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公开(公告)号：CN113141478A
公开(公告)日：2021-07-20
申请号：CN202110427649.1
申请日：2021-04-21
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 一种可控的串行图像数据动态校正训练方法，涉及一种CMOS图像传感器的校正方法，解决现有技术中进行图像数据校正训练时，易出现温度变化引起图像变模糊，以及进行重新的位校正导致字校正和通道校正错误等问题，本发明提出基于温度传感器的可选查找表训练方法，首先在不同的工作温度下对探测器进行训练，检测出最佳的采样位置、字校正位置和通道校正位置；通过多次的训练，判断出不同温度下的最佳采样位置，然后将各训练参数进行存储。开机摄像采用训练的方式，而在摄像阶段采用查找表的方式进行训练参数替换。
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公开(公告)号：CN111031309A
公开(公告)日：2020-04-17
申请号：CN201911363922.8
申请日：2019-12-26
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 大面阵CMOS图像传感器参数自动测试装置，涉及光学遥感图像成像技术领域，解决现有图像传感器测试系统均针对小面阵CMOS测试，且测试系统不完善，无法满足使用需要等问题，包括FPGA图像转换模块、图像采集卡和测试模块；CMOS图像传感器输出图像经FPGA图像转换模块进行图像格式的转换，通过图像采集卡进行图像的采集和存储，然后通过测试模块对所述CMOS图像传感器的性能指标进行实时计算和分析。本发明的测试装置的测试过程只需要测试人员提前设置好测试内容、测试参数等，测试过程全自动进行。本发明所述的自动测试装置，操作简单，运行稳定，体积小，功耗低，简单便携。
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公开(公告)号：CN116456076A
公开(公告)日：2023-07-18
申请号：CN202310473825.4
申请日：2023-04-27
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: H04N17/00
Abstract: TDICMOS的调制传递函数测试方法，涉及TDICMOS测试技术领域，解决现有TDICMOS探测器的调制传递函数测试中，难以识别判读有用的图像数据的问题，本发明先采用面阵工作模式进行探测器与目标相对姿态位置的调整，然后再切换到线阵工作模式。TDICMOS探测器的栅转移控制信号在电荷转移阶段正常输出，而在曝光阶段禁止输出；数据有效信号在有栅转移控制信号时输出周期性的高低电平信号，否则为恒定的电平。全色和多光谱的电荷转移级数设置为可用的最大级数，循环帧周期长度为整数倍关系。保证全色和多光谱图像同步传输，接收到的各帧图像中全色和多光谱图像都是相对稳定的。
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公开(公告)号：CN113452939A
公开(公告)日：2021-09-28
申请号：CN202110727790.3
申请日：2021-06-29
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: TDICMOS滚动行周期下成像效果评估方法，涉及TDICMOS成像效果评估技术领域，首先根据不同行周期下得到的电荷转移信号跳变沿位置，统计出各驱动信号的高电平起始和结束位置及在一个行周期内同一个驱动信号出现上升沿或下降沿的次数；然后逐个电荷转移信号进行上升和下降沿位置的比较，重新计算上升沿位置；接着计算每次电荷转移的质心位置等于上升和下降沿位置之和；计算出各步骤下的质心之间的间距；最后根据电荷转移的相数和对应行周期下的各质心的间距计算得到当前的动态传递函数值。本发明通过上升和下降沿的相对位置判断，可以方便进行质心位置的计算，避免冗余转换而出现的错误。
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公开(公告)号：CN115033519B
公开(公告)日：2023-07-25
申请号：CN202210757591.1
申请日：2022-06-30
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 长时间工作的探测器SPI寄存器的预防打翻方法，涉及探测器SPI寄存器的预防打翻方法，解决现有技术容易出现高能粒子把探测器内部寄存器打翻而出现错误的寄存器值被执行，存在影响最终的输出图像质量，及造成CMOS探测器的损坏等问题，本方法通过内部设置的定时器，定时从存储成像参数的RAM中读出寄存器值并经并串转化后送入探测器。通过与成像控制器的交互握手，在接收新的成像参数后写入RAM中；在无新成像参数时，将三个RAM中的成像参数进行比较，将不一致的RAM内的数据进行相同修改。控制器并根据摄像任务间隔时间的长短，选择定时给成像单元发送成像参数；或将探测器下电后重新上电再发成像参数；或整个焦面下电后再上电，探测器上电后再发成像参数。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115033519A
公开(公告)日：2022-09-09
申请号：CN202210757591.1
