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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113109645A
公开(公告)日：2021-07-13
申请号：CN202110277632.2
申请日：2021-03-15
Applicant: 中国航天标准化研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明涉及一种倒封装器件单粒子评估方法，包括：样品准备；试验装置安装调试；选择离子能量；确定离子到达有源区时的有效LET和射程，如果到达有源区有效，LET值满足试验所要的LET值要求，则采用直接辐照方法开始辐照，否则按照一定原则，选择如下辐照方法：衬底减薄；正封装替代；敏感区评估；局部裸露制样；键合封装制样；单元库推导；离子辐照：按试验方案要求，选择合适的离子，进行辐照；效应检测；绘制单粒子事件截面与入射离子有效LET值的关系曲线。本发明提出七种评估方法，适应各类倒装焊器件特点，可以对宇航用倒装焊器件的单粒子效应做出评价，服务于航天型号，解决宇航倒装焊器件单粒子评估方法缺失问题。
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公开(公告)号：CN107958367A
公开(公告)日：2018-04-24
申请号：CN201711068818.7
申请日：2017-11-03
Applicant: 中国航天标准化研究所
CPC classification number: G06Q10/103 , G06F17/30368
Abstract: 一种航天元器件状态控制系统，包括状态确认表构建模块、状态确认模块、状态变更监控模块；本发明系统性地确定了一种航天元器件状态控制系统的组成结构及功能，是实现一种航天元器件状态控制的载体。本发明通过状态确认模块和状态控制子模块确定了一种航天元器件状态控制系统内部模块之间信息反馈及传递机制，能够实现对状态的控制，确保状态确认文件和状态控制目录准确且持续地进行迭代更新。
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公开(公告)号：CN113109645B
公开(公告)日：2023-06-30
申请号：CN202110277632.2
申请日：2021-03-15
Applicant: 中国航天标准化研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明涉及一种倒封装器件单粒子评估方法，包括：样品准备；试验装置安装调试；选择离子能量；确定离子到达有源区时的有效LET和射程，如果到达有源区有效，LET值满足试验所要的LET值要求，则采用直接辐照方法开始辐照，否则按照一定原则，选择如下辐照方法：衬底减薄；正封装替代；敏感区评估；局部裸露制样；键合封装制样；单元库推导；离子辐照：按试验方案要求，选择合适的离子，进行辐照；效应检测；绘制单粒子事件截面与入射离子有效LET值的关系曲线。本发明提出七种评估方法，适应各类倒装焊器件特点，可以对宇航用倒装焊器件的单粒子效应做出评价，服务于航天型号，解决宇航倒装焊器件单粒子评估方法缺失问题。
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公开(公告)号：CN107958367B
公开(公告)日：2021-08-10
申请号：CN201711068818.7
申请日：2017-11-03
Applicant: 中国航天标准化研究所
Abstract: 一种航天元器件状态控制系统，包括状态确认表构建模块、状态确认模块、状态变更监控模块；本发明系统性地确定了一种航天元器件状态控制系统的组成结构及功能，是实现一种航天元器件状态控制的载体。本发明通过状态确认模块和状态控制子模块确定了一种航天元器件状态控制系统内部模块之间信息反馈及传递机制，能够实现对状态的控制，确保状态确认文件和状态控制目录准确且持续地进行迭代更新。
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公开(公告)号：CN106645216A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201611031477.1
申请日：2016-11-18
Applicant: 中国航天标准化研究所 , 哈尔滨工业大学
IPC: G01N23/00
CPC classification number: G01N23/00 , G01N2223/632
Abstract: 本发明提供了一种绝缘材料在轨性能退化的预测方法，包括如下步骤：提供辐射源及绝缘材料；用所述辐射源对所述绝缘材料进行辐照；对所述绝缘材料进行特征性能测试，获得特征曲线；对所述绝缘材料进行空间环境模拟计算，获得所述绝缘材料在预计寿命内的累积电离吸收剂量；根据所述累积电离吸收剂量在所述特征曲线内查找所述绝缘材料对应的特征性能参数值，预测所述绝缘材料在轨性能退化状况。本发明建立了合理统一的机电元件用绝缘材料在轨性能退化的预测方法，支撑航天工程星箭系统配套电线电缆、继电器、电连接器元件的考核评价工作，对航天器寿命预测和可靠性研究有着重要的意义。
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