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公开(公告)号：CN116503284B
公开(公告)日：2024-12-10
申请号：CN202310487609.5
申请日：2023-05-04
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明涉及一种基于三段式在轨图像去阶梯处理方法，属于图像处理技术领域，解决了条带图像拼接后出现阶梯以及由于不同条带图像拼接后图像拉伸程度不同而导致的图像块效应的问题，该方法首先将待校正的条带图像分为四个区域，分别是保持区域、sin区域、线性区域和渐晕区域；根据待校正图像拐点的位置，构建四个区域不同的拉伸系数，利用不同的拉伸系数对相应的区域进行拉伸处理，能够有效去除条带内阶梯的现象，避免块效应。本发明的方法根据图像的自身特点，自适应求解拉伸系数，使得图像均匀过渡，避免出现阶梯效果。
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公开(公告)号：CN117249975A
公开(公告)日：2023-12-19
申请号：CN202311207470.0
申请日：2023-09-19
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及一种大口径光学成像系统次镜高精度定标方法，属于光学成像系统技术领域，该方法通过在主镜左右附近安装两个测量相机，对同一次镜上的靶条进行成像，根据双目视觉原理，求解出次镜偏移量，从而根据偏移量对次镜完成定标，该方法转动角求解精度可达角秒级别，平移量求解精度可达nm级别，具有次镜定标精度高的优点，经过高精度定标后的次镜能够提高成像系统的像质，同时为后续对成像系统的状态补偿和调整奠定基础。
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公开(公告)号：CN111031309A
公开(公告)日：2020-04-17
申请号：CN201911363922.8
申请日：2019-12-26
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 大面阵CMOS图像传感器参数自动测试装置，涉及光学遥感图像成像技术领域，解决现有图像传感器测试系统均针对小面阵CMOS测试，且测试系统不完善，无法满足使用需要等问题，包括FPGA图像转换模块、图像采集卡和测试模块；CMOS图像传感器输出图像经FPGA图像转换模块进行图像格式的转换，通过图像采集卡进行图像的采集和存储，然后通过测试模块对所述CMOS图像传感器的性能指标进行实时计算和分析。本发明的测试装置的测试过程只需要测试人员提前设置好测试内容、测试参数等，测试过程全自动进行。本发明所述的自动测试装置，操作简单，运行稳定，体积小，功耗低，简单便携。
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公开(公告)号：CN110596891A
公开(公告)日：2019-12-20
申请号：CN201910885338.2
申请日：2019-09-19
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G02B27/00
Abstract: 本发明涉及一种大视场星敏感器光学系统畸变自动标定方法，包括：设定星敏感器的成像分辨率，像元角分辨率、主点、分区步长初值、最大畸变和各分区内定标点个数；以S(1)为分区步长，计算中心区域内定标点的二维转台编码器角度信息，计算该级分区内所有畸变标定点的最大畸变；当D_max(1)≤D0时，设第N级分区的步长细分份数；计算第N级分区步长，计算各分区内二维转台的角度信息，计算该级分区内最大畸变，以及计算已定标区域的边长；当D_max(N)≤D0时，输出该级分区内各区域畸变修正系数；当Stot≥M时，星敏感器光学系统畸变标定过程结束。本发明能够保证大视场星敏感器光学系统畸变标定的整体精度，同时避免了分区步长选择不合理造成的重复定标工作量。
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公开(公告)号：CN117611471B
公开(公告)日：2024-04-09
申请号：CN202410088342.7
申请日：2024-01-22
