一种电子产品加速贮存寿命试验评估方法

    公开(公告)号:CN116244882A

    公开(公告)日:2023-06-09

    申请号:CN202211431202.2

    申请日:2022-11-14

    Abstract: 本发明公开了一种电子产品加速贮存寿命试验评估方法,将加速贮存试验分为恒定温度试验和温度步进试验两部分进行,温度步进试验在时间上接续在恒定温度试验之后;恒定温度试验中,将确定的试验品数量的受试产品置于恒定温度下经过所述试验时间,而温度步进试验则是在恒定温度试验的试验温度基础上按照一设定的温度梯度升温,直至试验品全部出现故障,并记录试验品出现故障时的温度和试验时长以及对应的失效元器件,形成失效的薄弱环节清单,并分析试验的加速因子,进一步计算受试产品的安全贮存期或危险贮存寿命;使用本发明能够提升电子产品贮存寿命或贮存期指标验证的高效性和准确性。

    基于多级加速因子的弹上电子产品贮存期加速试验方法

    公开(公告)号:CN111880023B

    公开(公告)日:2023-05-16

    申请号:CN202010550156.2

    申请日:2020-06-16

    Abstract: 本发明公开了基于多级加速因子的弹上电子产品贮存期加速试验方法,能够计算出的试验时间更加符合武器装备电子产品的真实贮存期,从而使得验证结果更精确。该方法具体为:获取弹上电子装备的贮存期及贮存可靠度。对弹上电子装备所有的电子元器件获取激活能和失效率,并按照失效率降序排序并设定权重,所有电子元器件的激活能加权求和作为弹上电子装备的激活能;确定贮存期加速试验的最高应力和最低应力,并划分应力等级;选取加速试验模型,结合弹上电子装备的激活能,针对所划分的每个应力等级均求解一个加速因子;结合弹上电子装备的贮存期、贮存可靠度以及所有加速因子之和,确定试验时间ta;针对每个应力等级,均进行为期ta的贮存期加速试验。

    一种电子产品加电寿命试验验证方法

    公开(公告)号:CN117371170A

    公开(公告)日:2024-01-09

    申请号:CN202311109717.5

    申请日:2023-08-30

    Abstract: 一种电子产品加电寿命试验验证方法,包括以下步骤:搜集电子产品及其相似产品的加电寿命相关数据信息;获取电子产品的故障机理模型和模型参数;加速试验温度确定和不同故障机理加速因子计算;产品加速因子及加速试验时间计算;实施加速试验,对加电寿命进行验证评估。该方法采用故障机理模型和试验验证风险率来设计加速试验,克服了现有技术中可靠性预计需要较多样本、加速因子不能根据工程需要选择以及偶然失效的不足,提高了加速试验设计的准确性,还减少了试验样本量,满足工程上需求。

    一种基于多应力加速寿命模型的试验时间计算方法

    公开(公告)号:CN111141977B

    公开(公告)日:2022-08-02

    申请号:CN201911389944.1

    申请日:2019-12-30

    Abstract: 本发明提供一种基于多应力加速寿命模型的试验时间计算方法,解决了多应力条件下(振动、温度、湿度、电等多种应力参数)电子产品贮存期验证的问题。步骤一、分析贮存期指标,得到运输时间,存放时间,加电待机时间;步骤二、分解贮存剖面,得到运输阶段的振动量级、存放阶段的温度湿度值、加电待机阶段的电压值;步骤三、分析试验应力,得到运输阶段的振动应力、存放阶段的最高温度应力和最高湿度应力、加电待机阶段的最高电应力;步骤四、计算运输阶段的加速因子、存放阶段的加速因子和加电待机阶段的加速因子;步骤五、根据加速因子计算试验时间。

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