公开(公告)号：CN117031228A

公开(公告)日：2023-11-10

申请号：CN202310770210.8

申请日：2023-06-27

Applicant: 中国航天标准化研究所

Inventor： 芮二明 ,  焦强 ,  田雨 ,  刘超铭 ,  高乐 ,  王铭峥

IPC: G01R31/26 ,  G06F30/27 ,  G06F119/02

Abstract: 本发明涉及一种基于FEDformer模型的三极管可靠性分析方法，属于微电子技术领域；采集正常工作状态下的三极管的基区宽度、老化温度和工作电流；计算电流增益的变化Δβ；选取基区宽度、老化温度、电流增益的变化Δβ作为特征数据；进行异常值的处理；进行降噪处理；进行特征缩放处理；进行集合划分；建立FEDformer模型；获得高精度FEDformer模型；获得高精度FEDformer模型的最优参数；判断高精度FEDformer模型是否建立完成；将后续采集的基区宽度和老化温度作为高精度FEDformer模型的输入，后续根据电流增益的变化Δβ评判三极管的可靠性；本发明FEDformer模型总体上NRMSE减少了12.6％，改善可以超过20％，具有更好的建模性能，可靠性建模精度高。

公开(公告)号：CN119355480A

公开(公告)日：2025-01-24

申请号：CN202411809071.6

申请日：2024-12-10

Applicant: 中国航天标准化研究所

Inventor： 芮二明 ,  田雨 ,  刘超铭 ,  王铭峥 ,  付琬月 ,  刘文宝

IPC: G01R31/26

Abstract: 本发明公开了一种基于β值退化的晶体管可靠寿命预测方法，晶体管可靠寿命预测是基于失效物理模型的，与基于数理统计的传统可靠寿命预测方法相比，能够从晶体管微观失效物理入手，更加精准的反映晶体管的敏感参数退化情况，从而提高晶体管可靠寿命预测的精准度；晶体管可靠寿命预测考虑了敏感参数β的初始分布，更加符合晶体管外特性参数的实际情况，并基于此给出了指定可靠度下的寿命预测，对于晶体管的工程应用更加具有指导意义。

公开(公告)号：CN119783332A

公开(公告)日：2025-04-08

申请号：CN202411816702.7

申请日：2024-12-11

Applicant: 中国航天标准化研究所

Inventor： 田雨 ,  孙悦 ,  芮二明 ,  田智文 ,  李晋忠

IPC: G06F30/20 ,  G01J5/90 ,  G06F119/02 ,  G06F119/08 ,  G06F119/14

Abstract: 本发明提出了一种大面阵红外焦平面探测器低温可靠性评价方法，包括采用仿真定性分析和测试定量分析结合的方式，对大面阵红外焦平面探测器进行低温可靠性评价；利用仿真计算来确定低温时芯片受力最大的区域，进而进行冷头结构低温面形测试，并计算低温时冷头基板平面度；以低温平面度和常温平面度的偏离，对探测器低温可靠性进行评价，并通过仿真结果和测试结果的交叉验证，提高评价的准确性。