展需求；更换损坏的开关或电缆也非常方便快捷，维修性和测试便利性指标也大有改善，原来的一台开关网络分拆成几台，其内部复杂程度也明显降低。
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公开(公告)号：CN109490737B
公开(公告)日：2021-08-31
申请号：CN201811261293.3
申请日：2018-10-26
Applicant: 中电科思仪科技股份有限公司 , 中国电子科技集团公司第四十一研究所
IPC: G01R31/26 , G01R31/265 , G01R23/18
Abstract: 本公开提供了一种微波半导体器件频率扩展多参数自动测试通用方法及装置，包括一主控单元、若干测试仪器和一测试功能电路；所述主控单元被配置为通过测控总线与各测试仪器和测试功能电路相连；所述测试仪器包括信号发生器、信号/频谱分析仪和矢量网络分析仪，所述测试仪器被配置为接收主控单元命令，并发送相应测试信号至测试功能电路；所述测试功能电路被配置为根据主控单元命令对测试信号进行处理；和以波导形式单次连接被测微波半导体器件，与相应测试仪器协同完成被测微波半导体器件的频率扩展多参数自动测试。
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