公开(公告)号：CN101860502B

公开(公告)日：2016-01-27

申请号：CN201010148712.X

申请日：2010-04-14

Applicant: 中国科学院计算技术研究所

Inventor： 王剑 ,  黄守俊 ,  周恩 ,  刘来增 ,  寇振涛 ,  张秀丽 ,  王佩 ,  石晶林

IPC: H04L25/03 ,  H04L27/26 ,  H04L5/14 ,  H04L1/00

Abstract: 本发明提供一种检测LTE系统双工方式的方法和装置，其中，下采样器对基带数字信号进行下采样；延时归一化自相关器对经过下采样的基带数字信号进行延时归一化自相关；双工方式检测器根据所述基带数字信号延时归一化自相关的峰值特征来检测LTE系统的双工方式。通过应用本发明，基于LTE标准的帧结构的特征并经过简单的运算，可以实现快捷、准确的双工方式的检测。

公开(公告)号：CN101860502A

公开(公告)日：2010-10-13

申请号：CN201010148712.X

申请日：2010-04-14

Applicant: 中国科学院计算技术研究所

Inventor： 王剑 ,  黄守俊 ,  周恩 ,  刘来增 ,  寇振涛 ,  张秀丽 ,  王佩 ,  石晶林

IPC: H04L25/03 ,  H04L27/26 ,  H04L5/14 ,  H04L1/00

Abstract: 本发明提供一种检测LTE系统双工方式的方法和装置，其中，下采样器对基带数字信号进行下采样；延时归一化自相关器对经过下采样的基带数字信号进行延时归一化自相关；双工方式检测器根据所述基带数字信号延时归一化自相关的峰值特征来检测LTE系统的双工方式。通过应用本发明，基于LTE标准的帧结构的特征并经过简单的运算，可以实现快捷、准确的双工方式的检测。