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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113109645A
公开(公告)日：2021-07-13
申请号：CN202110277632.2
申请日：2021-03-15
Applicant: 中国航天标准化研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明涉及一种倒封装器件单粒子评估方法，包括：样品准备；试验装置安装调试；选择离子能量；确定离子到达有源区时的有效LET和射程，如果到达有源区有效，LET值满足试验所要的LET值要求，则采用直接辐照方法开始辐照，否则按照一定原则，选择如下辐照方法：衬底减薄；正封装替代；敏感区评估；局部裸露制样；键合封装制样；单元库推导；离子辐照：按试验方案要求，选择合适的离子，进行辐照；效应检测；绘制单粒子事件截面与入射离子有效LET值的关系曲线。本发明提出七种评估方法，适应各类倒装焊器件特点，可以对宇航用倒装焊器件的单粒子效应做出评价，服务于航天型号，解决宇航倒装焊器件单粒子评估方法缺失问题。
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公开(公告)号：CN113092200A
公开(公告)日：2021-07-09
申请号：CN202110277641.1
申请日：2021-03-15
Applicant: 中国航天标准化研究所
IPC: G01N1/28 , G01N1/32 , G01N23/203
Abstract: 本发明涉及一种快速获取镍电极陶瓷电容器晶粒度的方法，包括：采用切割机或粗磨方式，切割或研磨样品，使样品观察区域裸露在外；采用热镶嵌方式将样品进行固定，除样品观察区域外，均被具有导电性的热镶嵌料包裹；采用粗磨砂纸，对样品观察区域进行研磨，在50倍显微镜下可观察到镍电极和电极间的端头；采用金刚石磨盘并添加金刚石抛光液，对粗磨后的样品观察区域进行细磨，在100倍显微镜下可清晰观察到样品观察区域表面划痕数不多于5条。本发明采用物理制样，与现有化学腐蚀相比，在不破坏原有的晶粒形貌的基础上，更好的得到晶粒原始形貌，简便快捷的获取镍电极陶瓷电容器晶粒度。
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公开(公告)号：CN117031228A
公开(公告)日：2023-11-10
申请号：CN202310770210.8
申请日：2023-06-27
Applicant: 中国航天标准化研究所
IPC: G01R31/26 , G06F30/27 , G06F119/02
Abstract: 本发明涉及一种基于FEDformer模型的三极管可靠性分析方法，属于微电子技术领域；采集正常工作状态下的三极管的基区宽度、老化温度和工作电流；计算电流增益的变化Δβ；选取基区宽度、老化温度、电流增益的变化Δβ作为特征数据；进行异常值的处理；进行降噪处理；进行特征缩放处理；进行集合划分；建立FEDformer模型；获得高精度FEDformer模型；获得高精度FEDformer模型的最优参数；判断高精度FEDformer模型是否建立完成；将后续采集的基区宽度和老化温度作为高精度FEDformer模型的输入，后续根据电流增益的变化Δβ评判三极管的可靠性；本发明FEDformer模型总体上NRMSE减少了12.6％，改善可以超过20％，具有更好的建模性能，可靠性建模精度高。
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公开(公告)号：CN113109645B
公开(公告)日：2023-06-30
申请号：CN202110277632.2
申请日：2021-03-15
Applicant: 中国航天标准化研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明涉及一种倒封装器件单粒子评估方法，包括：样品准备；试验装置安装调试；选择离子能量；确定离子到达有源区时的有效LET和射程，如果到达有源区有效，LET值满足试验所要的LET值要求，则采用直接辐照方法开始辐照，否则按照一定原则，选择如下辐照方法：衬底减薄；正封装替代；敏感区评估；局部裸露制样；键合封装制样；单元库推导；离子辐照：按试验方案要求，选择合适的离子，进行辐照；效应检测；绘制单粒子事件截面与入射离子有效LET值的关系曲线。本发明提出七种评估方法，适应各类倒装焊器件特点，可以对宇航用倒装焊器件的单粒子效应做出评价，服务于航天型号，解决宇航倒装焊器件单粒子评估方法缺失问题。
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