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公开(公告)号：CN109188254B
公开(公告)日：2020-11-03
申请号：CN201811259034.7
申请日：2018-10-26
Applicant: 中电科仪器仪表有限公司 , 中国电子科技集团公司第四十一研究所
Abstract: 本公开提供了一种用于微波半导体集成电路电气特性测量的校准装置，包括主控单元、微波半导体器件多参数测试设备、校准通道路由单元、功率校准模块、标准信号发生模块和矢量网络分析仪校准模块；其中所述主控单元被配置为通过外部程控与供电功能，接收来自微波半导体器件多参数测试设备的校准配置信息和程控命令；和通过校准通道路由单元为测试端口分别构建相应的输出信号功率校准通道、信号接收特性校准通道和散射参数测试特性校准通道；所述功率校准模块、标准信号发生模块和矢量网络分析仪校准模块被配置为通过单次连接方式进行相应参数特性测试的自动校准。
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公开(公告)号：CN110350989A
公开(公告)日：2019-10-18
申请号：CN201910683673.4
申请日：2019-07-26
Applicant: 中国电子科技集团公司第四十一研究所 , 中电科仪器仪表有限公司
Abstract: 本公开提供一种检波及校准电路、射频信号发生装置及方法。检波及校准电路包括第一通道选通切换电路，其用于输入射频功率信号，选通正检波模式支路、负检波模式支路和双向检波模式支路中任一支路；支路上对应的正检波元件、负检波元件和双向检波元件，分别设置在设有环境状态传感器的对应恒温密封空间中；第二通道选通切换电路，其用于选通并输出所述第一通道选通切换电路选通的支路对应的检波电压信号；处理器，其用于接收环境状态传感器传送来环境状态信息并与射频功率信号及检波电压信号关联存储；当改变恒温密封空间内环境或射频功率信号中任一者时，利用“射频功率信号-环境状态信息-检波电压信号”三者之间的关联关系，实现相应检波模式下的校准。
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公开(公告)号：CN110289821B
公开(公告)日：2022-12-27
申请号：CN201910709958.0
申请日：2019-07-29
Applicant: 中国电子科技集团公司第四十一研究所 , 中电科仪器仪表有限公司
Abstract: 本公开提供了一种适应工况环境的射频信号输出功率控制电路、方法及装置，在不同的输入功率下获取校准数据，得到最小衰减量与检波电压变化量和输出功率变化量之间的量化关系，将校准数据存储到校准文件中；从校准文件中调用与实际输入功率和输出功率相对应的初始衰减值进行输入功率的衰减；实时采集环境状态传感电压和检波电压，与校准文件中对应环境状态下的检波电压数据进行对比，根据最小衰减量与检波电压变化量和输出功率变化量之间的量化关系自动进行相应衰减量的调整控制；本公开所述的射频信号输出功率稳定性要求优于0.1％甚至更高量级，且能够适应实际应用中的各种不同的工况环境。
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公开(公告)号：CN109188254A
公开(公告)日：2019-01-11
申请号：CN201811259034.7
申请日：2018-10-26
Applicant: 中电科仪器仪表有限公司 , 中国电子科技集团公司第四十一研究所
CPC classification number: G01R31/2851 , G01R35/005
Abstract: 本公开提供了一种用于微波半导体集成电路电气特性测量的校准装置，包括主控单元、微波半导体器件多参数测试设备、校准通道路由单元、功率校准模块、标准信号发生模块和矢量网络分析仪校准模块；其中所述主控单元被配置为通过外部程控与供电功能，接收来自微波半导体器件多参数测试设备的校准配置信息和程控命令；和通过校准通道路由单元为测试端口分别构建相应的输出信号功率校准通道、信号接收特性校准通道和散射参数测试特性校准通道；所述功率校准模块、标准信号发生模块和矢量网络分析仪校准模块被配置为通过单次连接方式进行相应参数特性测试的自动校准。
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公开(公告)号：CN110412496A
公开(公告)日：2019-11-05
申请号：CN201910688561.8
申请日：2019-07-29
Applicant: 中电科仪器仪表有限公司 , 中国电子科技集团公司第四十一研究所
Abstract: 本公开提供了一种集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检电路及方法，包括通道矩阵、信号分析模块和多个测试端口，通道矩阵与多个测试端口适配互联，用于选定测试端口构建相应的自检通道；信号分析模块与通道矩阵通信连接，用于根据通道矩阵构建的自检通道对信号发生与激励类功能电路进行关键特性正常性的自检；由经自检合格的信号发生与激励类的功能电路对所配置的信号接收与分析类功能电路进行关键特性正常性的测试核查；本公开无需再使用外部标准测试仪器设备就可以协同完成多路收发通道的测试功能核查，自检方法简便、经济，测试及应用效率较高，且可在支持测试规模的基础上适配不同配置仪器状态的现场快速自检核查，通用性较强。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110289821A
