公开(公告)号：CN117371170A

公开(公告)日：2024-01-09

申请号：CN202311109717.5

申请日：2023-08-30

Applicant: 中国航天标准化研究所

Inventor： 蔡健平 ,  向刚 ,  徐洪武 ,  伍招冲 ,  张晓军 ,  刘艳荣 ,  李觐柱

IPC: G06F30/20 ,  G01R31/00 ,  G06F119/02 ,  G06F119/08 ,  G06F119/14

Abstract: 一种电子产品加电寿命试验验证方法，包括以下步骤：搜集电子产品及其相似产品的加电寿命相关数据信息；获取电子产品的故障机理模型和模型参数；加速试验温度确定和不同故障机理加速因子计算；产品加速因子及加速试验时间计算；实施加速试验，对加电寿命进行验证评估。该方法采用故障机理模型和试验验证风险率来设计加速试验，克服了现有技术中可靠性预计需要较多样本、加速因子不能根据工程需要选择以及偶然失效的不足，提高了加速试验设计的准确性，还减少了试验样本量，满足工程上需求。