公开(公告)号：CN101860502B

公开(公告)日：2016-01-27

申请号：CN201010148712.X

申请日：2010-04-14

Applicant: 中国科学院计算技术研究所

Inventor： 王剑 ,  黄守俊 ,  周恩 ,  刘来增 ,  寇振涛 ,  张秀丽 ,  王佩 ,  石晶林

IPC: H04L25/03 ,  H04L27/26 ,  H04L5/14 ,  H04L1/00

Abstract: 本发明提供一种检测LTE系统双工方式的方法和装置，其中，下采样器对基带数字信号进行下采样；延时归一化自相关器对经过下采样的基带数字信号进行延时归一化自相关；双工方式检测器根据所述基带数字信号延时归一化自相关的峰值特征来检测LTE系统的双工方式。通过应用本发明，基于LTE标准的帧结构的特征并经过简单的运算，可以实现快捷、准确的双工方式的检测。

公开(公告)号：CN101938329B

公开(公告)日：2013-01-02

申请号：CN201010267934.3

申请日：2010-08-30

Applicant: 中国科学院计算技术研究所

Inventor： 王剑 ,  何莹 ,  寇振涛 ,  彭吉生 ,  石晶林

IPC: H04L1/00 ,  H04L25/03 ,  H04L25/02

Abstract: 本发明公开了产生LTE PRACH基带信号的方法及系统，方法包括：步骤1，依据LTE协议规定计算出LTE PRACH基带信号产生所需的参数；步骤2，计算前导序列的DFT序列的相位值，依次写入频域信号相位缓存中，写入NZC个相位值后执行步骤3；步骤3，依据前导格式配置不包含倒序的IFFT运算的长度为NIFFT，组数为a，进行a次不包含倒序的NIFFT点的IFFT运算；步骤4，从基带信号缓存中读取数据发送循环前缀和全部的序列部分，完成后将频域信号相位缓存和基带信号缓存清零。本发明能够降低LTE PRACH基带信号产生过程中高点数IDFT所需的复数乘法与复数加法次数。

公开(公告)号：CN101938329A

公开(公告)日：2011-01-05

申请号：CN201010267934.3

申请日：2010-08-30

Applicant: 中国科学院计算技术研究所

Inventor： 王剑 ,  何莹 ,  寇振涛 ,  彭吉生 ,  石晶林

IPC: H04L1/00 ,  H04L25/03 ,  H04L25/02

Abstract: 本发明公开了产生LTE PRACH基带信号的方法及系统，方法包括：步骤1，依据LTE协议规定计算出LTE PRACH基带信号产生所需的参数；步骤2，计算前导序列的DFT序列的相位值，依次写入频域信号相位缓存中，写入NZC个相位值后执行步骤3；步骤3，依据前导格式配置不包含倒序的IFFT运算的长度为NIFFT，组数为a，进行a次不包含倒序的NIFFT点的IFFT运算；步骤4，从基带信号缓存中读取数据发送循环前缀和全部的序列部分，完成后将频域信号相位缓存和基带信号缓存清零。本发明能够降低LTE PRACH基带信号产生过程中高点数IDFT所需的复数乘法与复数加法次数。

公开(公告)号：CN101860502A

公开(公告)日：2010-10-13

申请号：CN201010148712.X

申请日：2010-04-14

Applicant: 中国科学院计算技术研究所

Inventor： 王剑 ,  黄守俊 ,  周恩 ,  刘来增 ,  寇振涛 ,  张秀丽 ,  王佩 ,  石晶林

IPC: H04L25/03 ,  H04L27/26 ,  H04L5/14 ,  H04L1/00

Abstract: 本发明提供一种检测LTE系统双工方式的方法和装置，其中，下采样器对基带数字信号进行下采样；延时归一化自相关器对经过下采样的基带数字信号进行延时归一化自相关；双工方式检测器根据所述基带数字信号延时归一化自相关的峰值特征来检测LTE系统的双工方式。通过应用本发明，基于LTE标准的帧结构的特征并经过简单的运算，可以实现快捷、准确的双工方式的检测。