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明涉及图像处理技术领域，尤其涉及一种基于纹理分解模型的高动态图像合成方法。包括：S1：获取同一场景下的长曝光和短曝光待分解图像，并分别输入至纹理分解模型，对应获得长曝光和短曝光待分解图像的结构图和纹理图；S2：根据长曝光和短曝光待分解图像的结构图和纹理图，计算获得结构图和纹理图对应的结构图权重系数矩阵和纹理图权重系数矩阵；S3：将长曝光和短曝光待分解图像的纹理图权重系数矩阵和结构图权重系数矩阵进行归一化处理，获得待合成纹理图像和待合成结构图像；S4：将待合成纹理图像和待合成结构图像进行合成，获得高动态图像。本发明能够解决低照度图像对比度低、噪声大问题，具有还原结构信息，避免块效应的效果。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109905701B
公开(公告)日：2020-07-31
申请号：CN201910231278.2
申请日：2019-03-26
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 时间同步精度的检测系统，涉及一种时间同步精度的检测系统，为解决现有成像单元的外部检测设备在无输出曝光时刻起始信号的情况下，无法进行对比时间戳信息的产生，同时，还需要测试出曝光时刻起始信号从成像单元内部输出的延时及送入外部检测设备的延时等问题，包括底台单元、时间同步检测单元、图像采集单元和n组CMOS成像单元；本发明在成像单元内部产生时间戳信息，而不需要进行时间戳信息的来回传送；基于精简的white rabbit协议，通过对比更高频率稳定度晶体的时间戳信息，进行时间同步精度的检测。
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公开(公告)号：CN110596891B
公开(公告)日：2020-07-24
申请号：CN201910885338.2
申请日：2019-09-19
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G02B27/00
Abstract: 本发明涉及一种大视场星敏感器光学系统畸变自动标定方法，包括：设定星敏感器的成像分辨率，像元角分辨率、主点、分区步长初值、最大畸变和各分区内定标点个数；以S(1)为分区步长，计算中心区域内定标点的二维转台编码器角度信息，计算该级分区内所有畸变标定点的最大畸变；当D_max(1)≤D0时，设第N级分区的步长细分份数；计算第N级分区步长，计算各分区内二维转台的角度信息，计算该级分区内最大畸变，以及计算已定标区域的边长；当D_max(N)≤D0时，输出该级分区内各区域畸变修正系数；当Stot≥M时，星敏感器光学系统畸变标定过程结束。本发明能够保证大视场星敏感器光学系统畸变标定的整体精度，同时避免了分区步长选择不合理造成的重复定标工作量。
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公开(公告)号：CN111307292A
公开(公告)日：2020-06-19
申请号：CN202010221167.6
申请日：2020-03-26
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G01J5/00
Abstract: 本发明提出了一种双波段辐射测温系统的定标方法及装置，包括：将所选定的双波段分解为两个波段的测量波，并使所述两个波段的测量波分别经过测量通道；分别对两个波段的测量波进行辐射标定，得到标定结果；根据标定结果建立双波段测量波的测量模型，以完成对双波段测量波的标定。本发明通过修正环境温度对辐射定标偏置的影响，实现了环境温度变化情况下的双波段辐射测量系统定标和测量方法，该方法在双波段测量和定标环境温度不一致情况下，无需重新定标即可实现定标和测量比值的计算，进而通过双波段测量比值和定标比值的比较确定被测目标温度。该方法在恶劣环境或者定标和测量过程存在延迟的情况下，具有非常重要的实际意义。
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公开(公告)号：CN107677375B
公开(公告)日：2020-03-06
申请号：CN201710858009.X
申请日：2017-09-21
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 一种红外辐射测量系统定标装置及定标方法涉及光电辐射测量技术领域，通过考虑定标辐射源表面反射的环境辐射、系统内部杂散辐射和探测器固定输出，将线性辐射定标模型细分，并使用本发明的定标装置模拟控制环境温度，在两个不同的环境温度时，分别采集两个定标温度点辐射源的定标图像，通过数据处理实现辐射定标模型中参数的确定，实现非黑体定标。本发明利用简易的结构、简单的操作和数据处理实现了红外辐射测量系统的非黑体定标，定标时不要求辐射源的高发射率和高表面均匀性，避免了红外辐射测量系统定标对黑体的依赖，具有成本低和辐射范围广的优点，为大口径红外辐射测量系统高动态范围定标提供了一种简单有效的途径。
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