申请日：2022-06-30
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 长时间工作的探测器SPI寄存器的预防打翻方法，涉及探测器SPI寄存器的预防打翻方法，解决现有技术容易出现高能粒子把探测器内部寄存器打翻而出现错误的寄存器值被执行，存在影响最终的输出图像质量，及造成CMOS探测器的损坏等问题，本方法通过内部设置的定时器，定时从存储成像参数的RAM中读出寄存器值并经并串转化后送入探测器。通过与成像控制器的交互握手，在接收新的成像参数后写入RAM中；在无新成像参数时，将三个RAM中的成像参数进行比较，将不一致的RAM内的数据进行相同修改。控制器并根据摄像任务间隔时间的长短，选择定时给成像单元发送成像参数；或将探测器下电后重新上电再发成像参数；或整个焦面下电后再上电，探测器上电后再发成像参数。
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公开(公告)号：CN116524328B
公开(公告)日：2023-09-15
申请号：CN202310773052.1
申请日：2023-06-28
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G06V10/82 , G06N3/0464 , G06N3/08 , G06V10/774 , G06V10/80
Abstract: 本发明涉及目标识别技术领域，尤其涉及一种基于改进的轻量化网络的目标识别方法及系统。方法包括：拍摄图像作为数据集，按比例划分训练集和测试集；对所述训练集进行正则化处理；构建基于轻量化网络的多尺度特征检测网络，使特征图经过3个FLN Layer提取特征后，上采样或下采样、拼接，再经过SPP层；构建SIOULOSS损失函数；初始化模型参数；通过所述数据集对所述FLN模型进行多轮训练，每轮训练中按照所述SIOULOSS损失函数计算损失值，训练迭代直至损失值趋于稳定；经过推理量化最终得到预期的模型文件；将待测图片输入训练好的FLN模型中，进行识别与检测。优点在于：模型尺寸小，识别精度和效率高。
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公开(公告)号：CN116524328A
公开(公告)日：2023-08-01
申请号：CN202310773052.1
申请日：2023-06-28
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G06V10/82 , G06N3/0464 , G06N3/08 , G06V10/774 , G06V10/80
Abstract: 本发明涉及目标识别技术领域，尤其涉及一种基于改进的轻量化网络的目标识别方法及系统。方法包括：拍摄图像作为数据集，按比例划分训练集和测试集；对所述训练集进行正则化处理；构建基于轻量化网络的多尺度特征检测网络，使特征图经过3个FLN Layer提取特征后，上采样或下采样、拼接，再经过SPP层；构建SIOULOSS损失函数；初始化模型参数；通过所述数据集对所述FLN模型进行多轮训练，每轮训练中按照所述SIOULOSS损失函数计算损失值，训练迭代直至损失值趋于稳定；经过推理量化最终得到预期的模型文件；将待测图片输入训练好的FLN模型中，进行识别与检测。优点在于：模型尺寸小，识别精度和效率高。
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公开(公告)号：CN113452939B
公开(公告)日：2022-05-10
申请号：CN202110727790.3
申请日：2021-06-29
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: TDICMOS滚动行周期下成像效果评估方法，涉及TDICMOS成像效果评估技术领域，首先根据不同行周期下得到的电荷转移信号跳变沿位置，统计出各驱动信号的高电平起始和结束位置及在一个行周期内同一个驱动信号出现上升沿或下降沿的次数；然后逐个电荷转移信号进行上升和下降沿位置的比较，重新计算上升沿位置；接着计算每次电荷转移的质心位置等于上升和下降沿位置之和；计算出各步骤下的质心之间的间距；最后根据电荷转移的相数和对应行周期下的各质心的间距计算得到当前的动态传递函数值。本发明通过上升和下降沿的相对位置判断，可以方便进行质心位置的计算，避免冗余转换而出现的错误。
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公开(公告)号：CN113141478B
公开(公告)日：2022-03-22
申请号：CN202110427649.1
申请日：2021-04-21
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 一种可控的串行图像数据动态校正训练方法，涉及一种CMOS图像传感器的校正方法，解决现有技术中进行图像数据校正训练时，易出现温度变化引起图像变模糊，以及进行重新的位校正导致字校正和通道校正错误等问题，本发明提出基于温度传感器的可选查找表训练方法，首先在不同的工作温度下对探测器进行训练，检测出最佳的采样位置、字校正位置和通道校正位置；通过多次的训练，判断出不同温度下的最佳采样位置，然后将各训练参数进行存储。开机摄像采用训练的方式，而在摄像阶段采用查找表的方式进行训练参数替换。
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