公开(公告)日：2019-09-27
申请号：CN201910709958.0
申请日：2019-07-29
Applicant: 中国电子科技集团公司第四十一研究所 , 中电科仪器仪表有限公司
Abstract: 本公开提供了一种适应工况环境的射频信号输出功率控制电路、方法及装置，在不同的输入功率下获取校准数据，得到最小衰减量与检波电压变化量和输出功率变化量之间的量化关系，将校准数据存储到校准文件中；从校准文件中调用与实际输入功率和输出功率相对应的初始衰减值进行输入功率的衰减；实时采集环境状态传感电压和检波电压，与校准文件中对应环境状态下的检波电压数据进行对比，根据最小衰减量与检波电压变化量和输出功率变化量之间的量化关系自动进行相应衰减量的调整控制；本公开所述的射频信号输出功率稳定性要求优于0.1％甚至更高量级，且能够适应实际应用中的各种不同的工况环境。
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公开(公告)号：CN110275060A
公开(公告)日：2019-09-24
申请号：CN201910688852.7
申请日：2019-07-29
Applicant: 中国电子科技集团公司第四十一研究所 , 中电科仪器仪表有限公司
Abstract: 本公开提供了一种量子精密磁探测的射频功率相对稳定性测试电路及方法，实时采集待测射频信号的功率测量值，采用阿伦方差进行时域输出功率相对稳定度的表征；实时采集待测射频激励单元所处环境的温湿度信号和校准源测试数据，将由于测试仪器设备自身稳定性以及受环境影响的不稳定因素进行量化和评估；将不稳定因素的量化值从通过待测射频信号测试数据得到的表征结果中去除，获得更为有效的测试评估结果；解决了射频功率在特定取样时间内随机连续性变化趋势的测试问题，实现了对优于0.1％甚至更高量级的射频功率相对稳定性指标的有效表征和评估，并且满足了技术应用的实际需求。
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公开(公告)号：CN109490737A
公开(公告)日：2019-03-19
申请号：CN201811261293.3
申请日：2018-10-26
Applicant: 中电科仪器仪表有限公司 , 中国电子科技集团公司第四十一研究所
IPC: G01R31/26 , G01R31/265 , G01R23/18
Abstract: 本公开提供了一种微波半导体器件频率扩展多参数自动测试通用方法及装置，包括一主控单元、若干测试仪器和一测试功能电路；所述主控单元被配置为通过测控总线与各测试仪器和测试功能电路相连；所述测试仪器包括信号发生器、信号/频谱分析仪和矢量网络分析仪，所述测试仪器被配置为接收主控单元命令，并发送相应测试信号至测试功能电路；所述测试功能电路被配置为根据主控单元命令对测试信号进行处理；和以波导形式单次连接被测微波半导体器件，与相应测试仪器协同完成被测微波半导体器件的频率扩展多参数自动测试。
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公开(公告)号：CN110275060B
公开(公告)日：2021-08-06
申请号：CN201910688852.7
申请日：2019-07-29
Applicant: 中国电子科技集团公司第四十一研究所 , 中电科思仪科技股份有限公司
Abstract: 本公开提供了一种量子精密磁探测的射频功率相对稳定性测试电路及方法，实时采集待测射频信号的功率测量值，采用阿伦方差进行时域输出功率相对稳定度的表征；实时采集待测射频激励单元所处环境的温湿度信号和校准源测试数据，将由于测试仪器设备自身稳定性以及受环境影响的不稳定因素进行量化和评估；将不稳定因素的量化值从通过待测射频信号测试数据得到的表征结果中去除，获得更为有效的测试评估结果；解决了射频功率在特定取样时间内随机连续性变化趋势的测试问题，实现了对优于0.1％甚至更高量级的射频功率相对稳定性指标的有效表征和评估，并且满足了技术应用的实际需求。
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公开(公告)号：CN109030986A
公开(公告)日：2018-12-18
申请号：CN201810615011.9
申请日：2018-06-14
Applicant: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
IPC: G01R31/00
CPC classification number: G01R31/00
Abstract: 本发明公开了一种基于触发功能的T/R组件移相精度测试方法及系统，包括：状态控制器在接收到移相开始指令后对T/R组件连续输出N态移相指令，并在每一态移相指令生效后向矢量网络分析仪“外触发输入”端口输出测量同步信号触发扫描，实时监听矢量网络分析仪“外触发就绪”端口测量完成信号，将本次矢量网络分析仪测量完成信号作为下一态移相指令开始信号。本发明有益效果：本发明工控机程控读取矢量网络分析仪测试数据的次数由64次变为1次，提高了测试效率。
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